一种大米品质检测辅助装置制造方法及图纸

技术编号:33307937 阅读:26 留言:0更新日期:2022-05-06 12:18
本实用新型专利技术涉及大米检测技术领域,且公开了一种大米品质检测辅助装置,包括第一筛选框和第二筛选框,所述第一筛选框安装在第二筛选框的顶部,所述第一筛选框的内部固定第一筛选框架,所述第二筛选框的内部固定有第二筛选框架,所述第一筛选框架和第二筛选框架的内部均等距开设有米粒孔,且第一筛选框架上部的米粒孔大于第二筛选框架上部的米粒孔。本实用新型专利技术在对大米的颗粒大小进行筛选时,将大米投放到第一筛选框的内部,然后对大米进行筛选,其次将比较扁小或者碎米通过米粒孔流入到第二筛选框架的上部,从而完成了对米粒进行筛选的工作,从而方便对优质米粒和劣质进行检测的工作。作。作。

【技术实现步骤摘要】
一种大米品质检测辅助装置


[0001]本技术涉及大米检测
,具体为一种大米品质检测辅助装置。

技术介绍

[0002]在对大米的品质检测的过程中,通常都是将比较饱和的米和瞎米分离出来,再次对大米进行检测,但是由于大米的颗粒比较多,所以需要用到一种对大米进行筛选的辅助装置。
[0003]目前市场上的大米品质检测辅助装置:
[0004]在对大米检测的过程中,通常都是将米粒的大小进行筛选,再次对米粒的大小进行检测,现有的大米品质检测辅助装置不具备对米粒进行筛选的功能。
[0005]所以我们提出了一种大米品质检测辅助装置,以便于解决上述中提出的问题。

技术实现思路

[0006](一)解决的技术问题
[0007]针对上述
技术介绍
中现有技术的不足,本技术的目的在于提供一种大米品质检测辅助装置,以解决上述
技术介绍
中提出的目前市场上的一些大米品质检测辅助装置,存在不具备对米粒进行筛选的功能的问题。
[0008](二)技术方案
[0009]为实现以上目的,本技术通过以下技术方案予以实现:
[0010]一种大米品质检测辅助装置,包括第一筛选框和第二筛选框,所述第一筛选框安装在第二筛选框的顶部,所述第一筛选框的内部固定第一筛选框架,所述第二筛选框的内部固定有第二筛选框架,所述第一筛选框架和第二筛选框架的内部均等距开设有米粒孔,且第一筛选框架上部的米粒孔大于第二筛选框架上部的米粒孔。
[0011]进一步的,所述第一筛选框的底部处于开放状态,所述第二筛选框的底部是密封状态。
[0012]优选的,所述第一筛选框的顶部内部安装有观察镜,且观察镜位于第一筛选框架的上部,所述观察镜的边缘处固定有密封胶,所述观察镜通过密封胶与第一筛选框的内部进行卡接。
[0013]优选的,所述观察镜顶部固定有拉块,两个所述拉块的外表面开设有防滑颗粒。
[0014]优选的,所述第二筛选框的顶部固定有磁铁,所述第一筛选框的底部开设有与磁铁相适配的凹槽,所述凹槽的顶壁固定有金属片,所述第二筛选框通过磁铁与凹槽的顶壁的金属片进行吸附。
[0015](三)有益效果
[0016]与现有技术相比,本技术的有益效果是:
[0017]本技术在对大米的颗粒大小进行筛选时,将大米投放到第一筛选框的内部,然后对大米进行筛选,其次将比较扁小或者碎米通过米粒孔流入到第二筛选框架的上部,
从而完成了对米粒进行筛选的工作,从而方便对优质米粒和劣质进行检测的工作。
附图说明
[0018]图1为本技术大米品质检测辅助装置的剖面结构示意图;
[0019]图2为本技术大米品质检测辅助装置的图1中A局部放大结构示意图;
[0020]图3为本技术大米品质检测辅助装置的第一筛选框架俯视结构示意图;
[0021]图4为本技术大米品质检测辅助装置的观察镜的俯视结构示意图。
[0022]图中:第一筛选框1,第一筛选框架11,第二筛选框2,第二筛选框架21,观察镜3,密封胶31,拉块32,磁铁4,金属片5。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0024]请参阅图1

