一种基于烧录芯片的盖带拉力检测装置制造方法及图纸

技术编号:33608234 阅读:76 留言:0更新日期:2022-06-01 23:45
本实用新型专利技术提供一种基于烧录芯片的盖带拉力检测装置,涉及烧录芯片盖带拉力检测技术领域,包括检测器、控制箱和支撑板,控制箱固定安装在检测器的顶部,支撑板固定安装在检测器的顶部,支撑板设置在控制箱侧方,检测器的内部固定安装有升降机,升降机的顶部活动安装有螺纹杆。通过设置有升降机,将升降机安装在检测器的内部,并在升降机的顶部活动安装有螺纹杆,且将其贯穿于检测器的顶部和控制箱的顶部,在其外壁螺纹活动连接安装有升降滑块,在控制箱的内部安装有导杆,通过将升降滑块的一侧与导杆外壁活动连接,另外在升降滑块的另一侧固定安装有夹持板,在夹持板的内侧安装有夹板二,从而方便了通过夹板二与其配合将需要检测的盖带夹持住。测的盖带夹持住。测的盖带夹持住。

【技术实现步骤摘要】
一种基于烧录芯片的盖带拉力检测装置


[0001]本技术涉及烧录芯片盖带拉力检测
,尤其涉及一种基于烧录芯片的盖带拉力检测装置。

技术介绍

[0002]厂商从半导体商买来上述各种可烧录IC其资料区为空白,在组装前才将其最新版的控制程序及数据使用IC烧录器写入,这是一比IC测试还重要的必要流程,一般都由最终电子产品制造者来执行完成,也是很少被提出来探讨的领域。
[0003]但是现有的烧录芯片的盖带拉力检测装置由于其设计较为简单,结构单一,因此在对烧录芯片的盖带进行拉力检测时所生产的效果较差,拉力检测效果不够明显,需要多次反复检测操作等,从而容易造成检测效率下降的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在烧录芯片的盖带拉力检测装置由于其设计较为简单,结构单一,因此在对烧录芯片的盖带进行拉力检测时所生产的效果较差,拉力检测效果不够明显,需要多次反复检测操作等,从而容易造成检测效率下降的问题,而提出的一种基于烧录芯片的盖带拉力检测装置。
[0005]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于烧录芯片的盖带拉力检测装置,包括检测器(1)、控制箱(101)和支撑板(102),其特征在于:所述控制箱(101)固定安装在检测器(1)的顶部,所述支撑板(102)固定安装在检测器(1)的顶部,所述支撑板(102)设置在控制箱(101)侧方,所述检测器(1)的内部固定安装有升降机(2),所述升降机(2)的顶部活动安装有螺纹杆(201),所述螺纹杆(201)的外壁螺纹连接有升降滑块(202),所述控制箱(101)的内部固定安装有导杆(203),所述升降滑块(202)的一侧活动连接与导杆(203)的外壁,所述升降滑块(202)的另一侧固定连接有夹持板(204),所述夹持板(204)的内侧对称活动安装有两个夹板二(307)。2.根据权利要求1所述的基于烧录芯片的盖带拉力检测装置,其特征在于:所述支撑板(102)的顶部对称设置有两个主夹持机(3),所述主夹持机(3)的内侧活动安装有夹持杆一(301),所述夹持杆一(301)的一端固定连接有夹板一(...

【专利技术属性】
技术研发人员:张风歌
申请(专利权)人:苏州德爱思电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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