一种程控双通道幅相控制器制造技术

本发明专利技术公开了一种程控双通道幅相控制器，涉及幅相控制器制造技术领域，本发明专利技术包括设置在三轴模拟旋转台机构上的壳体以及设置在壳体内部的幅相控制器组件，幅相控制器组件，包括第一芯片、第二芯片、微波单元、第一功分器、第二功分器、测幅鉴相模块、第三功分器、第四功分器以及单片机，壳体一侧设有I/O接口，壳体内部设有主电路板，若干I/O接口另一端与主电路板连接，微波单元包括设置在主电路板上的微波电路板以及设置在微波电路板上的变频本振、开关滤波器组、总幅度控制衰减器、第一幅度控制衰减器、第二幅度控制衰减器、第一数控移向器以及第二数控移向器。本发明专利技术公为一种程控双通道幅相控制器，有着价格便宜，测试效率高、精度高的优点。高的优点。高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种程控双通道幅相控制器


[0001]本专利技术涉及幅相控制器制造
，特别涉及一种程控双通道幅相控制器。

技术介绍

[0002]导弹导引头出厂前都需要进行场内测试，以此确保制导精度，目前流行的测试方法中，通过比幅度测向和干涉仪测向(比相位)两种方式确定飞行方向和打击位置，在导弹导引头的设计开发过程中，需要信号源等装置提供不同幅度的信号用于对导弹导引头比幅度测向功能进行测试、提供不同相位的信号用于对导弹导引头干涉仪测向(比相位)功能进行测试。
[0003]现有的测试方式，通常使用两台通用信号源提供不同幅度的信号，两台通用信号源设置不同的输出信号功率，使这两个信号之间产生幅度差，测试导弹导引头比幅度测向功能，通常使用两台通用信号源加移相器提供不同幅度的信号，两台通用信号源设置相同的信号，移相器改变其中一路信号的相位，使这两个信号之间产生相位差，测试导弹导引头干涉仪测向(比相位)功能，由于通信信号源价格昂贵且功能丰富，使用两台通用信号源且仅使用该单一功能测试造成极大的浪费。
[0004]通用信号源性能可能存在输出功率、相位不稳定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种程控双通道幅相控制器，包括设置在三轴模拟旋转台机构上的壳体(30)以及设置在壳体(30)内部的幅相控制器组件，其特征在于：所述幅相控制器组件，包括第一芯片(1)、第二芯片(2)、微波单元(3)、第一功分器(4)、第二功分器(5)、测幅鉴相模块(6)、第三功分器(7)、第四功分器(8)以及单片机(9)；所述壳体(30)一侧设有I/O接口(10)，所述壳体(30)内部设有主电路板(11)，若干所述I/O接口(10)另一端与主电路板(11)连接，所述第一芯片(1)、所述第二芯片(2)、所述微波单元(3)、所述第一功分器(4)、所述第二功分器(5)、所述测幅鉴相模块(6)、所述第三功分器(7)、所述第四功分器(8)以及所述单片机(9)均固定安装在所述主电路板(11)上，且与所述主电路板(11)电性连接；所述微波单元(3)包括设置在主电路板(11)上的微波电路板(31)以及设置在微波电路板(31)上的变频本振(32)、开关滤波器组(33)、总幅度控制衰减器(34)、第一幅度控制衰减器(35)、第二幅度控制衰减器(36)、第一数控移向器(37)以及第二数控移向器(38)，所述变频本振(32)、所述开关滤波器组(33)、所述总幅度控制衰减器(34)、所述第一幅度控制衰减器(35)、所述第二幅度控制衰减器(36)、所述第一数控移向器(37)以及所述第二数控移向器(38)均固定安装在所述微波电路板(31)上，且与所述微波电路板(31)电性连接。2.根据权利要求1所述的一种程控双通道幅相控制器，其特征在于：所述三轴模拟旋转台机构包括支架(12)，所述支架(12)呈C子结构，所述支架(12)上下两端活动设有第一转轴(13)，所述第一转轴(13)之间设有第一圆环(14)，所述第一圆环(14)中部两侧活动设有第二转轴(15)，所述第二转轴(15)之间设有第二圆环(16)，所述第二圆环(16)上下两端活动设有第三转轴(17)，所述第三转轴(17)之间设有第三圆环(18)，所述第三圆环(18)之间设有连接组件。3.根据权利要求1所述的一种程控双通道幅相控制器，其特征在于：所述连接组价包括设置于第三圆环(18)之间的连接柱(19)，两个所述连接柱(19)上设有固定板(20)，所述固定板(20)上通过螺丝连接有L形连接块(21)，所述L形连接块(21)另一端与壳体(30)侧壁固定连接。4.根据权利要求1所述的一种程控双通道幅相控制器，其特征在于：所述壳体(30)一端通过铰链连接有活动盖(22)，所述活动盖(22)上端开设有第一通孔，所述壳体(30)开设有螺纹通孔，所述第一通孔与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李晃，李继锋，朱文明，相玉健，
申请(专利权)人：扬州宇安电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：