X射线检查装置及X射线检查装置的劣化判定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种提高了构成X射线管的构成零件的劣化判定的判定精度的X射线检查装置及X射线检查装置的劣化判定方法。X射线检查装置(1)包括：X射线管(210)，产生X射线；高压电源(220)，向X射线管(210)供给管电压而产生X射线；X射线照射控制部(134)，向高压电源(220)输出第一控制信号与第二控制信号来对高压电源(220)进行控制；以及判定部(135)，对从X射线照射控制部(134)输出至高压电源(220)的第一控制信号及第二控制信号的至少一者进行计数，并将所计数的计数值与预先设定的阈值进行比较，来判定构成X射线管(210)的构成零件的劣化状态。态。态。

【技术实现步骤摘要】
X射线检查装置及X射线检查装置的劣化判定方法


[0001]本专利技术涉及一种X射线检查装置及X射线检查装置的劣化判定方法。

技术介绍

[0002]X射线检查装置包括X射线管，通过对X射线管所包括的灯丝进行加热，并将由经加热的灯丝产生的热电子触碰靶而产生X射线。X射线管中包括多个消耗品，已知一种预测这些消耗品的更换时期的技术。
[0003]例如，专利文献1公开了一种基于灯丝的通电时间来判定灯丝的消耗度的X射线管动作状态获取装置。
[0004][现有技术文献][0005][专利文献][0006][专利文献1]国际公开第2003
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092336号

技术实现思路

[0007][专利技术所要解决的问题][0008]X射线管中除了灯丝以外还包括多个消耗品。若可高精度地判定包括灯丝的消耗品的更换时期，则能够避免停机时间的产生，或者缩短停机时间。
[0009]本专利技术的目的在于提供一种提高了构成X射线管的构成零件的劣化判定的判定精度的X射线检查装置及X射线检查装置的劣化判定方法。<br/>[0010]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线检查装置，其特征在于，包括：X射线管，产生X射线；高压电源，向所述X射线管供给管电压而产生X射线；X射线照射控制部，输出使所述高压电源开始管电压的供给的第一控制信号、与使所述高压电源停止管电压的供给的第二控制信号来对所述高压电源进行控制；以及判定部，对从所述X射线照射控制部输出至所述高压电源的所述第一控制信号及所述第二控制信号的至少一者进行计数，并将所计数的计数值与预先设定的阈值进行比较，来判定构成所述X射线管的构成零件的劣化状态。2.根据权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于，所述判定部对从所述X射线照射控制部输出至所述高压电源的所述第一控制信号及所述第二控制信号的至少一者进行计数，并在所计数的计数值为所述阈值中所包括的第一阈值以上的情况下，将橡胶构件判定为劣化状态，所述橡胶构件吸收由填充至所述X射线管的管内的绝缘油的热膨胀引起的增加量。3.根据权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于，所述判定部对从所述X射线照射控制部输出至所述高压电源的所述第一控制信号及所述第二控制信号的至少一者进行计数，并在所计数的计数值为所述阈值中所包括的第二阈值以上的情况下，将所述X射线管中所包括的灯丝判定为劣化状态。4.根据权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于，所述判定部对从所述X射线照射...

【专利技术属性】
技术研发人员：松花文太，神户悟郎，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：