测试电路和测试系统技术方案

本申请涉及一种测试电路和测试系统。该测试电路包括负载电路、运放电路和驱动电路；其中，负载电路包括MOS管和负载电阻，MOS管的第一极通过负载电阻接地，MOS管的第二极用于与被测电源连接；驱动电路的输出端与MOS管的控制极连接，驱动电路的输入端用于与驱动信号产生电路连接；运放电路的输入端与负载电阻的至少一端连接，运放电路的输出端与驱动电路连接；在测试电路处于工作状态的情况下，驱动信号产生电路所产生的信号电压与运放电路的输出端的电压相等。本申请提供的技术方案能够提高电源测试的可靠性。高电源测试的可靠性。高电源测试的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
测试电路和测试系统


[0001]本申请涉及测试
，特别是涉及一种测试电路和测试系统。

技术介绍

[0002]随着芯片制造国产化进程的加速，国内很多芯片厂商陆续推出了国产CPU(central processing unit，中央处理器)、GPU(graphics processing unit，图形处理器)等芯片。在芯片的设计过程中，对芯片的电源进行测试验证是非常重要的步骤。
[0003]通常情况下，期望芯片的电流发生瞬变时，电源的输出电压也能维持在特定容差范围内，这样才能确保芯片线路的正常工作。目前，一般是通过电子负载仪模拟芯片产生电流来对电源进行测试验证。
[0004]但是，上述利用电子负载仪进行电源测试，常常存在电源测试的可靠性差的问题。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高电源测试的可靠性的测试电路和测试系统。
[0006]第一方面，本申请提供了一种测试电路，所述测试电路包括负载电路、运放电路和驱动电路；其中，
[0007]所述负载电路包括MOS本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路包括负载电路、运放电路和驱动电路；其中，所述负载电路包括MOS管和负载电阻，所述MOS管的第一极通过所述负载电阻接地，所述MOS管的第二极用于与被测电源连接；所述驱动电路的输出端与所述MOS管的控制极连接，所述驱动电路的输入端用于与驱动信号产生电路连接；所述运放电路的输入端与所述负载电阻的至少一端连接，所述运放电路的输出端与所述驱动电路连接；在所述测试电路处于工作状态的情况下，所述驱动信号产生电路所产生的信号电压与所述运放电路的输出端的电压相等。2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述驱动电路的输入端包括第一驱动输入端和第二驱动输入端；其中，所述第一驱动输入端用于与所述驱动信号产生电路连接；所述第二驱动输入端通过第一电阻与所述驱动电路的输出端连接，且所述运放电路的输出端与所述驱动电路的输出端连接。3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，或者，所述第一驱动输入端用于与所述驱动信号产生电路连接；所述第二驱动输入端通过目标电容与所述驱动电路的输出端连接，且所述运放电路的输出端与所述第二驱动输入端连接。4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述运放电路的输入端包括第一运放输入端和第二运放输入端；所述第一运放输入端与所述负载电阻靠近所述MOS管的一端连接，所述第二运放输入端在第一支路通过第二电阻接地，且所述第二运放输入端在第二支路通过第三电阻连接所述运放电路的输出端；或者，所述第一运放输入端与所述第二运放输入端分别连接于所述负载电阻的两端，且所述第二运放输入端通过第四电阻与所述运放电路的输出端连接。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹龙，沙祥彪，晏显栋，吕厚登，周红胜，
申请(专利权)人：中科可控信息产业有限公司，
类型：发明
国别省市：