低损耗的充电放电检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开一种低损耗的充电放电检测电路，其包括：MCU控制检测电路单元，其包括稳压供电模块和MCU控制芯片；充电与充电检测触发电路单元，其包括充电控制电路单元、负载、保险丝、电池、电阻R7和电阻R3、MOS管、第一三极管，电阻R7连接电阻R8后连接充电控制电路单元及负载，MOS管的S极与D极分别连接电阻R7两端，MOS管的G极连接MCU控制芯片；第一三极管的C极连接电阻R1后连接稳压供电模块，第一三极管的C极连接MCU控制芯片；放电与放电检测触发电路单元，其包括电池、保险丝、负载、电阻R7和第二三极管、MOS管、电阻R8，第二三极管的E极连接电阻R7和电池的负极；该第二三极管的C极连接电阻R4后连接MCU控制芯片。阻R4后连接MCU控制芯片。阻R4后连接MCU控制芯片。

【技术实现步骤摘要】
低损耗的充电放电检测电路

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[0001]本技术涉及电子
，特指一种低损耗的充电放电检测电路。

技术介绍
：
[0002]现有技术中的产品虽然也有充电放电检测电路，但是其检测灵敏度低，且检测检测功耗高。
[0003]有鉴于此，本专利技术人提出以下技术方案。

技术实现思路
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[0004]本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种低损耗的充电放电检测电路。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术采用了下述技术方案：该低损耗的充电放电检测电路包括：MCU控制检测电路单元，其包括有稳压供电模块和与稳压供电模块电性连接的MCU控制芯片；充电与充电检测触发电路单元，其包括有充电控制电路单元、与充电控制电路单元的输出端连接的负载和保险丝、正极与保险丝连接的电池、与电池的负极连接的电阻R7和电阻R3、与电阻R7连接的MOS管、与电阻R3连接的第一三极管，该电阻R7还连接电阻R8后连接充电控制电路单元及负载，该MOS管的S极与D极分别连接所述电阻R7两端，且MOS管的S极还连接电池负极，该MOS管的G极连接MCU控制芯片；该第一三极管的C极连接电阻R1后连接稳压供电模块，该第一三极管的C极还连接MCU控制芯片的Charger_det端口，该第一三极管的E极连接在电阻R7与电阻R8之间的连接线上；放电与放电检测触发电路单元，其包括有电池、与电池的正极连接的保险丝、与保险丝连接的负载、与电池的负极连接的电阻R7和第二三极管、与电阻R7连接的MOS管和电阻R8，该第二三极管的E极连接电阻R7和电池的负极，该第二三极管的B极连接电阻R6后连接在电阻R7与电阻R8之间的连接线上；该第二三极管的C极连接电阻R4后连接所述MCU控制芯片的Discharger_det端口。
[0006]进一步而言，上述技术方案中，所述的充电控制电路单元为USB 5V充电电路，该USB 5V充电电路具有USB接口及Vin端；所述充电控制电路单元的输出端连接8.4V端，该8.4V端。
[0007]进一步而言，上述技术方案中，所述USB接口还连接有保护二极管ZD2，该保护二极管ZD2的型号为P1CH13A。
[0008]进一步而言，上述技术方案中，所述稳压供电模块包括有稳压芯片、与稳压芯片的输出端连接的VDD端和电容C5及电容C6，该电容C4、电容C5和电容C6均接地，该稳压芯片的输入端连接Vin端、8.4V端及电容C7。
[0009]进一步而言，上述技术方案中，所述电阻R4与Discharger_det端口之间还连接有二极管D1；电阻R4还连接有二极管D2后连接在电阻R7与电阻R8之间的连接线上。
[0010]进一步而言，上述技术方案中，所述二极管D1和二极管D2的型号均为BAT16TS。
[0011]进一步而言，上述技术方案中，所述电阻R8两端还并联连接有电阻R5，该电阻R5还
连接MCU控制芯片。
[0012]采用上述技术方案后，本技术与现有技术相比较具有如下有益效果：
[0013]本技术中充电检测和放电检测均具有精度高、抗干扰强、检测功耗低的特点，并且充电与充电检测触发电路单元、放电与放电检测触发电路单元共用了多个电子元器件，使本技术电路布局更加简单，且成本更低。
附图说明：
[0014]图1是本技术的电路图。
具体实施方式：
[0015]下面结合具体实施例和附图对本技术进一步说明。
[0016]见图1所示，为一种低损耗的充电放电检测电路，其包括：MCU控制检测电路单元1以及与MCU控制检测电路单元1电性连接的充电与充电检测触发电路单元2、放电与放电检测触发电路单元3。
[0017]所述MCU控制检测电路单元1包括有稳压供电模块11和与稳压供电模块11电性连接的MCU控制芯片12。
