一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法技术

本发明专利技术属于电子产品测试性设计技术领域，具体涉及一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法，将电子装备系统状态由传统的二状态假定(“正常”和“硬故障”)转变为三状态假定(“正常”、“间歇”和“硬故障”)，其中“间歇”状态又包括“间歇故障”和“间歇恢复”两个子状态。根据电子产品嵌入式测试(BIT)序列，利用本发明专利技术的方法，对系统状态进行判定。能在实现电子产品状态评估的同时，识别出间歇状态，有效提高了电子产品状态评估性能，降低了使用过程中的BIT虚警率。虚警率。虚警率。

【技术实现步骤摘要】
一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法


[0001]本专利技术属于电子产品测试性设计
，具体涉及一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法。

技术介绍

[0002]测试性是指产品能及时准确地确定其状态(可工作、不可工作或性能下降) 并隔离其内部故障的一种设计特性。机内测试是产品测试性设计的一项重要内容。BIT(电子产品嵌入式测试)是指系统或设备内部提供的检测和隔离故障的自动测试能力。它可以显著改善系统测试性能与故障诊断能力，在各种电子设备测试性设计中日益受到重视。但虚警率较高始终是困扰BIT技术研究和应用的主要问题之一。BIT虚警问题是导致电子产品可用性低、使用保障费用高的重要因素。
[0003]美军装备和电子工业的数据表明：间歇故障是导致BIT虚警的一个主要原因，占电子系统BIT虚警的30％～40％。间歇故障的特点是随机出现和消失，其发生时间随机，在有限的、不能预料的时间内对系统产生影响。
[0004]间歇故障的这种不确定性引起了诸如故障不能复现(CND)、重测合格(RTOK)等不确定问题，这些问题都将导致BIT虚警本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法，其特征在于，包括以下步骤：S101建立被测单元的状态转换模型；所述模型的状态包括：正常状态、间歇状态以及硬故障状态；所述间歇状态包括间歇故障状态和间歇恢复状态；S102被测单元的间歇状态识别：S102.1默认被测单元初始为正常状态，对被测单元进行持续的电子产品嵌入式测试(BIT)监控，得到判断结果，判断结果为正常状态下的时间序列：X
Norm
＝[x1,x2,L,x
N
]；S102.2根据所述时间序列得到P0和P1；若P1减小到设定的阈值，则被测单元进入间歇状态；S103被测单元的状态评估与虚警抑制：S103.1当被测单元进入间歇状态后，获取多个电子产品嵌入式测试样本，多次评估后得到P0和P1的更精确估值；S103.2持续进行K0或K1次电子产品嵌入式测试记录，得到间歇状态下的时间序列X
intm
＝[x1,x2,L,x
N
]，利用时间序列X
intm
对P0和P1进行估计和校正；S103.3基于状态转换模型的定义进行状态评估；S103.4在间歇故障状态与间歇恢复状态之间切换时，将当前K
0i
或K
1j
次电子产品嵌入式测试数据补充至时间序列X
intm
，同时利用补充后的X
intm
重新估计P0和P1；S103.5重复所述S103.3和S103.4，直至UUT退出间歇状态或所述被测单元任务执行结束；其中：P0：为间歇恢复状态转移到间歇故障状态的概率；P1：为间歇故障状态转移到间歇恢复状态的概率；P
K
：状态转移的置信度；K0：在概率P0和置信度P
K
下，判定间歇故障状态转移到间歇恢复状态需要的电子产品嵌入式测试次数；K1：在概率P1和置信度P
K
下，判定间歇故障状态转移到间歇恢复状态需要的电子产品嵌入式测试次数。2.根据权利要求1所述的电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法，其特征在于，所述设定的阈值为接近于1的较大值。3.根据权利要求2所述的电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法，其特征在于，所述S103.3中，状态评估的方法包括以下步骤：S103.31设初始状态默认为正常；S103.32持续运行电子产品嵌入式测试，直至产生一次报故；S103.33动态评估P0和P1，直至P1＜0.9；S103.34进行N次电子产品嵌入式测试采样，根据样本动态估计P0和P1，；S103.34选择当前电子产品嵌入式测试是否报故，如是，系统状态切换为间歇故障状态并进行K0＝f(P0)次电子产品嵌入式测试采样，如否，系统状态切换至间歇恢复状态并进行K1＝f(P1)次电子产品嵌入式测试采样；如K1次电子产品...

【专利技术属性】
技术研发人员：李占领，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：