用于验证自动光学检查的检测能力的方法和显示面板技术

提供了一种显示面板和一种用于验证自动光学检查的检测能力的方法，所述显示面板包括：基底，包括显示区域和外围区域，在显示区域中设置有用于显示的元件；以及检查元件组，设置在基底的外围区域中，其中，检查元件组包括重复设置的缺陷。重复设置的缺陷。重复设置的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
用于验证自动光学检查的检测能力的方法和显示面板
[0001]本申请要求于2020年11月19日提交的第10
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2020
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0155672号韩国专利申请的优先权和由其产生的所有权益，该韩国专利申请的内容通过引用全部包含于此。


[0002]本公开涉及一种用于验证自动光学检查的检测能力的方法和一种包括用于其的检查元件组的显示面板，更具体地，涉及一种用于验证自动光学检查的检测能力的方法和一种包括用于其的检查元件组的显示面板，其可以验证在制造显示面板时光学检查每个图案层是否正常的自动光学检查的检测能力。

技术介绍

[0003]为了制造诸如液晶显示器(“LCD”)、有机发光二极管(“OLED”)显示器和量子点(“QD”)显示器的平板显示装置，可以在基底上形成导电层图案、绝缘膜图案和半导体膜图案的多层。每个图案层通过诸如光刻的方法形成，并且在这种情况下，图案的尺寸非常精细，使得在其形成工艺期间可能出现缺陷，因此期望通过针对缺陷的检查来快速滤除缺陷。为此，使用自动光学检查方法。
[0004]自动光学检查方法是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，所述显示面板包括：基底，包括显示区域和外围区域，在所述显示区域中设置有用于显示的元件；以及检查元件组，设置在所述基底的所述外围区域中，其中，所述检查元件组包括重复设置的缺陷。2.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述检查元件组设置在其中设置有所述外围区域的密封剂的区域中。3.根据权利要求2所述的显示面板，其中，包括在所述检查元件组中的所述缺陷包括岛、开口、短路和针孔中的至少一个。4.根据权利要求3所述的显示面板，其中，其中设置有所述密封剂的所述区域具有拥有四条边的矩形的环形形状，并且所述检查元件组设置在其中设置有所述密封剂的所述区域的所述四条边中的一条边上。5.根据权利要求3所述的显示面板，其中，其中设置有所述密封剂的所述区域具有拥有四条边的矩形的环形形状，并且所述检查元件组形成在其中设置有所述密封剂的所述区域的全部所述四条边上。6.一种用于验证自动光学检查的检测能力的方法，所述方法包括：在母板上形成检查元件组和多个显示面板区域，所述检查元件组包括多个缺陷；通过针对所述检查元件组的光学扫描来执行自动光学检查；检验包括在所述检查元件组中...

【专利技术属性】
技术研发人员：李裕镇，李律圭，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：