电缆的温升模型的确定方法、确定装置和处理器制造方法及图纸

本申请提供了一种电缆的温升模型的确定方法、确定装置和处理器。该方法包括：获取电缆样品中的接触单元的电阻值、接触单元的恒定电流值和作用时间，接触单元为电缆样品中的半导电阻水缓冲层与铝护套之间的接触部分，作用时间为半导电阻水缓冲层与铝护套之间的接触时间；根据电阻值、恒定电流值和作用时间，确定接触单元的电能值；获取半导电阻水缓冲层的比容热值以及重量；根据电能值、比容热值和重量，确定接触单元的温升模型。该方案中，建立了准确的电缆样品中的接触单元的温升模型，进而可以通过温升模型对半导电阻水缓冲层烧蚀的原因进行深入研究，进而对技术进行完善工作，从而确定预估电缆的寿命。确定预估电缆的寿命。确定预估电缆的寿命。

【技术实现步骤摘要】
电缆的温升模型的确定方法、确定装置和处理器


[0001]本申请涉及电缆检测领域，具体而言，涉及一种电缆的温升模型的确定方法、确定装置、计算机可读存储介质和处理器。

技术介绍

[0002]在110kV交联聚乙烯(XLPE)绝缘电缆中，半导电缓冲层能够为电缆无功电容电流以及绝缘层泄漏电流提供电流通道，在绝缘层与金属护套之间构造良好的电气接触。为避免电缆内部受潮，在半导电缓冲层中添加低交联型聚丙烯酸钠盐(C3H3NaO2)
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作为阻水粉，形成半导电阻水缓冲层，如图1所示，图1中的电缆共包括外护套10、防腐层11、铝护套12、半导电阻水缓冲层13、外屏蔽层14、绝缘层15、内屏蔽层16和缆芯17，其中，铝护套12的至少部分位置与半导电阻水缓冲层13接触，在未接触的部分形成空气隙18，半导电阻水缓冲层13具有较强的吸湿性，具备纵向阻水功能。
[0003]但是，近年来发生了多起绝缘电缆的半导电阻水缓冲层故障事件，故障主要表现为电缆受潮后在半导电阻水缓冲层表面出现烧蚀点，并在烧蚀部位析出白色粉末状物质，导致绝缘电缆的外屏蔽层击穿，铝护套腐蚀，目前对于半导电阻水缓冲层烧蚀的原因没有进行深入研究，进而无法准确地对电缆的寿命进行检测。

