一种三点内径千分尺校准装置及校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种三点内径千分尺校准装置及校准方法；解决现有技术中存在的配备标准环规数量大、维护保养繁琐、标准环规周期检定工作量大的问题；校准装置包括基座、三个夹持组件、标准环以及三个传感器；标准环上均匀开设有三个窗口，从而形成了三个标准环定位板，标准环定位板内壁为内立面，外壁为外立面，内立面与外立面在其中心位置均设置有竖直方向的标准环定位线；标准环安装在基座上，并可绕自身轴线旋转；千分尺一端与标准环配合，另一端与夹持组件配合，夹持组件用于夹持千分尺，并使千分尺处于竖直状态；基座的工作面上沿圆周均匀设置有三个基座定位线；三个传感器滑动设置在基座周侧；还提出了采用校准装置的校准方法。法。法。

【技术实现步骤摘要】
一种三点内径千分尺校准装置及校准方法


[0001]本专利技术涉及三点内径千分尺校准装置，具体涉及一种三点内径千分尺校准装置及校准方法。

技术介绍

[0002]依据JJF1411
‑
2013《测量内尺寸千分尺校准规范》，在对三点内径千分尺进行校准时，其示值误差是最重要的校准项目。校准规范给出测量三点内径千分尺示值误差用3等标准环规在测量行程范围内均匀分布的不少于4个测量点进行校准。
[0003]然而在实际的计量校准工作中，通常用3等标准环规作为主标准器，采用直接测量法进行测量，但是这种测量方式存在以下问题：
[0004]1.由于JJF1411
‑
2013《测量内尺寸千分尺校准规范》要求校准时，在测量行程范围内均匀分布的不少于4个测量点进行校准，致使一个测量行程范围至少要配备4个标准环规；若需要测量的范围较大时，就需要将多个测量范围不同千分尺组合进行测量，而每一个千分尺都要对不少于4个测量点进行校准，如此，在测量的范围较大时，所需要配备的标准环规个数不少于千分尺数量的四倍，数量较多。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三点内径千分尺校准装置，其特征在于：包括基座(1)、三个夹持组件、标准环(5)以及三个传感器(4)；所述标准环(5)上均匀开设有三个窗口(52)，从而形成了三个标准环定位板(55)，标准环定位板(55)内壁为内立面(53)，外壁为外立面(51)，所述内立面(53)与外立面(51)在其中心位置均设置有竖直方向的标准环定位线(54)；三个标准环定位板(55)内壁围成的圆的直径取值范围为:小于等于被校千分尺(3)的最大测量范围且大于等于被校千分尺(3)的最小测量范围；所述标准环(5)安装在所述基座(1)上，并可绕自身轴线旋转；所述千分尺(3)一端与标准环(5)配合，另一端与夹持组件配合，夹持组件用于夹持千分尺(3)，并使千分尺(3)处于竖直状态；所述基座(1)的工作面(101)上沿圆周均匀设置有三个基座定位线(102)；三个所述传感器(4)滑动设置在基座(1)周侧；三个所述传感器(4)的测头延长线分别与三个所述基座定位线(102)重合。2.根据权利要求1所述的一种三点内径千分尺校准装置，其特征在于：所述传感器(4)与所述基座(1)通过滑动组件连接；所述滑动组件包括导轨(7)、第三螺钉(14)以及支座(6)；所述导轨(7)与所述基座(1)连接，所述支座(6)在所述导轨(7)上滑动，并通过所述第三螺钉(14)固定；所述传感器(4)安装在所述支座(6)上。3.根据权利要求2所述的一种三点内径千分尺校准装置，其特征在于：所述夹持组件包括立柱(2)、安装座(9)、第一螺钉(10)以及第二螺钉(11)；所述立柱(2)竖直安装在所述基座(1)上，所述安装座(9)套设在所述立柱(2)上，所述安装座(9)一侧开设轴线水平的螺纹孔，所述第一螺钉(10)穿过螺纹孔后与所述千分尺(3)接触，用于夹持千分尺(3)；所述安装座(9)另一侧开设有缺口且缺口将安装座(9)分为第一紧固块以及第二紧固块；所述第一紧固块与所述第二紧固块通过第二螺钉(11)连接并夹紧立柱(2)。4.根据权利要求3所述的一种三点内径千分尺校准装置，其特征在于：还包括拨叉(18)与限位钉(12)，所述拨叉(18)一端开设L型长条孔，所述限位钉(12)穿过L型长条孔后将拨叉(18)固定在所述支座(6)上，所述拨叉(18)另一端套在所述传感器(4)...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭胜，邓鹏波，丁国，
申请(专利权)人：西安航天计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：