一种光束质量分析仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光束质量分析仪，涉及光束质量分析领域,包括箱体，所述箱体的一侧的上方设置有入光口，入光口的一侧设置有衰减板，所述衰减板上设置有多组衰减盘，箱体在入光口的一侧通过上棱镜支杆和上棱镜撑板设置有上棱镜，箱体在上棱镜的下方通过下棱镜左撑杆和下棱镜右撑杆设置有与上棱镜正交的下棱镜，箱体的底端通过感光板支架设置有感光板。本实用新型专利技术设置不同平面上的正交的两组直角棱镜，使棱镜可以微调入射光线的角度，提高了检测精度，节约了检测成本，设置通过电机带动可自动更换衰减板的衰减板转盘，在入射光线过强可会对检测探头造成损伤的前提下可通过控制面板对衰减板进行更换，不必拆开装置，提高了仪器的工作效率。高了仪器的工作效率。高了仪器的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光束质量分析仪


[0001]本技术涉及光束质量分析领域，具体为一种光束质量分析仪。

技术介绍

[0002]常用的光束质量的定义包括:远场光斑半径、远场发散角、衍射极限倍数U、斯特列尔比、M2因子、靶面上的功率或环围能量比等,光束质量分析仪是一种用于物理学领域的分析仪器。
[0003]现有的光束质量分析仪器对光束进行分析需要一个可精准移动的工作台，通过工作台的移动来使入射光线以直射角度照射在检测探头上，结构复杂、校准效率低、使用成本较高，对不同功率的入射光还需手动更换不同的衰减片，费时费力，工作效率低。

