半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及半导体储存技术领域，且公开了半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置，包括壳体，所述壳体顶部固定连接有检测机构，所述检测机构表面通过螺纹套螺纹连接有固定机构。该半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置，通过设置检测机构，在使用的过程中，先将该装置放入需要检测的半导体用超纯化学品储罐内，打开补光灯，启动电机，电机的转动带动传动杆的转动，传动杆的转动带动第一齿轮的转动，操作人员可以通过控制盒对传感相机检测到的画面进行观察，发现罐体内存在杂质，及时进行处理，从而能有效防止半导体用超纯化学品在储存时受到罐体内的杂质影响，造成半导体用超纯化学品的损坏，降低了半导体用超纯化学品损坏的风险。的风险。的风险。

【技术实现步骤摘要】
半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置


[0001]本技术涉及半导体储存
，具体为半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。半导体大多用于科技领域，经济价值非常高，在储存运输的过程中，任何杂质都会对半导体材料造成损坏，影响其功能和作用，造成较大的经济损失，现有的半导体用超纯化学品储罐的检测大多是由人工检测，检测效率低，检测效果差。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：半导本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置，包括壳体（1），其特征在于：所述壳体（1）顶部固定连接有检测机构（2），所述检测机构（2）表面通过螺纹套螺纹连接有固定机构（3）；所述检测机构（2）包括保护壳（212），所述保护壳（212）内侧固定连接有电机（213），所述保护壳（212）底部固定连接有固定板（216），所述固定板（216）底部固定连接有套筒（214），所述电机（213）安装有输出轴，所述电机（213）通过输出轴固定连接有传动杆（215），所述传动杆（215）底端卡接有第一齿轮（209），所述第一齿轮（209）下方设置有第二齿轮（204），所述第一齿轮（209）右侧与第二齿轮（204）顶部相啮合，所述第二齿轮（204）内卡接有第一螺纹杆（201），所述第一螺纹杆（201）表面通过螺纹套螺纹连接有移动块（205），所述移动块（205）左侧顶部和底部固定连接有第一滑竿（202）和第二滑竿（203），所述第一滑竿（202）左端和第二滑竿（203）左端固定连接有同一个安装座（210），所述第一螺纹杆（201）左端通过轴承活动连接有固定块（208），所述固定块（208）顶部固定连接在壳体（1）内顶部，所述安装座（210）左侧和底部均开设有安装槽，所述安装槽内固定安装有传感相机（207），所述安装槽两侧固定安装有补光灯（211），所述壳体（1）内底部开设有检测槽（206）。2.根据权利要求1所述的半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置，其特征在于：所述第一螺纹杆（201）右端依次贯穿固定块（208...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋国华，
申请(专利权)人：无锡氟士德防腐科技有限公司，
类型：新型
国别省市：