检测电路及其非法移除检测方法技术

一种检测电路及其非法移除检测方法被提出。检测电路包括第一连接端、SPI总线以及安全元件。第一连接端用以与主板可拆卸式连接。安全元件耦接第一连接端及SPI总线。安全元件与主板形成第一回路，用以检测第一回路的回路状态。当安全元件检测到第一回路断开时，锁定SPI总线。总线。总线。

【技术实现步骤摘要】
检测电路及其非法移除检测方法


[0001]本专利技术涉及一种装置安全移除技术，且特别涉及一种检测电路及其非法移除检测方法。

技术介绍

[0002]随着科技趋势的发展，现今的伺服器为了因应多变的工作负载需求而朝向模块化设计发展。在装置模块化的设计中，各个装置具有可插拔的优点，同时可提供使用者灵活地配置所需的装置。在现有的
中，伺服器的装置可包括管理装置，并且管理装置可与主板(主机端)可拆卸式连接。然而，这种架构中具有的缺点为：在不当插拔管理装置时，可能会有危害系统安全的疑虑。因此，如何避免管理装置在不被预期的状态下被抽出而造成的系统安全问题，是本领域技术人员所欲解决的问题。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术提供一种检测电路及其非法移除检测方法，可有效维持及保护系统安全。
[0004]本专利技术实施例的检测电路包括第一连接端、SPI总线以及安全元件。第一连接端用以与主板可拆卸式连接。安全元件耦接第一连接端及SPI总线。安全元件与主板形成第一回路，用以检测第一回路的回路状态。当安全元件检测到第一回路断开时，锁定SPI总线。
[0005]本专利技术实施例的非法移除检测方法适用于具有第一连接端、SPI总线及安全元件的检测电路。第一连接端用以与主板可拆卸式连接。安全元件耦接第一连接端及SPI总线。所述方法包括以下步骤：检测第一连接端与主板的第一回路的回路状态，其中当检测到第一回路断开时，锁定SPI总线。
[0006]基于上述，本专利技术实施例可在管理装置中提供检测电路，并可提供解锁元件。如此一来，即使管理装置被非法移除，仍可保护系统安全。
[0007]为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
附图说明
[0008]图1示出本专利技术一实施例的电子系统的示意图。
[0009]图2示出本专利技术一实施例的检测电路与主板间的回路状态的检测动作的示意图。
[0010]图3示出本专利技术一实施例的检测电路与解锁元件、主板间的回路状态的检测动作的示意图。
[0011]图4示出本专利技术一实施例的非法移除检测方法的流程图。
[0012]附图标记说明：
[0013]100：电子系统
[0014]110：主板
[0015]120：管理装置
[0016]121：基板管理控制器
[0017]122：安全元件
[0018]1221：闩锁单元
[0019]123：BIOS存储器
[0020]130：解锁元件
[0021]201：检测元件
[0022]211,221,331,341：连接端
[0023]311,321：解锁端
[0024]GND：参考电压
[0025]LP1,LP2,LP3：回路
[0026]R21、R22、R23：电阻
[0027]V1,V2：电压
[0028]VCC：电源电压
[0029]S402～S410：步骤
具体实施方式
[0030]本专利技术的部分实施例接下来将会配合附图来详细描述，以下的描述所引用的元件符号，当不同附图出现相同的元件符号将视为相同或相似的元件。这些实施例只是本专利技术的一部分，并未公开所有本专利技术的可实施方式。更确切的说，这些实施例只是本专利技术的专利申请范围中方法与检测电路的范例。
[0031]请参照图1，图1示出本专利技术一实施例的电子系统的示意图。电子系统100包括主板110以及管理装置120，其中管理装置120可拆卸式地耦接于主板110。主板110例如包括连接端211。管理装置120例如包括基板管理控制器(Baseboard Management Controller，BMC)121、安全元件122、基本输入输出系统(Basic Input/Output System，BIOS)存储器123及连接端221，其中安全元件122可例如通过串行周边接口(Serial Peripheral Interface，SPI)总线连接至BMC 121、BIOS存储器123及连接端221。举例来说，电子系统100可以是数据中心的伺服器等，本专利技术不限于此。
