基于空间光调制器波前校正的显微成像装置与方法制造方法及图纸

一种基于空间光调制器波前校正的显微成像装置与方法，可以用来实现对任意规格盖玻片引起显微物镜像差校正成像，并同时对显微物镜自身及其他系统像差进行校正。该装置利用波前传感器对物镜后波前进行探测同时利用空间光调制器进行补偿。该装置省去了制造不同厚度盖玻片的补偿测试片，而且对显微物镜以及其他系统像差也有很好的校正效果，在光学显微成像领域具有很大的应用价值。域具有很大的应用价值。域具有很大的应用价值。

【技术实现步骤摘要】
基于空间光调制器波前校正的显微成像装置与方法


[0001]本专利技术涉及光学成像领域，具体为基于波前传感器探测的波前矫正成像装置，可以用来实现对任意规格盖玻片引起显微物镜像差校正成像，并且同时对物镜像差及其他系统像差进行校正。

技术介绍

[0002]显微镜可以分为物镜和目镜两个镜组，传统显微镜的物镜和目镜通过镜筒连接结构相对封闭无法继续进行像差补偿，而且只需要实现简单的观察即可，所以对成像要求不高。但是随着科研需求的不断深入，物镜和目镜相对分离，这就为后续像差补偿提供了可能性。但是目镜和人眼被高分辨率镜头和CCD取代，而且二者一般配套使用不可以继续实现对目镜的像差优化。所以对物镜继续优化为一种提升成像质量且切实可行的方案，而且物镜直接与物方光线作用可以将物方对成像的影响和物镜像差同时优化。
[0003]平行光经过理想显微物镜时聚焦于焦点处，当焦点附近存在其他折射率介质时不同孔径角的光束经过界面后聚焦位置会偏离焦点沿轴向分布，如果反向用于成像，上述现象会大大降低成像质量。然而在显微镜成像中通常要将被观察物体放在盖玻片下进行固定然后再经过显本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于空间光调制器波前校正的显微成像装置，其特征在于，包括：激光器，用于提供光源；扩束准直系统，用于将激光束扩束并准直成平行光；空间光调制器，用于对入射平行光进行相位调制产生包含预畸变相位波前的光；缩束系统，用于解决空间光调制器出射光斑与显微物镜光瞳不匹配的问题；显微物镜，用于空间光调制器调制的光进行聚焦；波前传感器，用于对显微镜出射面的波前进行探测。计算机，用于接收波前传感器探测的信号并进行处理，同时根据处理结果产生调制信号传递给空间光调制器进行调制。2.根据权利要求1所述的基于波前传感器探测的显微物镜波前校正成像装置，其特征在于，所述的激光器(1)输出激光的波长在空间光调制器(3)和显微物镜(5)的工作波长范围内。3.根据权利要求1所述的基于波前传感器探测的显微物镜波前校正成像装置，其特征在于，所述的波前传感器(6)紧贴显微物镜(5)出射面放置对紧贴显微物镜(5)出射...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾爱军，乔适，胡敬佩，董延更，黄惠杰，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：