多级入射孔几何对准腔式光/粒子准直系统技术方案

本实用新型专利技术属于等离子体和光学技术领域，具体涉及一种多级入射孔几何对准腔式光/粒子准直系统。本实用新型专利技术包括屏蔽罩、屏蔽层、探测器和探测器信号引线，屏蔽罩为封闭的空心腔体，在屏蔽罩顶部正中心位置，开有圆形初级入射孔，屏蔽罩内部被若干屏蔽层分割成小腔室，每个屏蔽层上都开有与初级入射孔在相同并在同一直线上的入射孔，探测器放置在腔体底部最后一层隔板的入射孔正下方，探测器信号引线穿过腔体接入数据采集分析设备。本实用新型专利技术不仅能够收集从等离子体中某一特定区域或者视线上发射/逃逸出的光谱或粒子，入射孔所在的隔板和外屏蔽构成腔体还对杂散光和粒子进行较为彻底的吞噬和吸收。为彻底的吞噬和吸收。为彻底的吞噬和吸收。

【技术实现步骤摘要】
多级入射孔几何对准腔式光/粒子准直系统


[0001]本技术属于等离子体和光学
，具体涉及一种多级入射孔几何对准腔式光/粒子准直系统。

技术介绍

[0002]在工业和物理实验中，为了对某一特定研究区域的物理参数(光谱、温度，或者粒子等)进行监测或测量，且不使探测器或者测量系统观测到研究区域之外的参数，通常会将一根被称为“准直管”的细长金属管安装在探测器或者探测系统的前方，强制探测器或测量系统只接收准直管对准区域的信号。但部分不在准直管对准区域或者“视线”上的杂散光谱或者粒子进入准直管之后，通过在准直管内壁上的多次折射或者弹射最终进入探测器，引起测量的误差和噪声。更为严重的是高能量粒子轰击准直管的入射口和内壁，溅射出的杂质粒子等会对探测器造成喷涂等损害。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于，提供一种多级入射孔几何对准腔式光/粒子准直系统，不仅能够收集从等离子体中某一特定区域或者视线上发射/逃逸出的光谱或粒子，入射孔所在的隔板和外屏蔽构成腔体还对杂散光和粒子进行较为彻底的吞噬和吸收。
[0004]本技术采用的技术方案本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多级入射孔几何对准腔式光/粒子准直系统，其特征在于：包括屏蔽罩(1)、屏蔽层、探测器(7)和探测器信号引线(8)，屏蔽罩(1)为封闭的空心腔体，在屏蔽罩(1)顶部正中心位置，开有初级入射孔(4)，屏蔽罩(1)内部被若干屏蔽层分割成小腔室，每个屏蔽层上都开有与初级入射孔(4)在相同并在同一直线上的入射孔，探测器(7)放置在腔体底部最后一层隔板的入射孔正下方，探测器信号引线(8)穿过腔体接入数据采集分析设备。2.根据权利要求1所述的一种多级入射孔几何对准腔式光/粒子准直系统，其特征在于：所述屏蔽罩(1)材料为放气率较低的不透明无氧铜、304或者316无磁不锈钢。3.根据权利要求2所述的一种多级入射孔几何对准腔式光/粒子准直系统，其特征在于：所述屏...

【专利技术属性】
技术研发人员：于利明，陈伟，石中兵，刘亮，卢杰，
申请(专利权)人：核工业西南物理研究院，
类型：新型
国别省市：