电路测试方法及装置制造方法及图纸

本申请实施例提供一种电路测试方法及装置，该方法包括：对待测试电路进行编译，得到第一编译信息，第一编译信息包括待测试电路对应的多个第一资源位置。对待测试电路对应的参考电路进行编译，得到第二编译信息，第二编译信息包括参考电路对应的多个第二资源位置。根据第一编译信息和第二编译信息，确定待测试电路与参考电路之间的功能差异信息。根据待测试电路对应的目标功能、参考电路对应的参考功能和功能差异信息，确定待测试电路对应的测试结果。其中，仅通过功能仿真验证即可确定待测试电路对应的测试结果。因此，这提高了对待测试电路的验证效率并缩短了验证周期。电路的验证效率并缩短了验证周期。电路的验证效率并缩短了验证周期。

【技术实现步骤摘要】
电路测试方法及装置


[0001]本申请实施例涉及自动控制技术，尤其涉及一种电路测试方法及装置。

技术介绍

[0002]为保证静态随机访问存储器(Static Random
‑
Access Memory,SRAM)型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)实现的功能电路的性能及可靠性，通常在使用前需要对功能电路进行设计验证。
[0003]在验证过程中，当确定该功能电路不能实现预设功能时，通常需要对功能电路中的设计参数进行调试、修改，以使功能电路能够实现预设功能。在现有技术中，即使功能电路中仅有一个设计参数发生变化，在对该功能电路进行验证时，仍需重新进行对该功能电路进行全面的验证，全面的验证包括时序仿真验证和功能仿真验证。
[0004]然而，由于对功能电路均需要进行时序仿真验证和功能仿真验证，导致对功能电路的验证效率较低。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供一种电路测试方法及装置，以克服验证效率低的问题。
[0006]第一方面，本申请实施例提供一种电路测试方法，包括：
[0007]对待测试电路进行编译，得到第一编译信息，所述第一编译信息包括所述待测试电路对应的多个第一资源位置；
[0008]对所述待测试电路对应的参考电路进行编译，得到第二编译信息，所述第二编译信息包括所述参考电路对应的多个第二资源位置；
[0009]根据所述第一编译信息和所述第二编译信息，确定所述待测试电路与所述参考电路之间的功能差异信息；
[0010]根据所述待测试电路对应的目标功能、所述参考电路对应的参考功能和所述功能差异信息，确定所述待测试电路对应的测试结果。
[0011]在一种可能的设计中，所述根据所述待测试电路对应的目标功能、所述参考电路对应的参考功能和所述功能差异信息，确定所述待测试电路对应的测试结果，包括：
[0012]根据所述参考功能和所述功能差异信息，确定所述待测试电路对应的测试功能；
[0013]根据所述测试功能和所述目标功能，确定对所述待测试电路的测试结果。
[0014]在一种可能的设计中，所述根据所述测试功能和所述目标功能，确定对所述待测试电路的测试结果，包括：
[0015]若所述测试功能和所述目标功能相同，确定所述测试结果为测试成功；
[0016]若所述测试功能和所述目标功能不相同，确定所述测试结果为测试失败。
[0017]在一种可能的设计中，所述根据所述第一编译信息和所述第二编译信息，确定所述待测试电路与所述参考电路之间的功能差异信息，包括：
[0018]获取电路资源与资源位置之间的对应关系，所述对应关系中包括多个电路资源和
每个电路资源对应的资源位置；
[0019]根据所述第一编译信息和所述对应关系，确定多个第一电路资源；
[0020]根据所述第二编译信息和所述对应关系，确定多个第二电路资源；
[0021]根据所述多个第一电路资源和所述多个第二电路资源，确定功能差异信息。
[0022]在一种可能的设计中，所述根据所述多个第一电路资源和所述多个第二电路资源，确定功能差异信息，包括：
[0023]根据所述多个第一电路资源和所述多个第二电路资源，确定资源差异信息；
[0024]根据所述资源差异信息，确定所述功能差异信息。
[0025]在一种可能的设计中，所述获取电路资源与资源位置之间的对应关系，包括：
[0026]获取功能电路；
[0027]对所述功能电路进行编译，得到第三编译信息；
[0028]对所述功能电路的第i个资源进行更新，并获取更新后的功能电路的第i个编译信息，根据所述第三编译信息和所述第i个编译信息，确定第i个资源对应的资源位置，所述第i个编译信息和所述第三编译信息在所述第i个资源对应的资源位置上的信息不同；
[0029]其中，所述i取1、2、
……
、N，所述N为所述功能电路中包括的资源的数量。
[0030]第二方面，本申请实施例提供一种电路测试装置，包括：
[0031]第一编译模块，用于对待测试电路进行编译，得到第一编译信息，所述第一编译信息包括所述待测试电路对应的多个第一资源位置；
