一种用于DMD的排线检测治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于DMD的排线检测治具，属于芯片检测治具领域，一种用于DMD的排线检测治具，包括治具本体，所述治具本体上表面固定有定位DMD排线，所述治具本体上表面固定有用于定位DMD排线的推压机构，所述治具本体上表面位于推压机构的两侧安装有固定桩，两侧所述固定桩活动套接有压杆，所述压杆的一端固定有推板，所述推板的一侧面设置有与DMD排线紧密接触的压块，所述治具本体上表面设置有用于观测DMD排线的辅助检测机构，所述辅助检测机构用于检测DMD排线，所述治具本体上位于辅助检测机构的下方设置有调距机构，它可以实现辅助检验人员检测，降低检验人员的精力集中强度，具有较高的检验精准性。具有较高的检验精准性。具有较高的检验精准性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于DMD的排线检测治具


[0001]本技术涉及芯片检测治具领域，更具体地说，涉及一种用于DMD的排线检测治具。

技术介绍

[0002]数码光处理投影机以数字微镜装置DMD芯片作为成像器件，通过调节反射光实现投射图像的一种用于DMD的排线检测治具投影技术，而它的核心技术是DMD芯片，它与液晶投影机有很大的不同，它的成像是通过成千上万个微小的镜片反射光线来实现的。
[0003]芯片是半导体元件产品的统称，或称微电路、微芯片、晶片，在电子学中是一种用于DMD的排线检测治具将电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，而DMD芯片由于集成密度较高且体积较小，现有技术中依靠人工操作的DMD芯片的检测治具，需要工人长时间的精力高度集中，检验人员的目力持续性辨认排线时较为费力。