[0032]在本实施例中，电子系统100可包括处理器(未示出)，处理器用以负责电子系统100的整体运行，包括系统启动与开机等运行。处理器可连接至安全元件122，并与安全元件122通过SPI总线连接的一或多个周边硬件装置进行数据传输与交换。处理器例如包括中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，或是其他可程序化的一般用途或特殊用途的微处理器(Microprocessor)、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、可程序化控制器、特殊应用集成电路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)、可程序化逻辑装置(Programmable Logic Device，PLD)或其他类似装置或这些装置的组合等，本专利技术不在此限制。
[0033]在本实施例中，BMC 121是一种小型专用处理器，用以收集电子系统100的运行情况与系统状态，例如系统电压与温度等，并管理和监控电子系统100的运行及物理健康状态。在一些实施例中，BMC 121也可以整合内部监控装置、和外部感应器与扩充元件接口沟
通的输入输出接口和总线等。此外，BMC 121亦可耦接至BIOS存储器123，以进行BIOS维护。BIOS存储器123例如是随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、只读存储器(Read
‑
Only Memory，ROM)、快闪存储器(Flash memory)、硬盘或其他类似装置或这些装置的组合，并用来存放BIOS程序码。BMC 121可更新系统BIOS及重新启动(reboot)主机系统。所属
具备通常知识者应当对于BMC 121有充分的了解，而可依据实际需求来实作BMC 121。有关于BMC 121的更多细节即不在此进一步描述。
[0034]值得一提的是，安全元件122还可以通过不同连接接口(如，SPI总线)连接至图1中未示出的一或多个周边硬件装置以进行数据传输与交换，所属领域具备通常知识者当可依需求来实作，故本文不在此赘述。
[0035]由于管理装置120可拆卸式连接于主板110，在运送、存放电子系统100或其他不被预期而造成管理装置120非法被抽出的情况下，会导致危害系统安全的疑虑。于此，本专利技术提供以下检测电路及其非法移除检测方法，以保护系统安全。需先说明的是，以下实施例以与安全元件122通过SPI总线连接的BMC 121为例进行说明。然而，安全元件122还可通过SPI总线连接图1的BIOS存储器123等一或多个装置，本专利技术不在此限制。
[0036]图2示出本专利技术一实施例的检测电路与主板间的回路状态的检测动作的示意图。在图2中，电子系统100包括主板110及本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测电路，包括：一第一连接端，可拆卸式地耦接于一主板；一串行周边接口总线，耦接于该第一连接端；以及一安全元件，耦接于该串行周边接口总线，并与该主板形成第一回路，用以检测该第一回路的回路状态；其中当该安全元件检测到该第一回路断开时，锁定该串行周边接口总线。2.如权利要求1所述的检测电路，其中该第一连接端与该主板电性连接形成该第一回路时，该安全元件根据一第一电压判断该第一回路导通或断开。3.如权利要求2所述的检测电路，其中该安全元件还包括：一闩锁单元，耦接于该串行周边接口总线；其中当该安全元件检测到该第一电压为参考电压时，该第一回路断开，并触发该闩锁单元从高电平切换至低电平以锁定该串行周边接口总线。4.如权利要求3所述的检测电路，其中该检测电路还包括：一解锁端，用以与一解锁元件可拆卸式连接形成一第二回路，其中该安全元件检测到该第二回路导通时，触发该闩锁单元导通该串行周边接口总线。5.如权利要求4所述的检测电路，其中当该解锁端与该解锁元件电性连接时，该安全元件检测到该解锁端的一第二电压以触发该闩锁单元从低电平切换至高电平以解除锁定该串行周边接口总线。6.如权利要求4所述的检测电路，还包括：一第二连接端，可拆卸式耦接于该解锁元件形成一第三回路；其中该第二连接端与该解锁元件电性连接时，该安全元件根据一第二电压判断该第三回路的回路状态为导通或断开。7.如权利要求6所述的检测电路，其中当该第一连接端与该主板断开连接且该第三回路的回路状态为导通时，保持未锁定该串行周边接口总线。8.如权利要求4所述的检测电路，其中当该第二连接端与该解锁单元断开时，该安全元件锁定该串行周边接口总线。9.一种电子系统，包括：一主板；以及一检测电路，该检测电路还包括：一第一连接端，可拆卸式地耦接于该主板；一串行周边接口总线，耦接于该第一连接端；以及一安全元件，耦接于该串行周边接口总线，并与该主板形成第一回路，用以检测该第一回路的回路状...

【专利技术属性】
技术研发人员：高钰书，高璿智，李月琪，柴芸芝，
申请(专利权)人：纬颖科技服务股份有限公司，
类型：发明
国别省市：