[0032]第二编译模块，用于对所述待测试电路对应的参考电路进行编译，得到第二编译信息，所述第二编译信息包括所述参考电路对应的多个第二资源位置；
[0033]确定模块，用于根据所述第一编译信息和所述第二编译信息，确定所述待测试电路与所述参考电路之间的功能差异信息；
[0034]处理模块，用于根据所述待测试电路对应的目标功能、所述参考电路对应的参考功能和所述功能差异信息，确定所述待测试电路对应的测试结果。
[0035]在一种可能的设计中，所述处理模块具体用于：
[0036]根据所述参考功能和所述功能差异信息，确定所述待测试电路对应的测试功能；
[0037]根据所述测试功能和所述目标功能，确定对所述待测试电路的测试结果。
[0038]在一种可能的设计中，所述处理模块具体用于：
[0039]若所述测试功能和所述目标功能相同，确定所述测试结果为测试成功；
[0040]若所述测试功能和所述目标功能不相同，确定所述测试结果为测试失败。
[0041]在一种可能的设计中，所述处理模块具体用于：
[0042]获取电路资源与资源位置之间的对应关系，所述对应关系中包括多个电路资源和每个电路资源对应的资源位置；
[0043]根据所述第一编译信息和所述对应关系，确定多个第一电路资源；
[0044]根据所述第二编译信息和所述对应关系，确定多个第二电路资源；
[0045]根据所述多个第一电路资源和所述多个第二电路资源，确定功能差异信息。
[0046]在一种可能的设计中，所述确定模块具体用于：
[0047]根据所述多个第一电路资源和所述多个第二电路资源，确定资源差异信息；
[0048]根据所述资源差异信息，确定所述功能差异信息。
[0049]在一种可能的设计中，所述确定模块具体用于：
[0050]获取功能电路；
[0051]对所述功能电路进行编译，得到第三编译信息；
[0052]对所述功能电路的第i个资源进行更新，并获取更新后的功能电路的第i个编译信息，根据所述第三编译信息和所述第i个编译信息，确定第i个资源对应的资源位置，所述第i个编译信息和所述第三编译信息在所述第i个资源对应的资源位置上的信息不同；
[0053]其中，所述i取1、2、
……
、N，所述N为所述功能电路中包括的资源的数量。
[0054]第三方面，本申请实施例提供一种电路测试设备，包括：
[0055]存储器，用于存储程序；
[0056]处理器，用于执行所述存储器存储的所述程序，当所述程序本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路测试方法，其特征在于，包括：对待测试电路进行编译，得到第一编译信息，所述第一编译信息包括所述待测试电路对应的多个第一资源位置；对所述待测试电路对应的参考电路进行编译，得到第二编译信息，所述第二编译信息包括所述参考电路对应的多个第二资源位置；根据所述第一编译信息和所述第二编译信息，确定所述待测试电路与所述参考电路之间的功能差异信息；根据所述待测试电路对应的目标功能、所述参考电路对应的参考功能和所述功能差异信息，确定所述待测试电路对应的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测试电路对应的目标功能、所述参考电路对应的参考功能和所述功能差异信息，确定所述待测试电路对应的测试结果，包括：根据所述参考功能和所述功能差异信息，确定所述待测试电路对应的测试功能；根据所述测试功能和所述目标功能，确定对所述待测试电路的测试结果。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试功能和所述目标功能，确定对所述待测试电路的测试结果，包括：若所述测试功能和所述目标功能相同，确定所述测试结果为测试成功；若所述测试功能和所述目标功能不相同，确定所述测试结果为测试失败。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一编译信息和所述第二编译信息，确定所述待测试电路与所述参考电路之间的功能差异信息，包括：获取电路资源与资源位置之间的对应关系，所述对应关系中包括多个电路资源和每个电路资源对应的资源位置；根据所述第一编译信息和所述对应关系，确定多个第一电路资源；根据所述第二编译信息和所述对应关系，确定多个第二电路资源；根据所述多个第一电路资源和所述多个第二电路资源，确定功能差异信息。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个第一电路资源和所述多个第二电路资源，确定功能差异信...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱明达，刘子晨，吴健伟，
申请(专利权)人：中国石油大学北京，
类型：发明
国别省市：