技术实现思路

[0004]基于此，本技术的目的是提供一种光束质量分析仪，以解决现有的光束质量分析仪结构复杂、校准效率低、使用成本较高，对不同功率的入射光还需手动更换不同的衰减片，费时费力，工作效率低的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种光束质量分析仪,包括箱体，所述箱体的一侧的上方设置有入光口，所述入光口的一侧设置有入光口凹槽，所述入光口凹槽内安装有感光环，所述入光口的一侧设置有旋转电机，所述旋转电机通过衰减板支杆转动连接有衰减板，所述衰减板上设置有多组衰减盘，所述衰减盘内开有通口，所述衰减盘朝向入光口一侧的通口外部贴有反光片，所述箱体在入光口的一侧通过上棱镜支杆和上棱镜撑板设置有上棱镜，所述上棱镜的一端连接有上齿盘，所述箱体在上齿盘的一侧通过上伺服电机撑板设置有上伺服电机，所述上伺服电机的输出端朝向上齿盘并与上齿盘的上齿盘槽内的齿相啮合，所述箱体在上棱镜的下方通过下棱镜左撑杆和下棱镜右撑杆设置有与上棱镜正交的下棱镜，所述下棱镜的一端连接有下齿盘，所述箱体在下齿盘的一侧通过下伺服电机撑板设置有下伺服电机，所述下伺服电机的输出端朝向下齿盘并与下齿盘的下齿盘槽内的齿相啮合，所述箱体的底端通过感光板支架设置有感光板，在所述感光板的后方设置有检测探头。
[0006]通过采用上述技术方案，设置不同平面上的正交的两组直角棱镜，通过伺服电机带动齿盘转动，以及感光面板的反馈，使棱镜可以微调入射光线的角度，让入射光线直射在检测探头上，提高了检测精度，节约了检测成本，设置通过电机带动可自动更换衰减板的衰减板转盘，在入射光线过强可会对检测探头造成损伤的前提下可通过控制面板对衰减板进行更换，不必拆开装置，提高了仪器的工作效率。
[0007]本技术进一步设置为，所述箱体的外侧设置有控制面板，所述箱体的底端连接有多组螺栓，所述螺栓的底端转动连接有地脚。
[0008]通过采用上述技术方案，通过控制面板可便捷的操作仪器，通过控制地脚内的螺栓伸长量控制装置处于水平状态。
[0009]本技术进一步设置为，所述上棱镜支杆的末端连接有两组向上的上棱镜右撑杆，所述上棱镜右撑杆的顶端连接有上棱镜右转盘，所述上棱镜右转盘的中心朝向上棱镜设置有上棱镜转轴，所述上棱镜撑板通过上棱镜左撑杆连接有上棱镜左转盘，所述上棱镜左转盘的中心朝向上棱镜也设置有上棱镜转轴。
[0010]通过采用上述技术方案，上棱镜左转盘和上棱镜右转盘内皆设置有轴承，为上棱镜的旋转提供支撑。
[0011]本技术进一步设置为，所述下棱镜左撑杆的顶端连接有下棱镜左转盘，所述下棱镜左转盘的中心朝向下棱镜连接有下棱镜转轴，所述下棱镜右撑杆顶端连接有下棱镜右转盘，所述下棱镜右转盘的中心朝向下棱镜也设置有下棱镜转轴。
[0012]通过采用上述技术方案，上棱镜左转盘和上棱镜右转盘内皆设置有轴承，为上棱镜的旋转提供支撑。
[0013]综上所述，本技术主要具有以下有益效果：
[0014]1、本技术通过设置不同平面上的正交的两组直角棱镜，通过伺服电机带动齿盘转动，以及感光面板的反馈，使棱镜可以微调入射光线的角度，让入射光线直射在检测探头上，提高了检测精度，节约了检测成本；
[0015]2、本技术通过设置通过电机带动可自动更换衰减板的衰减板转盘，在入射光线过强可会对检测探头造成损伤的前提下可通过控制面板对衰减板进行更换，不必拆开装置，提高了仪器的工作效率。
附图说明
[0016]图1为本技术的俯视内视图；
[0017]图2为本技术的图1中A的放大图；
[0018]图3为本技术的图1中B的放大图；
[0019]图4为本技术的正视内视图；
[0020]图5为本技术的侧视内视图；
[0021]图6为本技术的图5中C的放大图。
[0022]图中：1、箱体；2、上棱镜；3、下棱镜；4、入光口；5、入光口凹槽；6、感光环；7、旋转电机；8、衰减板支杆；9、衰减板；10、衰减盘；11、通口；12、反光片；13、上棱镜支杆；14、上棱镜右撑杆；15、上棱镜右转盘；16、上棱镜转轴；17、上棱镜撑板；18、上棱镜左撑杆；19、上棱镜左转盘；20、上齿盘；21、上齿盘槽；22、上伺服电机撑板；23、上伺服电机；24、下棱镜左撑杆；25、下棱镜左转盘；26、下棱镜转轴；27、下棱镜右撑杆；28、下棱镜右转盘；29、下齿盘；30、下齿盘槽；31、下伺服电机撑板；32、下伺服电机；33、感光板支架；34、感光板；35、检测探头；36、控制面板；37、螺栓；38、地脚。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0024]下面根据本技术的整体结构，对其实施例进行说明。
[0025]一种光束质量分析仪，如图1
‑
6所示，包括箱体1，箱体1的一侧的上方设置有入光口4，入光口4的一侧设置有入光口凹槽5，入光口凹槽5内安装有感光环6，感光环6可感应反光片12反射的光，从而为旋转电机7提供旋转指令，入光口4的一侧设置有旋转电机7，旋转电机7通过衰减板支杆8转动连接有衰减板9，衰减板9上设置有多组衰减盘10，衰减盘10内开有通口11，衰减盘10朝向入光口一侧的通口11外部贴有反光片12，箱体1在入光口4的一侧通过上棱镜支杆13和上棱镜撑板17设置有上棱镜2，上棱镜2的一端连接有上齿盘20，箱体1在上齿盘20的一侧通过上伺服电机撑板22设置有上伺服电机23，上伺服电机23的输出端朝向上齿盘20并与上齿盘20的上齿盘槽21内的齿相啮合，通过上伺服电机23的转动使上棱镜2转动，调整光线在Y轴平面内的角度，箱体1在上棱镜2的下方通过下棱镜左撑杆24和下棱镜右撑杆27设置有与上棱镜2正交的下棱镜3，下棱镜3的一端连接有下齿盘29，箱体1在下齿盘29的一侧通过下伺服电机撑板31设置有下伺服电机32，下伺服电机32的输出端朝向下齿盘29并与下齿盘29的下齿盘槽30内的齿相啮合，通过下伺服电机32的转动使下棱镜3转动，调整光线在X轴平面内的角度，箱体1的底端通过感光板支架33设置有感光板34，在感光板34的后方设置有检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光束质量分析仪，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)的一侧的上方设置有入光口(4)，所述入光口(4)的一侧设置有入光口凹槽(5)，所述入光口凹槽(5)内安装有感光环(6)，所述入光口(4)的一侧设置有旋转电机(7)，所述旋转电机(7)通过衰减板支杆(8)转动连接有衰减板(9)，所述衰减板(9)上设置有多组衰减盘(10)，所述衰减盘(10)内开有通口(11)，所述衰减盘(10)朝向入光口一侧的通口(11)外部贴有反光片(12)，所述箱体(1)在入光口(4)的一侧通过上棱镜支杆(13)和上棱镜撑板(17)设置有上棱镜(2)，所述上棱镜(2)的一端连接有上齿盘(20)，所述箱体(1)在上齿盘(20)的一侧通过上伺服电机撑板(22)设置有上伺服电机(23)，所述上伺服电机(23)的输出端朝向上齿盘(20)并与上齿盘(20)的上齿盘槽(21)内的齿相啮合，所述箱体(1)在上棱镜(2)的下方通过下棱镜左撑杆(24)和下棱镜右撑杆(27)设置有与上棱镜(2)正交的下棱镜(3)，所述下棱镜(3)的一端连接有下齿盘(29)，所述箱体(1)在下齿盘(29)的一侧通过下伺服电机撑板(31)设置有下伺服电机(32)，所述下伺服电机(32)的输出端朝向下齿盘(29)并与下...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖志宏，
申请(专利权)人：日禺光学科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：