一种光学元器件损耗测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种光学元器件损耗测试装置，包括机箱、指示灯、产品接口、电源和测试电路，所述指示灯和产品接口设置于所述机箱上，所述电源和测试电路设置于所述机箱体内，所述指示灯和产品接口分别与所述测试电路连接，所述指示灯、产品接口和测试电路分别与所述电源连接，所述测试电路包括光发射器、第一光开关、第二光开关、第三光开关、第四光开关、第一耦合器、第二耦合器和光功率计；通过第二光开关和第一耦合器组成插入损耗测试电路，并通过第三光开关、第四光开关、第二耦合器和光功率计组成回波损耗测试电路，然后通过第一光开关可切换到两个工位使用，从而实现插入损耗和回波损耗的同时测试。和回波损耗的同时测试。和回波损耗的同时测试。

【技术实现步骤摘要】
一种光学元器件损耗测试装置


[0001]本技术涉及光学元器件测试
，尤其涉及一种光学元器件损耗测试装置。

技术介绍

[0002]光学元器件是光纤通信设备的重要组成部分，具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性、稳定性、机械耐磨性和抗腐蚀性、易于操作等特点，广泛应用于长距离通信、区域网络及光纤到户、视频传输、光纤感测等等，光学元器件在生产过程中，会对光学元器件进行插入损耗和回波损耗进行测试，来保证光学元器件的合格生产和使用时的安全性。
[0003]然而，现有的光学元器件损耗测试装置只能分别对插入损耗和回波损耗进行测试，并不能同时对插入损耗和回波损耗进行测试，导致光学元器件损耗测试过程费时费力，影响测试效率。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术提出一种光学元器件损耗测试装置，可以解决现有光学元器件损耗测试装置所存在的无法同时对插入损耗和回波损耗进行测试的缺陷。
[0005]本技术的技术方案是这样实现的：
[0006]一种光学元器件损耗测试装置，包括机箱、指示灯、产品接口、电源和测试电路，所述指示灯和产品本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学元器件损耗测试装置，其特征在于，包括机箱、指示灯、产品接口、电源和测试电路，所述指示灯和产品接口设置于所述机箱上，所述电源和测试电路设置于所述机箱体内，所述指示灯和产品接口分别与所述测试电路连接，所述指示灯、产品接口和测试电路分别与所述电源连接，所述测试电路包括光发射器、第一光开关、第二光开关、第三光开关、第四光开关、第一耦合器、第二耦合器和光功率计，所述光发射器的输出端与第一光开关的输入端连接，所述第一光开关的输出端分别与所述第一耦合器的输入端和第二耦合器的输入端连接，所述第一耦合器的输出端与所述第二光开关的输入端连接，所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘延文，严慧敏，李树蓉，
申请(专利权)人：深圳光泰通信设备有限公司，
类型：新型
国别省市：