LED检测装置制造方法及图纸

技术编号:33494603 阅读:59 留言:0更新日期:2022-05-19 01:06
本实用新型专利技术公开了一种LED检测装置。其中,LED检测装置包括:第一托板,用于承载所述待测板;第二托板,设置于所述第一托板的一侧,且所述第二托板与所述第一托板相对设置,所述第二托板用于固定在测试台上;压板,设置于所述第一托板的另一侧,且所述压板与所述第一托板相对设置;按键,设置在所述第二托板上;检测电路,设置于所述第二托板远离所述第一托板的方向上,所述检测电路用于与所述按键和所述待测板电连接。首先压板向下运动,第一托板以及待测板随而向下运动,最终第一托板会运动到第二托板的限位处,同时按键会被第一托板按下,检测电路开始检测工作,以此提高了检测装置的自动化程度,加快了产品生产检测效率。加快了产品生产检测效率。加快了产品生产检测效率。

【技术实现步骤摘要】
LED检测装置


[0001]本技术涉及自动化检测装置领域,尤其是涉及一种LED检测装置。

技术介绍

[0002]在自动化检测装置中,LED检测装置是一种为了降低产品LED指示灯不良率而设计的装置。
[0003]相关技术中,LED检测装置的自动化程度以及生产检验效率较低。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本技术提出一种 LED检测装置,能够提高检测装置的自动化程度,加快产品生产检测效率。
[0005]根据本技术的第一方面实施例的LED检测装置,用于待测板进行检测,所述待测板包括LED,所述LED检测装置包括:
[0006]第一托板,用于承载所述待测板;
[0007]第二托板,设置于所述第一托板的一侧,且所述第二托板与所述第一托板相对设置,所述第二托板用于固定在测试台上;
[0008]压板,设置于所述第一托板的另一侧,且所述压板与所述第一托板相对设置;
[0009]按键,设置在所述第二托板上;
[0010]检测电路,设置于所述第二托板远离所述第一托板的方向上,所述检测电路用于与所述按键和所述待测板电连接。
[0011]根据本技术实施例的LED检测装置,至少具有如下有益效果:首先压板向下运动,第一托板上的待测板受到压板向下的压力,第一托板随而向下运动,最终第一托板会运动到第二托板的限位处,同时第二托板上的按键会被第一托板按下,检测电路开始检测工作,以此提高了检测装置的自动化程度,加快了产品生产检测效率
[0012]根据本技术的一些实施例,所述第一托板设置有导光孔;
[0013]所述检测电路包括光敏电阻和单片机,所述单片机的第一I/O引脚分别与所述按键的常闭触点的一端和电源地电连接;所述单片机的第二I/O引脚分别与所述按键的常开触点的一端和电源地电连接;所述光敏电阻的一端分别与所述按键的常开触点的一端和所述单片机的第三I/O引脚电连接,所述光敏电阻的另一端接地;所述按键的常开触点的另一端和所述按键的常闭触点的另一端分别与高电平电源电连接;
[0014]其中,所述光敏电阻的接收光源端密封设置于所述导光孔靠近所述第二托板的一侧。
[0015]根据本技术的一些实施例,所述第二托板靠近所述第一托板的一侧设置有测试探针,所述测试探针与所述检测电路电连接;
[0016]所述第一托板设置有测试探针穿孔,所述测试探针穿孔与所述测试探针相对设置。
[0017]根据本技术的一些实施例,所述第一托板靠近所述第二托板的一侧设置有阻尼器插芯;
[0018]所述第二托板靠近所述第一托板的一侧设置有阻尼器底座,所述阻尼器底座与所述阻尼器插芯相对设置;
[0019]所述第二托板靠近所述第一托板的一侧设置有弹簧器;
[0020]所述第一托板靠近所述第二托板的一侧设置有弹簧限位插芯,所述弹簧限位插芯与所述弹簧器相对设置。
[0021]根据本技术的一些实施例,所述导光孔靠近所述压板的一侧设置有密封件和密封槽,所述密封件放置于所述密封槽内。
[0022]根据本技术的一些实施例,所述压板靠近所述第一托板的一侧设置有顶柱。
[0023]根据本技术的一些实施例,所述第一托板靠近压板的一侧设置有限位槽,所述限位槽用于承载所述待测板。
[0024]根据本技术的一些实施例,所述检测电路还包括:
[0025]第一电阻,所述第一电阻的一端用于与所述按键的常开触点的一端电连接,所述第一电阻的另一端用于与所述单片机的所述第二I/O引脚电连接;
[0026]第二电阻,所述第二电阻的一端用于与所述按键的常闭触点的一端电连接,所述第二电阻的另一端用于与所述单片机的所述第一I/O引脚电连接;
