单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法，包括：多个IGBT开关组、第一吸收电路、第二吸收电路、IGBT电压检测单元、MCU控制单元及继电器控制单元，在一个IGBT开关组中，IGBT开关组包括IGBT开关单元及IGBT驱动电路，IGBT开关单元的输入端用于接入交流电的火线，IGBT开关单元的输出端分别与第二吸收电路的输入端和IGBT电压检测单元的一输入端电连接，第二吸收电路的输出端与IGBT电压检测单元电连接，并且IGBT电压检测单元还用于检测零线和火线之间的电压；第一吸收电路与IGBT开关单元并联连接，MCU控制单元还分别与IGBT电压检测单元、IGBT驱动电路和继电器控制单元电连接。本申请可以提高IGBT开关装置的检测能力，进而提高IGBT开关装置的可靠性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法


[0001]本专利技术涉及单相智慧用电保护器领域，尤其涉及一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置。

技术介绍

[0002]单相智慧用电保护器采用的是采用电子开关IGBT作为设备的主要器件，并且短路火花抑制功能是其主要功能之一，若在运行过程中如果IGBT损坏，却没有检测出来，那么在短路后就会出现大量的火花，从而引燃周围的可燃物，这是在运行中绝对不允许发生的，因此如何在单相智慧用电保护器中检测出损坏的IGBT电子开关是本领域技术人员需要考虑的问题。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置，用以解决现有装置中无法检测损坏的IGBT电子开关的技术问题。
[0004]本申请第一方面提供了一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置，包括：多个IGBT开关组、第一吸收电路、第二吸收电路、IGBT电压检测单元、MCU控制单元及继电器控制单元，在一个所述IGBT开关组中，所述IGBT开关组包括IGBT开关单元及IGBT驱动电路，所述IGBT开关单元的输入端用于接入交流电的火线，所述IGBT开关单元的输出端分别与所述第二吸收电路的输入端和所述IGBT电压检测单元的一输入端电连接，所述第二吸收电路的输出端与所述IGBT电压检测单元电连接，并且所述IGBT电压检测单元还用于检测零线和火线之间的电压；所述第一吸收电路与所述IGBT开关单元并联连接，所述MCU控制单元还分别与所述IGBT电压检测单元、所述IGBT驱动电路和所述继电器控制单元电连接。
[0005]可选地，所述IGBT电压检测单元包括第一IGBT电压检测电路及第二IGBT电压检测电路，所述第一IGBT电压检测电路和所述第二IGBT电压检测电路的输出端分别与所述MCU控制单元电连接，所述第一IGBT电压检测电路用于检测零线和火线之间的电压，所述第二IGBT电压检测电路分别与所述第一吸收电路和所述第二吸收电路的输出端电连接。
[0006]可选地，所述第一IGBT电压检测电路包括电阻R59、电阻R60、变压器T4及电阻R82，所述电阻R59的第一端与所述交流电的火线电连接，所述电阻R59的第二端经所述电阻R60与所述变压器T4的一输入端电连接，所述变压器T4的两个输出端与所述MCU控制单元电连接，所述电阻R82的两端分别与所述变压器T4的两个输出端电连接。
[0007]可选地，所述第二IGBT电压检测电路包括电阻R47、电阻R48、变压器T1及电阻R46，所述电阻R47的第一端与所述IGBT开关单元的输出端电连接，所述电阻R47的第二端经所述电阻R48与所述变压器T1的一输入端电连接，所述变压器T1的两个输出端与所述MCU控制单元电连接，所述电阻R46的两端分别与所述变压器T1的两个输出端电连接。
[0008]可选地，所述继电器控制单元包括继电器驱动电路及继电器开关J5，所述继电器驱动电路分别与所述继电器开关J5和所述MCU控制单元电连接。
[0009]可选地，所述IGBT开关组设置有两个，两个所述IGBT开关组同时并联于所述第一吸收电路的两端，并且两个所述IGBT开关组的输出端均与所述第二吸收电路电连接。
[0010]可选地，所述第二吸收电路包括电阻R1、电阻R2及电容C3，所述电阻R2的第一端经所述电容C3与所述IGBT开关组的输出端电连接，所述电阻R2的第二端与交流电的零线电连接，并且所述电容C3远离所述电阻R2的一端还与所述IGBT电压检测单元的输入端电连接，所述电阻R2与所述电阻R1并联连接。
[0011]可选地，所述第一吸收电路包括电阻R3、电阻R4及电容C4，所述电阻R3的第一端经所述电容C4与所述IGBT开关组的输出端电连接，所述电阻R3的第二端与交流电的火线电连接，并且所述电容C4远离所述电阻R3的一端还与所述IGBT电压检测单元的输入端电连接，所述电阻R3与所述电阻R4并联连接。
[0012]可选地，所述IGBT开关单元包括两个串联连接的IGBT开关。
[0013]本申请第二方面提供了一种基于以上所述的单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置的检测方法，包括如下步骤：系统启动；采集IGBT前端的电压值V1和IGBT后端的电压值V2；判断所述IGBT前端的电压值V1和所述IGBT后端的电压值V2的大小；若V2＞V1