技术实现思路

[0004]1.要解决的技术问题
[0005]针对现有技术中存在的问题，本技术的目的在于提供一种用于DMD的排线检测治具，它可以实现辅助检验人员检测，降低检验人员的精力集中强度，具有较高的检验精准性。
[0006]2.技术方案
[0007]为解决上述问题，本技术采用如下的技术方案。
[0008]一种用于DMD的排线检测治具，包括治具本体，所述治具本体上表面设置有用于操控治具本体的指令按钮，所述治具本体上表面固定有定位DMD排线，所述治具本体上表面固定有用于定位DMD排线的推压机构，所述治具本体上表面位于推压机构的两侧安装有固定桩，两侧所述固定桩活动套接有压杆，所述压杆的一端固定有推板，所述推板的一侧面设置有与DMD排线紧密接触的压块；
[0009]所述治具本体上表面设置有用于观测DMD排线的辅助检测机构，所述辅助检测机构用于检测DMD排线；
[0010]所述治具本体上位于辅助检测机构的下方设置有调距机构，所述调距机构用于控制辅助检测机构的移动。
[0011]进一步的，所述辅助检测机构包括有窥视镜、检测部件、以及检测通道，所述检测通道开设在检测部件上方，所述窥视镜对应安装在检测部件上表面，并且检测通道与窥视镜在同一轴线上。
[0012]进一步的，所述调距机构包括有用于承载辅助检测机构的载物板，所述载物板的底部设置有升降板，所述升降板的内部转动等距安装有螺杆，载物板通过螺杆移动设置在升降板的内部。
[0013]进一步的，所述螺杆的一端均固定有调节柱，所述调节柱的环壁上还设置有用于
驱动调节柱转动的调节环带，所述调节环带的内壁与调节柱的外壁对应设置有齿凸与齿槽，调节环带与调节柱啮合连接。
[0014]进一步的，所述调距机构还包括有依次安装在升降板底部的升降撑板、调距螺块和调距齿环，所述升降撑板螺纹套接在调距螺块的外部，所述调距螺块与调距齿环固定连接，所述调距齿环的一侧啮合设置有调距蜗杆。
[0015]进一步的，所述升降撑板的环壁上对向设置有滑块，所述治具本体的内部对应升降撑板上的滑块开设有滑槽。
[0016]3.有益效果
[0017]相比于现有技术，本技术的优点在于：
[0018]本方案，窥视镜的一端可放大待检测部位，检测人员通过检测通道检测到DMD排线S的局部放大画面，由于原先的DMD排线S的体积小，不便观测，通过窥视镜放大后的DMD排线S方便检测人员目力辨认，通过转动调节环带驱动调节柱旋转，与调节柱一体连接的螺杆共同旋转，通过调整螺杆的正反旋转，使载物板左右位移，达到辅助检测机构平面移动的功能，通过转动调距蜗杆驱动调距齿环转动，与调距齿环固定连接的调距螺块联动转动，由于与调距螺块螺纹套接的升降撑板环壁上设置有滑块，治具本体的内部对应滑块开设有滑槽，当调距螺块转动时，升降撑板沿滑槽上升或下降，实现升降功能，轴向移动与直线升降相互配合，可使辅助检测机构针对DMD排线S部位放大检测，实现辅助检验人员检测，降低检验人员的精力集中强度，具有较高的检验精准性。
附图说明
[0019]图1为本技术中整体的结构示意图；
[0020]图2为本技术中X的结构示意图；
[0021]图3为本技术中X的爆炸分解结构示意图；
[0022]图4为本技术中图3中A处细节放大的结构示意图。
[0023]图中标号说明：
[0024]1、治具本体；1a、推压机构；2、固定桩；3、压杆；4、推板；5、压块；6、辅助检测机构；7、调距机构；8、窥视镜；9、检测部件；10、检测通道；11、载物板；12、升降板；13、螺杆；14、调节柱；15、调节环带；16、升降撑板；17、调距螺块；18、调距齿环；19、调距蜗杆；S、DMD排线。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]实施例1：
[0027]请参阅图1，一种用于DMD的排线检测治具，包括治具本体1上表面设置有用于操控治具本体1的指令按钮，治具本体1上表面固定有定位DMD排线S，治具本体1上表面固定有用于定位DMD排线S的推压机构1a，治具本体1上表面位于推压机构1a的两侧安装有固定桩2，两侧固定桩2活动套接有压杆3，压杆3的一端固定有推板4，推板4的一侧面设置有与DMD排
线S紧密接触的压块5；
[0028]治具本体1上表面设置有用于观测DMD排线S的辅助检测机构6，辅助检测机构6用于检测DMD排线S；
[0029]治具本体1上位于辅助检测机构6的下方设置有调距机构7，调距机构7用于控制辅助检测机构6的移动。
[0030]进一步的，推压机构1a为现有的公知结构，具体通过反向或正向拉动拉杆，使与拉杆铰接的杆部前进或后退，带动推板4上的压块5对DMD排线S紧密接触或是放松，压块5对DMD排线S紧密接触时处于固定状态，压块5对DMD排线S放松时，人工取下DMD排线S，完成检测动作。
[0031]请参阅图2，辅助检测机构6包括有窥视镜8、检测部件9、以及检测通道10，检测通道10开设在检测部件9上方，窥视镜8对应安装在检测部件9上表面，并且检测通道10与窥视镜8在同一轴线上。
[0032]其中，窥视镜8的一端可放大待检测部位，检测人员通过检测通道10检测到DMD排线S的局部放大画面，由于原先的DMD排线S的体积小，不便观测，通过窥视镜8放大后的DMD排线S方便检测人员目力辨认。
[0033]请参阅图2
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3，调距机构7包括有用于承载辅助检测机构6的载物板11，载物板11的底部设置有升降板12，升降板12的内部转动等距安装有螺杆13，载物板11通过螺杆13移动设置在升降板12的内部。
[0034]请参阅图3
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4，螺杆13的一端均本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于DMD的排线检测治具，包括治具本体(1)，所述治具本体(1)上表面设置有用于操控治具本体(1)的指令按钮，其特征在于：所述治具本体(1)上表面固定有定位DMD排线(S)，所述治具本体(1)上表面固定有用于定位DMD排线(S)的推压机构(1a)，所述治具本体(1)上表面位于推压机构(1a)的两侧安装有固定桩(2)，两侧所述固定桩(2)活动套接有压杆(3)，所述压杆(3)的一端固定有推板(4)，所述推板(4)的一侧面设置有与DMD排线(S)紧密接触的压块(5)；所述治具本体(1)上表面设置有用于观测DMD排线(S)的辅助检测机构(6)，所述辅助检测机构(6)用于检测DMD排线(S)；所述治具本体(1)上位于辅助检测机构(6)的下方设置有调距机构(7)，所述调距机构(7)用于控制辅助检测机构(6)的移动。2.根据权利要求1所述的一种用于DMD的排线检测治具，其特征在于：所述辅助检测机构(6)包括有窥视镜(8)、检测部件(9)、以及检测通道(10)，所述检测通道(10)开设在检测部件(9)上方，所述窥视镜(8)对应安装在检测部件(9)上表面，并且检测通道(10)与窥视镜(8)在同一轴线上。3.根据权利要求1所述的一种用于DMD的排线检测治具，...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘强兵，吕旭钢，
申请(专利权)人：成都迅达光电有限公司，
类型：新型
国别省市：