一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统，在一个具体的实施例中，所述稳压器筛选方法包括：通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接，所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接；判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标，若满足，则所述待测三端稳压器合格。本发明专利技术通过测试装置依次连接三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪，在装机前对晶体振荡器用三端稳压器进行相位噪声筛选测试，测试方面快捷，不损伤器件，解决了由于频繁拆装对稳压器造成的伤害。害。害。

【技术实现步骤摘要】
一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统


[0001]本专利技术涉及线性电源
更具体地，涉及一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统。

技术介绍

[0002]晶体振荡器因其良好的频率特性，常被用作时间频率基准，广泛应用于通信、雷达、导航和制导等系统中。当晶振电源电压变化时，会导致晶振振荡器工作点漂移、输入阻抗变化以及加热功率管加热电流摆动，从而引起振荡频率的变化，因此恒温晶振内部通常需要进行稳压设计。
[0003]但在多次的生产调试过程中我们发现，稳压器相位噪声特性具有批次性差异，又由于稳压器通常放置于晶振电路板背面，且为TO
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39封装，拆装不便，频繁拆装容易造成器件损伤。

技术实现思路

[0004]本专利技术的一个目的在于提供一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统，解决目前频繁拆装对稳压器造成的器件损伤问题。
[0005]为达到上述目的，本专利技术采用下述技术方案：
[0006]本专利技术公开了一种稳压器筛选方法，包括：
[0007]通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接，所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接；
[0008]判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标，若满足，则所述待测三端稳压器合格。
[0009]优选地，所述通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接包括：
[0010]将所述待测三端稳压器和晶体振荡器按照引脚定义正确插装在所述测试装置的相应位置上。
[0011]优选地，所述测试装置的一端与公共电源端口连接，使得外部电源至待测产品以进行测试。
[0012]本专利技术第二方面提供了一种测试装置，包括第一插口，其对应的连接点与所述第一电容器的第一端连接；
[0013]第二插口，其对应的连接点接地；
[0014]第三端口，其对应的连接点与所述第二电容器的第一端连接，所述第二电容器的第二端接地；
[0015]第四插口，其对应的连接点与所述第二电容器的第一端连接；
[0016]第五插口，与所述第四插口并排设置，其对应的连接点与所述第六插口对应的连接点相连；
[0017]第六插口，用于实现SMA电缆线的电连接。
[0018]进一步地，所述测试装置还包括电源输入端，用于引入外部电源。
[0019]本专利技术第三方面提供了一种稳压器筛选系统，包括本专利技术第二方面所述的测试装置、待测三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪；
[0020]所述待测三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪通过所述测试装置依次连接。
[0021]进一步地，所述待测三端稳压器的三端分别插入所述测试装置的第一插口、第二插口和第三插口以实现连接；
[0022]所述晶体振荡器的两端插头插入所述测试装置的第四插口和第五插口以实现连接；
[0023]所述相位噪声测试仪的信号输入端通过SMA转接口与所述测试装置的第六插口电连接。
[0024]本专利技术的有益效果如下：
[0025]本专利技术通过测试装置依次连接三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪，在装机前对晶体振荡器用三端稳压器进行相位噪声筛选测试，测试方面快捷，不损伤器件，解决了由于频繁拆装对稳压器造成的伤害。
附图说明
[0026]下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步详细的说明。
[0027]图1示出本专利技术实施例提供的一种稳压器筛选方法的步骤图。
[0028]图2示出本专利技术实施例中稳压器在晶体振荡器中的应用原理图。
[0029]图3示出本专利技术实施例提供的一种测试装置的示意图。
[0030]图4示出本专利技术实施例提供的一种稳压器筛选系统的结构示意图。
[0031]图5示出本专利技术实施例提供的一种稳压器筛选系统的电路示意图。
具体实施方式
[0032]为了更清楚地说明本专利技术，下面结合优选实施例和附图对本专利技术做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本专利技术的保护范围。
[0033]如图1所示，本实施例公开了一种稳压器筛选方法。本实施例中，所述稳压器筛选方法包括：
[0034]S20：通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接，所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接；
[0035]S40：判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标，若满足，则所述待测三端稳压器合格。
[0036]在一个优选的实施例中，所述通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接包括：
[0037]将所述待测三端稳压器和晶体振荡器按照引脚定义正确插装在所述测试装置的相应位置上，其中，
[0038]所述测试装置的一端与公共电源端口连接，使得外部电源至待测产品以进行测试。
[0039]在一个具体的实施例中，所述三端稳压器为JW78L系列的稳压器，其稳压性能好，可靠性高，广泛应用于宇航级恒温晶体振荡器中，其在晶体振荡器中的应用原理图如图2所述。
[0040]如图3所示，本专利技术的一个实施例提供了一种测试装置。在本实施例中，所述测试装置包括：
[0041]第一插口，其对应的连接点与所述第一电容器的第一端连接；
[0042]第二插口，其对应的连接点接地；
[0043]第三端口，其对应的连接点与所述第二电容器的第一端连接，所述第二电容器的第二端接地；
[0044]第四插口，其对应的连接点与所述第二电容器的第一端连接；
[0045]第五插口，与所述第四插口并排设置，其对应的连接点与所述第六插口对应的连接点相连；
[0046]第六插口，用于实现SMA电缆线的电连接，具体的，为SMA
‑
BNC电缆线。
[0047]所述测试装置还包括电源输入端，用于引入外部电源。
[0048]如图4所示，本专利技术的一个实施例提供了一种稳压器筛选系统。在本实施例中，
[0049]所述稳压器筛选系统包括上述实施例提供的测试装置4、待测三端稳压器1、晶体振荡器2和相位噪声测试仪(相噪测试仪)；
[0050]所述待测三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪通过所述测试装置连接。
[0051]在一个具体的实施例中，如图4所述待测三端稳压器的三端分别插入所述测试装置的第一插口、第二插口和第三插口以实现连接；
[0052]所述晶体振荡器的两端插头插入所述测试装置的第四插口和第五插口以实现连接；
[0053]所述相位噪声测试仪的信号输入端通过SMA转接口3与所述测试装置的第六插口电连接，接收输出的相位噪声。
[0054]在一个具体的实施例中，所述晶体振荡器内部未连接稳压电路。
[0055]在一个具体的实施例中，连接完成后的电路如图5所示。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种稳压器筛选方法，其特征在于，包括：通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接，所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接；判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标，若满足，则所述待测三端稳压器合格。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接包括：将所述待测三端稳压器和晶体振荡器按照引脚定义正确插装在所述测试装置的相应位置上。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试装置的一端与公共电源端口连接，使得外部电源至待测产品以进行测试。4.一种测试装置，其特征在于，包括：第一插口，其对应的连接点与所述第一电容器的第一端连接；第二插口，其对应的连接点接地；第三端口，其对应的连接点与所述第二电容器的第一端连接，所述第二电容器...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗梦佳，彭慧丽，于德江，乔志峰，韩艳菊，苏霞，于姗姗，王巨，陈金和，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：