[0018]所述稳压供电模块11包括有稳压芯片111、与稳压芯片111的输出端连接的VDD端112和电容C5及电容C6，该电容C4、电容C5和电容C6均接地，该稳压芯片111的输入端连接Vin端212、8.4V端213及电容C7。
[0019]所述充电与充电检测触发电路单元2包括有充电控制电路单元21、与充电控制电路单元21的输出端连接的负载22和保险丝23、正极与保险丝23连接的电池24、与电池24的负极连接的电阻R7和电阻R3、与电阻R7连接的MOS管25、与电阻R3连接的第一三极管26，该电阻R7还连接电阻R8后连接充电控制电路单元21及负载22，该MOS管25的S极与D极分别连接所述电阻R7两端，且MOS管25的S极还连接电池24负极，该MOS管25的G极连接MCU控制芯片12；该第一三极管26的C极连接电阻R1后连接稳压供电模块11，该第一三极管26的C极还连接MCU控制芯片12的Charger_det端口，该第一三极管26的E极连接在电阻R7与电阻R8之间的连接线上。
[0020]所述的充电控制电路单元21为USB 5V充电电路，其为现有技术。
[0021]所述USB 5V充电电路具有USB接口211及Vin端212；所述充电控制电路单元21的输出端连接8.4V端213，该8.4V端213。
[0022]所述USB接口21还连接有保护二极管ZD2，该保护二极管ZD2的型号为P1CH13A，使整个充电控制电路单元21使用起来更加安全可靠。
[0023]所述放电与放电检测触发电路单元3包括有电池24、与电池24的正极连接的保险丝23、与保险丝23连接的负载22、与电池24的负极连接的电阻R7和第二三极管31、与电阻R7连接的MOS管25和电阻R8，该第二三极管31的E极连接电阻R7和电池24的负极，该第二三极管31的B极连接电阻R6后连接在电阻R7与电阻R8之间的连接线上；该第二三极管31的C极连接电阻R4后连接所述MCU控制芯片12的Discharger_det端口。
[0024]所述电阻R4与Discharger_det端口之间还连接有二极管D1；电阻R4还连接有二极管D2后连接在电阻R7与电阻R8之间的连接线上。所述二极管D1和二极管D2的型号均为
BAT16TS。
[0025]所述电阻R8两端还并联连接有电阻R5，该电阻R5还连接MCU控制芯片12。
[0026]充电状态：USB+5V通过充电控制电路单元21转换成约8.4V充电电压，并对电池24充电。电流方向是从充电控制电路单元21往保险丝23、电池的正极Vb+、电池的负极Vb
‑
，经过电阻R7、电阻R8，然后回到充电控制电路单元21的GND，电流通过瞬间，同时使第一三极管26导通，触发MCU控制芯片12的charger_det端口，由MCU控制芯片12控制MOS管25导通，电流从MOS管25通过，此时电阻R7相当于短路，且电阻R7上无电流损耗，同时也使MCU控制芯片12的charger_det端口得到了触发，其充电检测精度高，抗干扰强，检测功耗低。
[002本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.低损耗的充电放电检测电路，其特征在于：其包括：MCU控制检测电路单元(1)，其包括有稳压供电模块(11)和与稳压供电模块(11)电性连接的MCU控制芯片(12)；充电与充电检测触发电路单元(2)，其包括有充电控制电路单元(21)、与充电控制电路单元(21)的输出端连接的负载(22)和保险丝(23)、正极与保险丝(23)连接的电池(24)、与电池(24)的负极连接的电阻R7和电阻R3、与电阻R7连接的MOS管(25)、与电阻R3连接的第一三极管(26)，该电阻R7还连接电阻R8后连接充电控制电路单元(21)及负载(22)，该MOS管(25)的S极与D极分别连接所述电阻R7两端，且MOS管(25)的S极还连接电池(24)负极，该MOS管(25)的G极连接MCU控制芯片(12)；该第一三极管(26)的C极连接电阻R1后连接稳压供电模块(11)，该第一三极管(26)的C极还连接MCU控制芯片(12)的Charger_det端口，该第一三极管(26)的E极连接在电阻R7与电阻R8之间的连接线上；放电与放电检测触发电路单元(3)，其包括有电池(24)、与电池(24)的正极连接的保险丝(23)、与保险丝(23)连接的负载(22)、与电池(24)的负极连接的电阻R7和第二三极管(31)、与电阻R7连接的MOS管(25)和电阻R8，该第二三极管(31)的E极连接电阻R7和电池(24)的负极，该第二三极管(31)的B极连接电阻R6后连接在电阻R7与电阻R8之间的连接线上；该第二三极管(31)的C极连接电阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖军志，李嘉龙，
申请(专利权)人：东莞启益电器机械有限公司，
类型：新型
国别省市：