用于控制数据存储装置温度的方法和系统制造方法及图纸

提供了用于控制数据存储装置温度的方法和系统。公开了用于控制数据存储装置的操作温度的方法。为存储装置设置阈值温度。在数据存储装置的操作期间，在多个时间点处随时间测量存储装置的操作温度。由此获得作为时间的函数的多个温度测量值。随时间对高于阈值的温度测量值进行累积以形成高温累积值(V

【技术实现步骤摘要】
用于控制数据存储装置温度的方法和系统


[0001]本专利技术涉及数据存储装置中的温度控制。具体地，本专利技术涉及平衡诸如硬盘驱动器的数据存储装置中的性能和冷却要求。

技术介绍

[0002]诸如硬盘驱动器的数据存储装置通常对它们可以承受的温度、外部操作以及操作期间的温度都有限制。当存储装置未操作而只是简单存储时，允许的温度范围通常大于操作期间，并且存储装置的实际温度基本上由环境温度控制。
[0003]硬盘驱动器的允许操作温度范围通常为0
‑
60℃或0
‑
70℃。固态驱动器具有类似的允许操作温度范围。除了环境温度之外，存储装置在操作期间的实际温度还受存储装置上的工作负荷和冷却活动(诸如风扇操作)的控制。操作温度范围的限制通常被设置为使得在存储装置的期望或预期寿命期间能够保持可靠操作。存储装置的可靠性或耐用性可以根据MTBF(即平均故障间隔时间)来确定。因此，最小和最大操作温度可以被设置为使得确保足够长的MTBF。在操作期间，最小操作温度实际上没有限制，因为存储装置一启动就会产生热量。最大操作温度将是更为重本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种控制数据存储装置的操作温度的方法，所述方法包括以下步骤：为所述存储装置设置阈值温度；在所述数据存储装置的操作期间，在多个时间点处随时间测量所述存储装置的操作温度，从而获得作为时间的函数的多个温度测量值；随时间对高于阈值的温度测量值进行累积，以形成高温累积值；随时间对低于阈值的温度测量值进行累积，以形成低温累积值；将所述低温累积值与所述高温累积值进行比较；以及如果所述比较的结果是所述高温累积值相对于所述低温累积值太高，则启动操作温度降低动作。2.根据权利要求所述1的方法，其中，所述操作温度降低动作是来自启动冷却布置、提高所述冷却布置的性能或降低所述数据存储装置的性能的组中的至少一个。3.根据权利要求所述1的方法，进一步包括：如果所述比较的所述结果是所述低温累积值相对于所述高温累积值足够大，则提高所述数据存储装置的性能。4.根据权利要求所述1的方法，其中所述高温累积值是通过计算高于所述阈值温度的温度测量值作为时间的函数的第一积分被形成，所述低温累积值是通过计算低于所述阈值温度的温度测量值作为时间的函数的第二积分吧形成，并且其中，将所述低温累积值与所述高温累积值进行比较是通过计算所述低温累积值与所述高温累积值的比率被完成。5.根据权利要求所述1的方法，其中，累积和比较的所述步骤包括：启动计时器，如果所测量的温度在第一时间点处高于所述阈值温度，则与所测量的温度高于所述阈值温度的度数成比例地递增计数器；如果所测量的温度在所述第一时间点处低于所述阈值温度，则与所测量的温度低于所述阈值温度的度数成比例地递减所述计数器；以及所述比较的所述结果是如果所述计数器超过预定的阈值计数器值，则所述高温累积值相对于所述低温累积值太高。6.根据权利要求所述1的方法，进一步包括：将所测量的操作温度与最大允许温度进行比较，所述最大允许温度高于所述阈值温度；以及如果所测量的操作温度高于所述最大允许温度，则启动操作温度降低动作。7.根据权利要求所述1的方法，进一步包括：测量从当所测量的操作温度从高于所述阈值温度变为低于所述阈值温度时的第一时间点到当所测量的操作温度下一次从低于所述阈值温度变为高于所述阈值温度时的第二时间点的第一时间间隔；将所述第一时间间隔与预定的最小时间间隔进行比较；以及如果所述第一时间间隔比所述预定的最小时间间隔短，则发出可能需要进一步的操作
温度降低动作的指示。8.根据权利要求所述1的方法，进一步包括：监测所述存储装置的操作中的错误；以及基于错误的发生，调整所述阈值温度或所述操作温度降低动作中的至少一个。9.一种用于控制数据存储装置的操作温度的温度控制器，所述温度控制器包括：温度传感器，所述温度控制器进一步包括被配置...

【专利技术属性】
技术研发人员：古斯塔，
申请(专利权)人：安讯士有限公司，
类型：发明
国别省市：