接触器的测试装置制造方法及图纸

本申请提供了一种接触器的测试装置，该测试装置包括：电子负载单元，用于与待测接触器电连接；数据采集单元，与电子负载单元电连接，数据采集单元用于采集电子负载单元的输出数据，输出数据包括输出电压以及输出电流；控制芯片，与电子负载单元以及数据采集单元分别电连接，控制芯片用于控制待测接触器的开关状态，接收输出数据，并将输出数据与待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，比对信息包括用于表征待测接触器是否合格的信息。该接触器的测试装置实现了待测接触器在不同电压、电流下的寿命自动检测，保证了能够较高效较准确地测试接触器的电气寿命，从而解决了现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
接触器的测试装置


[0001]本申请涉及接触器领域，具体而言，涉及一种接触器的测试装置。

技术介绍

[0002]高压直流接触器是纯电汽车高压控制箱的核心电子元器件，该元件在电路中具有导通、断开高、低压电路回路的作用，因此接触器的寿命直接关系到车辆行驶的安全性和稳定性。
[0003]高压直流接触器的寿命参数主要有两个，即机械寿命、电气寿命；机械寿命是指接触器在空载的工作条件下，能正常吸合断开的循环次数；电气寿命则是在规定的带载工作条件下，接入额定负载，按实验要求，能连续正常工作的次数；一般来说接触器的机械寿命要比其电气寿命长的多，因此对接触器寿命的测试主要以电气寿命为主。
[0004]现有测试技术中，一般通过人工抽样测试，通过定时器、计数器等装置，进行大量的试验获取接触器的电气寿命，该作业模式测试效率低且高度依赖人员操作和判定。

技术实现思路

[0005]本申请的主要目的在于提供一种接触器的测试装置，以解决现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。
[0006]为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种接触器的测试装置，包括：电子负载单元，用于与待测接触器电连接；数据采集单元，与所述电子负载单元电连接，所述数据采集单元用于采集所述电子负载单元的输出数据，所述输出数据包括输出电压以及输出电流；控制芯片，与所述电子负载单元以及所述数据采集单元分别电连接，所述控制芯片用于控制所述待测接触器的开关状态，接收所述输出数据，并将所述输出数据与所述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，所述比对信息包括用于表征所述待测接触器是否合格的信息。
[0007]进一步地，所述装置还包括：驱动单元，所述驱动单元的一端与所述控制芯片电连接，所述驱动单元的另一端用于与所述待测接触器电连接，所述控制芯片通过控制所述驱动单元的开启或者关闭，来控制所述待测接触器的开关状态。
[0008]进一步地，所述驱动单元包括晶体管。
[0009]进一步地，所述装置还包括：数据存储单元，与所述控制芯片电连接，所述数据存储单元用于存储所述控制芯片发送的所述输出数据以及所述比对信息。
[0010]进一步地，所述装置还包括：终端，与所述控制芯片电连接，所述终端用于获取所述标准数据，将所述标准数据发送至所述控制芯片，并控制所述控制芯片对所述待测接触器进行测试。
[0011]进一步地，所述比对信息还包括用于表征所述待测接触器的测试次数的信息，所述终端还用于接收所述比对信息并显示。
[0012]进一步地，所述装置还包括：测试平台，用于放置所述待测接触器。
[0013]进一步地，所述装置还包括：电源单元，至少与所述数据采集单元以及所述控制芯片分别电连接，所述电源单元用于至少为所述数据采集单元以及所述控制芯片供电。
[0014]应用本申请的技术方案，所述接触器的测试装置，包括：电子负载单元，用于与待测接触器电连接；数据采集单元，与所述电子负载单元电连接，所述数据采集单元用于采集所述电子负载单元的输出数据，所述输出数据包括输出电压以及输出电流；控制芯片，与所述电子负载单元以及所述数据采集单元分别电连接，所述控制芯片用于控制所述待测接触器的开关状态，接收所述输出数据，并将所述输出数据与所述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，所述比对信息包括用于表征所述待测接触器是否合格的信息。该接触器的测试装置，通过电子负载单元为待测接触器提供相应的负载电压和电流，通过数据采集单元采集电子负载单元的输出电压以及输出电流这些输出数据，通过控制芯片控制待测接触器的开关状态，并根据输出数据和标准数据，生成表征待测接触器是否合格的比对信息，实现了待测接触器在不同电压、电流下的寿命自动检测，保证了能够较高效较准确地测试接触器的电气寿命，从而解决了现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。
附图说明
[0015]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0016]图1示出了根据本申请的一种的实施例的接触器测试装置的结构示意图；
[0017]图2示出了根据本申请的一种的实施例的接触器测试过程的流程图。
[0018]其中，上述附图包括以下附图标记：
[0019]11、驱动单元；12、测试平台；13、电子负载单元；14、数据存储单元；15、控制芯片；16、数据采集单元；17、终端；18、电源单元。
具体实施方式
[0020]应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。
[0021]需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
[0022]应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及权利要求书中，当描述有元件“连接”至另一元件时，该元件可“直接连接”至该另一元件，或者通过第三元件“连接”至该另一元件。
[0023]正如
技术介绍
所介绍的，现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低，为了解决如上问题，本申请提出了一种接触器的测试装置。
[0024]本申请的一种典型的实施例中，如图1所示，提供了一种接触器的测试装置，包括：电子负载单元13，用于与待测接触器电连接；数据采集单元16，与上述电子负载单元13电连
接，上述数据采集单元16用于采集上述电子负载单元13的输出数据，上述输出数据包括输出电压以及输出电流；控制芯片15，与上述电子负载单元13以及上述数据采集单元16分别电连接，上述控制芯片15用于控制上述待测接触器的开关状态，接收上述输出数据，并将上述输出数据与上述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，上述比对信息包括用于表征上述待测接触器是否合格的信息。
[0025]上述接触器的测试装置，包括电子负载单元、数据采集单元和控制芯片，上述电子负载单元与待测接触器电连接；上述数据采集单元与上述电子负载单元电连接，用于采集上述电子负载单元的输出数据，上述输出数据包括输出电压以及输出电流；上述控制芯片与上述电子负载单元以及上述数据采集单元分别电连接，用于控制上述待测接触器的开关状态，接收上述输出数据，并将上述输出数据与上述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，上述比对信息包括用于表征上述待测接触器是否合格的信息。该接触器的测试装置，通过电子负载单元为待测接触器提供相应的负载电压和电流，通过数据采集单元采集电子负载单元的输出电压以及输出电流这些输出数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种接触器的测试装置，其特征在于，包括：电子负载单元，用于与待测接触器电连接；数据采集单元，与所述电子负载单元电连接，所述数据采集单元用于采集所述电子负载单元的输出数据，所述输出数据包括输出电压以及输出电流；控制芯片，与所述电子负载单元以及所述数据采集单元分别电连接，所述控制芯片用于控制所述待测接触器的开关状态，接收所述输出数据，并将所述输出数据与所述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，所述比对信息包括用于表征所述待测接触器是否合格的信息。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：驱动单元，所述驱动单元的一端与所述控制芯片电连接，所述驱动单元的另一端用于与所述待测接触器电连接，所述控制芯片通过控制所述驱动单元的开启或者关闭，来控制所述待测接触器的开关状态。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述驱动单元包括晶体管。4.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：张伟美，胡兆伟，李祖定，黄海，凌通，
申请(专利权)人：银隆新能源股份有限公司，
类型：新型
国别省市：