‑
V
IGBT
，则发出IGBT损坏信号，并且断开负载的连接；若V2=V1
‑
V
IGBT
，则无IGBT损坏，接通负载的连接；其中所述V
IGBT
为IGBT开关单元的两端电压。
[0014]从以上技术方案可以看出，本申请具有以下优点：本申请中提供的一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置，通过设置第一吸收电路、第二吸收电路、IGBT电压检测单元，可以有效地检测IGBT前端的电压值和IGBT后端的电压值，并且通过比较这两个电压值和IGBT开关单元两端的电压值，可以得出是否出现IGBT开关损坏的情况，从而判断是否需要给负载进行供电，从而可以提高IGBT开关装置的检测能力，进而提高IGBT开关装置的可靠性。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0016]图1为本专利技术一实施方式的单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置的功能模块图；图2为图1所示的一实施方式的IGBT开关损坏检测装置的电路图；图3为图1所示的IGBT电压检测单元的电路图；图4为图1所示的继电器控制单元的电路图。
具体实施方式
[0017]本申请实施例公开了提供了一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置，用以解决现有装置中无法检测损坏的IGBT电子开关的技术问题。
[0018]请参阅图1~图4，一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置，包括：多个IGBT开关组100、第一吸收电路200、第二吸收电路300、IGBT电压检测单元400、MCU控制单元500及继电器控制单元600，需要说明的是，所述第一吸收电路200用于吸收IGBT开关组100两端的尖峰电压，提高装置的稳定性；所述第二吸收电路300用于吸收IGBT开关组输出端的不稳定电压，进一步使得电压更平稳；所述IGBT电压检测单元400用于检测IGBT开关组前端的电压值V1和IGBT开关组后端的电压值V2，所述MCU控制单元500用于比较IGBT开关组前后端的电压值和IGBT开关单元两端的电压值，从而判断是否进行输出电压，即是否接通继电器控制单元600的继电器，连接负载端；所述继电器控制单元600用于连接负载和IGBT开关组的输出端。
[0019]在一个所述IGBT开关本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置，其特征在于，包括：多个IGBT开关组、第一吸收电路、第二吸收电路、IGBT电压检测单元、MCU控制单元及继电器控制单元，在一个所述IGBT开关组中，所述IGBT开关组包括IGBT开关单元及IGBT驱动电路，所述IGBT开关单元的输入端用于接入交流电的火线，所述IGBT开关单元的输出端分别与所述第二吸收电路的输入端和所述IGBT电压检测单元的一输入端电连接，所述第二吸收电路的输出端与所述IGBT电压检测单元电连接，并且所述IGBT电压检测单元还用于检测零线和火线之间的电压；所述第一吸收电路与所述IGBT开关单元并联连接，所述MCU控制单元还分别与所述IGBT电压检测单元、所述IGBT驱动电路和所述继电器控制单元电连接。2.根据权利要求1所述的单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置，其特征在于，所述IGBT电压检测单元包括第一IGBT电压检测电路及第二IGBT电压检测电路，所述第一IGBT电压检测电路和所述第二IGBT电压检测电路的输出端分别与所述MCU控制单元电连接，所述第一IGBT电压检测电路用于检测零线和火线之间的电压，所述第二IGBT电压检测电路分别与所述第一吸收电路和所述第二吸收电路的输出端电连接。3.根据权利要求2所述的单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置，其特征在于，所述第一IGBT电压检测电路包括电阻R59、电阻R60、变压器T4及电阻R82，所述电阻R59的第一端与所述交流电的火线电连接，所述电阻R59的第二端经所述电阻R60与所述变压器T4的一输入端电连接，所述变压器T4的两个输出端与所述MCU控制单元电连接，所述电阻R82的两端分别与所述变压器T4的两个输出端电连接。4.根据权利要求2所述的单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置，其特征在于，所述第二IGBT电压检测电路包括电阻R47、电阻R48、变压器T1及电阻R46，所述电阻R47的第一端与所述IGBT开关单元的输出端电连接，所述电阻R47的第二端经所述电阻R48与所述变压器T1的一输入端电连接，所述变压器T1的两个输出端与所述MCU控制单元电连接，所述电阻R46的两端分别与所述变压器T1的两个输出端电连接。...

【专利技术属性】
技术研发人员：桂斌，李名银，刘震，张友华，曾肖辉，
申请(专利权)人：华邦创科惠州市智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：