一种激光探测线性自动校准装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种激光探测线性自动校准装置，其包括：稳定激光束、准直缩束光学系统、电控渐变衰减器、多片固定倍率电控衰减器、微反射镜阵列、被校探测器、标准探测器、电脑控制端，稳定激光束经准直缩束光学系统输出准直小口径激光束，经电控渐变衰减器以及多片固定倍率电控衰减器，照射到微反射镜阵列上；微反射镜阵列设置控制全开时，即由电脑控制端输出全白图像，激光束反射到被校探测器；微反射镜阵列设置控制全关时，即由电脑控制端输出全黑图像，激光束反射到标准探测器。本发明专利技术可实现120dB范围内的细微步长的探测线性自动校准，具有广泛的应用前景。具有广泛的应用前景。具有广泛的应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种激光探测线性自动校准装置


[0001]本专利技术属于光电测量及计量
，涉及一种激光探测线性自动校准装置。

技术介绍

[0002]随着激光技术的快速发展，激光在工业加工、通信、医疗、国防等领域都得到了广泛应用。特别是将激光作为探测光束的应用相当广泛，如激光测距、激光制导、激光跟踪和激光告警等相关的军用激光仪器与武器在现代战争中显示了突出的优越性。而激光探测器灵敏度高、响应速度快，在发现信号、测量信号过程中起到至关重要的作用，是这些仪器与武器的“眼睛”，其性能优劣将影响整个探测系统的性能。
[0003]激光探测器朝着大动态范围、低噪声、低最小可探测功率、大靶面、大规模阵列发展，其光电响应性能是激光探测器的重要指标，也是激光能量/功率物理量测量准确性的关键参数，其准确性影响测量量值的准确，也是衡量激光探测器性能优劣的关键指标。
[0004]目前商用激光能量计可到pJ级，然而激光探测器的最小可探测激光能量已低至fJ级别。常用线性标定的方法来向下传递量值，主要是衰减法及面积法。衰减法是采用定倍率衰减，一级一级向下量传，每一级引入本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光探测线性自动校准装置，其特征在于，包括：稳定激光束(1)、准直缩束光学系统(2)、电控渐变衰减器(3)、多片固定倍率电控衰减器(4)、微反射镜阵列(5)、被校探测器(6)、标准探测器(7)、电脑控制端(8)，稳定激光束(1)经准直缩束光学系统(2)输出准直小口径激光束，经电控渐变衰减器(3)以及多片固定倍率电控衰减器(4)，照射到微反射镜阵列(5)上；微反射镜阵列(5)设置控制全开时，即由电脑控制端(8)输出全白图像，激光束反射到被校探测器(7)；微反射镜阵列(5)设置控制全关时，即由电脑控制端(8)输出全黑图像，激光束反射到标准探测器(6)。2.如权利要求1所述的激光探测线性自动校准装置，其特征在于，所述电控渐变衰减器(3)产生30dB连续衰减调节。3.如权利要求2所述的激光探测线性自动校准装置，其特征在于，所述固定倍率电控衰减器(4)包括五片20dB衰减递增的衰减片，最大衰减为100dB。4.如权利要求1所述的激光探测线性自动校准装置，其特征在于，所述微反射镜阵列(5)选择靶面小于8mm，分辨率1024
×
760。5.如权利要求4所述的激光探测线性自动校准装置，其特征在于，所述微反射镜阵列(5)中，每个微镜单元包含反射镜，反射镜采用铝制平面镜，在可见光波段和红外波段高反。6.如权利要求5所述的激光探测线性自动校准装置，其特征在于，所述微反射镜阵列(5)中，反射镜沿着对角线方向翻转，翻转角度为+12
°
和
‑
12
°
，分别代表着“开”和“关”状态。7.一种激光探测线性自动校准方法，其特征在于，基于权利要求6所述的激光探测线性自动校准装置进行校准，由电脑控制端(8)根据校准量程控制多片固定倍率电控衰减器(4)，输出被校量程激光束最大值；再控制电控渐变衰减器(3)在量程中进行细分；微反射镜阵列(5)设置控制全开，电脑控制端(8)读取被校探测器(7)测量激光能量值Q1，微反射镜阵列(5)设置控制全关，电脑控制端(8)读取标准探测器...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊红英，王成城，王询，马利国，欧阳刚，蒋泽伟，孟庆安，张浩，
申请(专利权)人：西南技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：