4所示,本技术提供一种大米品质检测辅助装置,包括第一筛选框1和第二筛选框2,第一筛选框1安装在第二筛选框2的顶部,第一筛选框1的内部固定第一筛选框架11,第二筛选框2的内部固定有第二筛选框架21,第一筛选框架11和第二筛选框架21的内部均等距开设有米粒孔,且第一筛选框架11上部的米粒孔大于第二筛选框架21上部的米粒孔;
[0025]根据图1所示,作为本技术的一种优选技术方案:第一筛选框1的底部处于开放状态,第二筛选框2的底部是密封状态,能够保证比较扁小的米粒和碎米流入到第二筛选框2的内部;
[0026]根据图4所示,作为本技术的一种优选技术方案:第一筛选框1的顶部内部安装有观察镜3,且观察镜3位于第一筛选框架11的上部,观察镜3的边缘处固定有密封胶31,观察镜3通过密封胶31与第一筛选框1的内部进行卡接,能够保证对米粒进行检测;
[0027]根据图4所示,作为本技术的一种优选技术方案:观察镜3顶部固定有拉块32,两个拉块32的外表面开设有防滑颗粒,方便将第一筛选框1内部的观察镜3进行拿取;
[0028]根据图1所示,作为本技术的一种优选技术方案:第二筛选框2的顶部固定有磁铁4,第一筛选框1的底部开设有与磁铁4相适配的凹槽,凹槽的顶壁固定有金属片5,第二筛选框2通过磁铁4与凹槽的顶壁的金属片5进行吸附,方便第一筛选框1和第二筛选框2进行安装。
[0029]本实施例的工作原理:在使用该大米品质检测辅助装置时,如图1和图2

4所示,当对大米的大小的颗粒进行筛选时,首先将大米投放到第一筛选框1的内部,然后对大米进行筛选,当扁小米粒和碎米通过第一筛选框架11上部的米粒孔流入到第二筛选框架21的上部,从而在次将观察镜3通过密封胶31盖入到第一筛选框1的内部,然后对在第一筛选框1上部的米粒进行检测,当对第一筛选框架11上部的米粒品质检测后,将第一筛选框1和第二筛选框2进行分开,在第一筛选框1和第二筛选框2分开的过程中,首先磁铁4从金属片5的上部拿取掉,从而完成了对第一筛选框1和第二筛选框2分离的工作。
[0030]以上便是整个装置的工作过程,且本说明书中未作详细描述的内容均属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
[0031]在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
[0032]尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明,需要说明的是,在本技术中,在本技术的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接;也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义;对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大米品质检测辅助装置,包括第一筛选框(1)和第二筛选框(2),所述第一筛选框(1)安装在第二筛选框(2)的顶部,其特征在于,所述第一筛选框(1)的内部固定第一筛选框架(11),所述第二筛选框(2)的内部固定有第二筛选框架(21),所述第一筛选框架(11)和第二筛选框架(21)的内部均等距开设有米粒孔,且第一筛选框架(11)上部的米粒孔大于第二筛选框架(21)上部的米粒孔。2.根据权利要求1所述的一种大米品质检测辅助装置,其特征在于,所述第一筛选框(1)的底部处于开放状态,所述第二筛选框(2)的底部是密封状态。3.根据权利要求1所述的一种大米品质检测辅助装置,其特征在于,所述第一筛选框(1)的顶部...

【专利技术属性】
技术研发人员:张战丽
申请(专利权)人:益阳市夏佬倌米业有限公司
类型:新型
国别省市:

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