技术实现思路

[0004]本申请的主要目的在于提供一种电缆的温升模型的确定方法、确定装置、计算机可读存储介质和处理器，以解决现有技术中对于半导电阻水缓冲层烧蚀的原因没有进行深入研究，进而无法准确地对电缆的寿命进行检测的问题。
[0005]根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种电缆的温升模型的确定方法，包括：获取电缆样品中的接触单元的电阻值、所述接触单元的恒定电流值和作用时间，所述接触单元为所述电缆样品中的半导电阻水缓冲层与铝护套之间的接触部分，所述作用时间为所述半导电阻水缓冲层与所述铝护套之间的接触时间；根据所述电阻值、所述恒定电流值和所述作用时间，确定所述接触单元的电能值；获取所述半导电阻水缓冲层的比容热值以及重量；根据所述电能值、所述比容热值和所述重量，确定所述接触单元的温升模型。
[0006]可选地，在获取电缆样品中的接触单元的电阻值之前，所述方法还包括：制备所述电缆样品；对所述电缆样品进行注水；对所述电缆样品进行干燥，且计算所述电缆样品注水前和干燥后的电阻值的差值。
[0007]可选地，在对所述电缆样品进行注水之前，所述方法还包括：对所述电缆样品的外屏蔽层和所述铝护套之间的交流电阻值和直流电阻值进行第一次测量，得到初始交流电阻值和初始直流电阻值，对所述电缆样品进行注水，包括：控制搬运设备将所述电缆样品的第一端接入注水软管进行注水，直到所述电缆样品的第二端有水渗出。
[0008]可选地，对所述电缆样品进行干燥，且计算所述电缆样品注水前和干燥后的电阻值的差值，包括：控制所述搬运设备将所述电缆样品放入烘箱中，并控制按照预定温度进行
干燥；每隔预定时间段控制所述搬运设备取出所述电缆样品，并对所述电缆样品的所述外屏蔽层和所述铝护套之间的交流电阻值和直流电阻值进行测量，得到多个实际交流电阻值和实际直流电阻值；多次计算所述初始交流电阻值和所述实际交流电阻值的第一差值，多次计算所述初始直流电阻值和所述实际直流电阻值的第二差值。
[0009]可选地，获取电缆样品中的接触单元的电阻值，包括：获取所述接触单元的接触电阻率、接触厚度和接触面积；根据所述接触电阻率、所述接触厚度和所述接触面积，确定所述接触单元的所述电阻值。
[0010]可选地，获取所述半导电阻水缓冲层的重量，包括：获取所述半导电阻水缓冲层的缓冲材料的比重、所述接触单元的接触面积和接触厚度；根据所述缓冲材料的比重、所述接触面积和所述接触厚度，确定所述半导电阻水缓冲层的重量。
[0011]可选地，所述方法还包括：根据所述温升模型，确定所述接触单元的温升与接触电阻率之间的函数关系。
[0012]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种电缆的温升模型的确定装置，包括：第一获取单元，用于获取电缆样品中的接触单元的电阻值、所述接触单元的恒定电流值和作用时间，所述接触单元为所述电缆样品中的半导电阻水缓冲层与铝护套之间的接触部分，所述作用时间为所述半导电阻水缓冲层与所述铝护套之间的接触时间；第一确定单元，用于根据所述电阻值、所述恒定电流值和所述作用时间，确定所述接触单元的电能值；第二获取单元，用于获取所述半导电阻水缓冲层的比容热值以及重量；第二确定单元，用于根据所述电能值、所述比容热值和所述重量，确定所述接触单元的温升模型。
[0013]根据本专利技术实施例的又一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行任意一种所述的方法。
[0014]根据本专利技术实施例的再一方面，还提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行任意一种所述的方法。
[0015]在本专利技术实施例中，首先获取电缆样品中的接触单元的电阻值、上述接触单元的恒定电流值和作用时间，之后根据上述电阻值、上述恒定电流值和上述作用时间，确定上述接触单元的电能值，之后获取上述半导电阻水缓冲层的比容热值以及重量，最后根据上述电能值、上述比容热值和上述重量，确定上述接触单元的温升模型。该方案中，建立了准确的电缆样品中的接触单元的温升模型，进而可以通过温升模型对半导电阻水缓冲层烧蚀的原因进行深入研究，进而对技术进行完善工作，从而确定预估电缆的寿命。
附图说明
[0016]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0017]图1示出了绝缘电缆的结构示意图；
[0018]图2示出了半导电阻水缓冲层的结构示意图；
[0019]图3示出了一种电缆样品的等效电路图；
[0020]图4示出了放电过程中的变化曲线图；
[0021]图5示出了根据本申请实施例的一种电缆的温升模型的确定方法的流程示意图；
[0022]图6示出了电缆样品进行注水的示意图；
[0023]图7示出了测量外屏蔽层和铝护套之间的交流电阻值的示意图；
[0024]图8示出了测量外屏蔽层和铝护套之间的直流电阻值的示意图；
[0025]图9示出了测量电阻值的等效电路图；
[0026]图10示出了根据本申请的高压对地回路的等效电路图；
[0027]图11示出了根据本申请实施例的一种电缆的温升模型的确定装置的结构示意图；
[0028]图12(a)示出了一种电缆样品的电阻值的变化趋势示意图；
[0029]图12(b)示出了另一种电缆样品的电阻值的变化趋势示意图。
[0030]其中，上述附图包括以下附图标记：
[0031]10、外护套；11、防腐层；12、铝护套；13、半导电阻水缓冲层；14、外屏蔽层；15、绝缘层；16、内屏蔽层；17、缆芯；18、空气隙；20、无纺布；21、蓬松棉本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电缆的温升模型的确定方法，其特征在于，包括：获取电缆样品中的接触单元的电阻值、所述接触单元的恒定电流值和作用时间，所述接触单元为所述电缆样品中的半导电阻水缓冲层与铝护套之间的接触部分，所述作用时间为所述半导电阻水缓冲层与所述铝护套之间的接触时间；根据所述电阻值、所述恒定电流值和所述作用时间，确定所述接触单元的电能值；获取所述半导电阻水缓冲层的比容热值以及重量；根据所述电能值、所述比容热值和所述重量，确定所述接触单元的温升模型。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取电缆样品中的接触单元的电阻值之前，所述方法还包括：制备所述电缆样品；对所述电缆样品进行注水；对所述电缆样品进行干燥，且计算所述电缆样品注水前和干燥后的电阻值的差值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在对所述电缆样品进行注水之前，所述方法还包括：对所述电缆样品的外屏蔽层和所述铝护套之间的交流电阻值和直流电阻值进行第一次测量，得到初始交流电阻值和初始直流电阻值，对所述电缆样品进行注水，包括：控制搬运设备将所述电缆样品的第一端接入注水软管进行注水，直到所述电缆样品的第二端有水渗出。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对所述电缆样品进行干燥，且计算所述电缆样品注水前和干燥后的电阻值的差值，包括：控制所述搬运设备将所述电缆样品放入烘箱中，并控制按照预定温度进行干燥；每隔预定时间段控制所述搬运设备取出所述电缆样品，并对所述电缆样品的所述外屏蔽层和所述铝护套之间的交流电阻值和直流电阻值进行测量，得到多个实际交流电阻值和实际直流电阻值；多次计算所述初始交流电阻值和所述实际交流电阻值的第一差值，多次计算所述初始直流电阻值和所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王智晖，刘若溪，桂媛，徐兴全，齐佳乐，及洪泉，王志勇，
申请(专利权)人：国家电网有限公司，
类型：发明
国别省市：