比吸收率和最大允许暴露减轻制造技术

本发明专利技术提供了用于执行适应在多个频带中操作的辐射暴露监测的系统。WTRU可被配置为通过确定评估周期内的平均功率来监测辐射暴露。可在移动平均窗口内测量辐射。可将平均测量功率与可依据以dB为单位的归一化分数或比率来定义的SAR或MPE限值进行比较。WTRU可被配置为周期性地和/或响应于触发来测量平均功率。周期性地和/或响应于触发来测量平均功率。周期性地和/或响应于触发来测量平均功率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】比吸收率和最大允许暴露减轻
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求2019年10月1日提交的美国临时专利申请号62/908,998和2019年11月5日提交的美国临时专利申请号62/930,737的权益，这些临时专利申请的内容以引用方式并入本文。

技术介绍

[0003]无线通信设备可经由各种接入网络与其他设备和数据网络建立通信。例如，无线通信设备可经由3GPP无线接入网络(RAN)建立通信。无线通信设备可接入3GPP网络，以便与其他无线设备通信并接入与3GPP RAN通信耦合的数据网络。

技术实现思路

[0004]本文公开了与比吸收率(SAR)和最大允许暴露(MPE)法规要求相关联的系统、方法和仪器。WTRU可生成报告和/或向网络实体发送报告。报告可包括与WTRU相关联的功率密度信息。
[0005]WTRU可确定占空比，该占空比可以是例如参考占空比。WTRU可确定功率密度值(例如，与SAR和/或MPE相关联，而SAR和/或MPE与WTRU相关联)。功率密度值可以是功率密度阈值。功率密度值可以是MPE值。WTRU可确本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种方法，包括：由无线发射和接收单元(WTRU)确定占空比；由所述WTRU确定功率密度值；由所述WTRU确定与所述占空比相关联的测量功率密度；由所述WTRU确定所述测量功率密度满足所述功率密度值的阈值分数；以及生成与所述测量功率密度满足所述功率密度值的所述阈值分数的确定结果相关联的报告。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述功率密度值是功率密度阈值。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量功率密度与在一个时间段内进行的测量相关联。4.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述功率密度值包括确定最大允许暴露(MPE)。5.根据权利要求1所述的方法，其中所述报告指示可用功率密度。6.根据权利要求5所述的方法，其中所述可用功率密度被指示为所述功率密度值的分数。7.根据权利要求1所述的方法，还包括：由所述WTRU传输所述报告；由所述WTRU启动定时器；如果所述WTRU在所述定时器达到阈值之前接收到确认，则应用修改配置；以及如果所述定时器达到所述阈值，则由所述WTRU执行功率降低。8.根据权利要求7所述的方法，还包括：由所述WTRU从网络设备接收所述修改配置。9.根据权利要求7所述的方法，其中应用所述修改配置从传输所述报告延迟一个时间段。10.一种无线发射接收...

【专利技术属性】
技术研发人员：维吉尔，
申请(专利权)人：IDAC控股公司，
类型：发明
国别省市：