用于低温测温的荧光粉及其制备方法与应用技术

本发明专利技术公开了用于低温测温的荧光粉及其制备方法与应用。所述荧光粉可基于荧光强度比值和荧光寿命的双模式进行测量温度，其化学式为NaGd

【技术实现步骤摘要】
用于低温测温的荧光粉及其制备方法与应用


[0001]本专利技术涉及荧光材料
，具体涉及一种用于低温测温的荧光粉及其制备方法与应用。

技术介绍

[0002]温度作为一个基本物理参数，在诸多领域都起着至关重要的作用，如物理、化学及生理学领域，实现高精准温度传感便成为了全世界各国科研工作者的研究热点。近年来，非接触式光学温度计由于自身具有响应时间短、灵敏度高等优点逐渐在温度传感领域崭露头角。在这其中，稀土掺杂发光材料由于其自身化学性质稳定，生物毒害性低，发光性质优良等特性而备受青睐。其中，基于稀土发光材料荧光强度比和荧光寿命的测温技术凭借其响应时间短，灵敏度高且不易受到外界环境干扰等特性脱颖而出。为了更好地满足临床医学等领域对于精准测温的需求，提高测温材料的灵敏度及其组织穿透深度将成为必然的发展趋势近年来。
[0003]荧光强度比(FIR)技术是一种通过荧光强度比值来测定温度的光温度测试技术，相比其他测温技术具有更高的准确度和检测范围，在光学测温领域有很大的应用前景。
[0004]综上所述，如何研发一种新的荧光材料，使得其能够在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于低温测温的荧光粉，其特征在于，所述荧光粉可基于荧光强度比值和荧光寿命的双模式进行测量温度，其化学式为NaGd
0.73
Yb
0.2
Er
0.02
Zn
0.05
F4。2.如权利要求1所述的用于低温测温的荧光粉，其特征在于，所述温度的测温范围为75K到297K。3.如权利要求1所述的用于低温测温的荧光粉，其特征在于，所述荧光粉基于荧光强度的比值与测试温度时间的关系的荧光强度比值拟合公式为：其中，FIR为荧光强度比值；I
U
为525nm绿光衍射峰的荧光带积分值；I
S
为550nm绿光衍射峰的荧光带积分值；A为Er
3+
离子能级简并度、基质声子能量和自发辐射速率相关的常数，ΔE是两能级之间的间距，K为玻尔兹曼常数，T为卡尔文温度。4.如权利要求1所述的用于低温测温的荧光粉，其特征在于，所述荧光粉基于荧光寿命与测试温度时间的关系的比值拟合公式为：其中，τ(T)为测试温度T时，样品的荧光寿命，τ0为温度为0K时，荧光粉样品的荧光寿命。5.如权利要求4所述的用于低温测温的荧光粉，其特征在于，所述荧光粉的寿命Er
3+
离子在657nm红光发射峰的荧光寿命。6.一种制备权利要求1
‑
5中任一所述荧...

【专利技术属性】
技术研发人员：银秀菊，谢婉莹，黄秀香，赖红芳，张鹏，
申请(专利权)人：河池学院，
类型：发明
国别省市：