[0027]第三电阻,所述第三电阻的一端用于与所述单片机的所述第二I/O引脚电连接,所述第三电阻的另一端接地;
[0028]第四电阻,所述第四电阻的一端用于与所述单片机的所述第一I/O引脚电连接,所述第四电阻的另一端接地;
[0029]第一二极管,所述第一二极管的阳极用于与所述单片机的所述第二I/O引脚电连接,所述第一二极管的阴极用于与高电平电源电连接;
[0030]第二二极管,所述第二二极管的阳极用于与所述单片机的所述第一I/O引脚电连接,所述第二二极管的阴极用于与高电平电源电连接;
[0031]第五电阻,所述第五电阻的一端用于与所述按键的常开触点的一端电连接,所述第五电阻的另一端用于与所述单片机的所述第三I/O引脚电连接。
[0032]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0033]下面结合附图和实施例对本技术做进一步的说明,其中:
[0034]图1为本技术LED检测装置的一具体实施例的结构示意图;
[0035]图2为本技术LED检测装置中检测电路的一具体实施例的电路原理图。
[0036]附图标记:
[0037]第一托板100、第二托板200、压板300、按键400、检测电路500、待测板600、导光孔110、密封件111、密封槽112、测试探针穿孔120、阻尼器插芯130、弹簧限位插芯140、限位槽150、测试探针220、阻尼器底座230、弹簧器240、顶柱310、待测LED610。
具体实施方式
[0038]下面详细描述本技术的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本技术,而不能理解为对本技术的限制。
[0039]在本技术的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0040]在本技术的描述中,若干的含义是一个以上,多个的含义是两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0041]本技术的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接、电连接等词语应做广义理解,所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。
[0042]本技术的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.LED检测装置,用于对待测板进行检测,所述待测板包括LED,其特征在于,所述LED检测装置包括:第一托板,用于承载所述待测板;第二托板,设置于所述第一托板的一侧,且所述第二托板与所述第一托板相对设置,所述第二托板用于固定在测试台上;压板,设置于所述第一托板的另一侧,且所述压板与所述第一托板相对设置;按键,设置在所述第二托板上;检测电路,设置于所述第二托板远离所述第一托板的方向上,所述检测电路用于与所述按键和所述待测板电连接。2.根据权利要求1所述的LED检测装置,其特征在于,所述第一托板设置有导光孔;所述检测电路包括光敏电阻和单片机,所述单片机的第一I/O引脚分别与所述按键的常闭触点的一端和电源地电连接;所述单片机的第二I/O引脚分别与所述按键的常开触点的一端和电源地电连接;所述光敏电阻的一端分别与所述按键的常开触点的一端和所述单片机的第三I/O引脚电连接,所述光敏电阻的另一端接地;所述按键的常开触点的另一端和所述按键的常闭触点的另一端分别与高电平电源电连接;其中,所述光敏电阻的接收光源端密封设置于所述导光孔靠近所述第二托板的一侧。3.根据权利要求2所述的LED检测装置,其特征在于,所述第二托板靠近所述第一托板的一侧设置有测试探针,所述测试探针与所述检测电路电连接;所述第一托板设置有测试探针穿孔,所述测试探针穿孔与所述测试探针相对设置。4.根据权利要求2所述的LED检测装置,其特征在于,所述第一托板靠近所述第二托板的一侧设置有阻尼器插芯;所述第二托板靠近所述第一托板的一侧设置有阻尼器底座,所述阻尼器底座与所述阻尼器插芯相对设置;所述第二托板靠近所述第一托板的一侧...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄进田俊波张绍和李冬彬万俊王文杰
申请(专利权)人:深圳市科陆电子科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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