【技术实现步骤摘要】
无接触光学测试接口
[0001]本申请涉及一种无接触光学测试接口。
技术介绍
[0002]为了增强具有套管连接接口的两个或更多个光学连接器之间的光学连接，已对套管连接接口进行了标准化。标准套管连接接口包括使用三种抛光样式—PC(物理接触)、UPC(超物理接触)和APC(成角度的物理接触)中的一种形成的光学套管。在所有三种样式中，套管都被抛光，以消除套管的端面之间的气隙。以APC样式抛光的套管具有相对于参考平面成8度角度延伸的端面，该参考平面垂直于由套管保持的(一根或多根)光纤的纵轴延伸。当连接两个APC套管时，套管被以相反的旋转方向设置，使得成角度的表面相对并允许对应的光纤彼此接触。被以PC样式或UPC样式抛光的套管没有相对于参考平面成角度。替代地，PC或UPC套管的非成角度的端面使得对应的光纤能够彼此物理地接触。APC抛光的套管与PC或UPC抛光的套管不匹配。APC样式通常与端接单模光纤的套管一起使用，而PC和UPC样式通常与多模光纤一起使用。
[0003]光缆的连接器端的质量控制测试包括将要测试的光学连接器插入光...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种制造光学测试接口以提供在所述光学测试接口的光纤端面和要测试的光学部件之间的有意的气隙的方法，所述方法包括：提供沿着光学套管的纵轴延伸的光学测试套管，所述光学测试套管支撑光学测试路径，所述光学测试路径具有能在所述光学测试套管的端面处触及的至少一个路径端面；以及修改所述光学测试套管的端面，以提供在所述光学测试路径的路径端面与由标准光学接口端接的光纤的端面之间的有意的气隙。2.根据权利要求1所述的方法，其中，修改所述光学测试套管的端面包括以与垂直于所述光学测试套管的纵轴的参考平面成范围在1度和7度之间的角度抛光所述光学测试套管的端面。3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述角度的范围在与所述参考平面成3度和5度之间。4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述角度为大约4度。5.根据权利要求1所述的方法，其中，修改所述光学测试套管的端面包括提供从所述光学测试套管的端面延伸的突起，所述突起的尺寸和形状为在所述光学测试路径的路径端面接触标准光学接口的光纤端面之前接触标准光学接口的端面。6.根据权利要求5所述的方法，其中，提供所述突起包括从所述光学测试套管的端面去除材料并缩短所述光学测试路径，使得所述光学测试路径的路径端面在到达所述突起的远端之前终止。7.根据权利要求6所述的方法，其中，从所述光学测试套管的端面去除材料包括去除包围所述光学测试路径的材料。8.根据权利要求6所述的方法，其中，使用激光烧蚀来执行去除材料。9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述光学测试套管是单光纤套管。10.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述测试套管是多光纤套管，并且其中，光学测试路径是由所述测试套管支撑的多个光学测试路径中的一个。11.根据权利要求1至10中任一项所述的方法，其中，光学测试路径包括光学光纤，并且所述路径端面包括所述光学光纤的光纤端面。12.根据权利要求1至11中任一项所述的方法，其中，所述光学测试接口包括环回插头。13.根据权利要求1至11中任一项所述的方法，其中，所述光学测试接口包括在光学适配器处接纳的测试插头连接器，所述光学适配器被配置为接纳要测试的插头连接器并将所述要测试的插头连接器的光纤端面与所述光学测试接口的光纤端面对准。14.一种用于测试具有标准光学接口的多光纤连接器处的光学连接性的环回插头，所述环回插头包括：套管结构，所述套管结构沿着接口侧和相对侧之间的纵轴延伸；主体，所述主体保持所述套管结构，所述主体被配置为将所述套管结构定位成接合所述多光纤连接器的标准光学接口的套管；以及至少一个光学环回路径，所述至少一个光学环回路径延伸通过所述套管结构，每个光学环回路径具有能从所述套管结构的接口侧触及的相应的第一端接端和第二端接端；所述套管结构的接口侧具有延伸超过所述光学环回路径的所述第一端接端和所述第
二端接端的间隔部，所述间隔部的形状为接合所述标准光学接口的套管。15.根据权利要求14所述的环回插头，其中，所述间隔部包括所述端面的突出侧，所述突出侧相对于与所述套管结构的纵轴垂直的参考板成角度延伸，所述角度的范围在1度和7度之间。16.根据权利要求15所述的环回插头，其中，所述角度的范围在与所述参考平面成3度和5度之间。17.根据权利要求16所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：P，
申请(专利权)人：康普技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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