【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测距装置、以及检测测距装置的窗口的污垢的方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请主张基于2019年10月4日申请的日本申请号2019－183438的日本专利申请、以及2020年9月24日申请的日本申请号2020－159470的日本专利申请的优先权，通过参照将这些公开的全部内容编入本申请。
[0003]本公开涉及检测测距装置的窗口的污垢的技术。
技术介绍
[0004]在JP2016－176750A中，公开了照射脉冲光并接收被外部物体反射的反射光，根据光的飞行时间来测定距外部物体的距离的测距装置。
[0005]在上述的测距装置中，若在测距装置的窗口附着污垢，则S/N比降低而无法正确地测定距外部物体的距离。然而，以往的实际情况是，对于检测在测距装置的窗口是否附着有污垢的技术，并未充分研究。
技术实现思路
[0006]根据本公开的一个方式，提供一种测距装置。该测距装置具备：发光部，发出脉冲光；受光部，接收被外部物体反射的上述脉冲光的反射光；运算部，使用由上述受光部接收到的上述反...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测距装置(20)，具备：发光部(40)，发出脉冲光；受光部(60)，接收被外部物体反射的上述脉冲光的反射光；运算部(200)，使用由上述受光部接收到的上述反射光的飞行时间，来计算距上述外部物体的距离；壳体(90)，是收纳上述发光部和上述受光部的壳体，且上述壳体具有使上述脉冲光和上述反射光通过的窗口(92)；以及判定部(300)，当预先规定的污垢判定条件成立时，判定为在上述窗口存在污垢，上述污垢判定条件包含第一条件，该第一条件为“关于上述测距装置的视野范围内的至少一个像素，相当于从上述发光部到上述窗口的光路的距离的特定飞行时间下的受光强度为强度阈值以上”。2.根据权利要求1所述的测距装置，其中，上述运算部构成为创建表示多个飞行时间中的每个飞行时间下的受光强度的直方图，并将上述直方图提供给上述判定部，上述判定部构成为通过对上述直方图的基线水平加上阈值设定值来计算上述强度阈值，其中，上述阈值设定值为固定值。3.根据权利要求1所述的测距装置，其中，上述运算部构成为创建表示多个飞行时间中的每个飞行时间下的受光强度的直方图，并将上述直方图提供给上述判定部，在上述直方图中，当将从受光强度可取的最大值减去上述直方图的基线水平所得的值称为有效信号范围宽度时，上述判定部构成为通过对上述有效信号范围宽度乘以阈值设定值，并对其相乘结果加上上述基线水平来计算上述强度阈值，其中，上述阈值设定值是小于1的系数。4.根据权利要求2或3所述的测距装置，其中，还具备存储部(310)，上述存储部存储上述视野范围内的上述阈值设定值的分布，上述判定部使用存储于上述存储部的上述阈值设定值，来对上述视野范围内的每个像素计算上述强度阈值。5.根据权利要求1～4所述的测距装置，其中，上述污垢判定条件还包含第二条件，该第二条件为：“在上述视野范围内，上述特定飞行时间下的受光强度为上述强度阈值以上的像素的像素数为预先规定的第一数量阈值以上”，或者“在上述视野范围内，存在上述特定飞行时间下的受光强度为上述强度阈值以上的多个像素相互连续的像素集合体，并且上述像素集合体的像素数为预先规定的第一数量阈值以上”。6.根据权利要求1～5所述的测距装置，其中，上述受光部除了距离测定用的像素以外，还包含检测窗口污垢用的像素。7.根据权利要求1～6所述的测距装置，其中，在将表示上述视野范围内的受光强度的分布的数据的集合称为帧，并将N设为2以上的
整数时，上述判定部使用连续的N个帧中的上述受光强度和上述强度阈值，来执行在上述窗口是否存在污垢的判定。8.根据权利要求7所述的测距装置，其中，当遍及上述连续的N个帧上述污垢判定条件连续地成立时，上述判定部判定为在上述窗口有污垢。9.根据权利要求7所述的测距装置，其中，在将上述N设为3以上的整数，并将M设为2以上且N以下的整数时，当在上述连续的N个帧中的M个帧中上述污垢判定条件成立时，上述判定部判定为在上述窗口有污垢。10.根据权利要求7所述的测距装置，其中，上述判定部使用遍及上述连续的N个帧的上述受光强度以及上述强度阈值各自的合计值或者平均值，来判定上述污垢判定...
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