测试装置制造方法及图纸

本申请涉及一种测试装置，包括底板和至少两根定位销，各所述定位销立设在所述底板的同一面，各所述定位销的外径和被测件上各被测孔的内径相适应，各所述定位销之间中心距和被测件上各被测孔之间的孔距相等。本申请的测试装置，能够快速、准确的测试出被测件的被测孔是否合格，弥补了卡尺、塞规等传统测量工具的不足，提高了测试效率，节省了人力物力。节省了人力物力。节省了人力物力。

【技术实现步骤摘要】
测试装置


[0001]本申请涉及电子
，特别是涉及一种测试装置。

技术介绍

[0002]目前，很多电子元器件上带有法兰盘，法兰盘上设有安装孔，安装孔通过螺钉和其他元器件连接。为了保证电子元器件的性能，对于安装孔的尺寸和孔距的要求都比较高。且由于电子元器件的尺寸一般较小，通过卡尺、塞规等传统方式对各安装孔的一致性测量时效率很低，无法快速验证各安装孔的尺寸即孔距是否达标。
[0003]因此，专利技术人提供了一种测试装置。

技术实现思路

[0004](1)要解决的技术问题
[0005]本申请实施例提供了一种测试装置，解决了不能快速对电子元器件上法兰盘的被测孔的尺寸及孔距进行快速测量及验证的技术问题。
[0006](2)技术方案
[0007]为了解决上述问题，本申请的实施例提出了一种测试装置，包括：
[0008]底板；
[0009]至少两根定位销，各所述定位销立设在所述底板的同一面，各所述定位销的外径和被测件上各被测孔的内径相适应，各所述定位销之间中心距和被测件上各被测孔之间的孔距相等。
[0010]可选地，所述定位销包括测试部，所述测试部为锥形圆柱形，所述测试部直径较大的一端靠近所述底板设置。
[0011]可选地，所述测试部直径较小一端的直径等于所述被测孔的内径的下偏差尺寸，所述测试部直径较大一端的直径等于所述被测孔的内径的上偏差尺寸。
[0012]可选地，所述定位销还包括引导部，所述引导部位于所述测试部远离所述底板的一端，所述引导部的直径小于所述测试部的直径。
[0013]可选地，所述引导部为锥形圆柱形，所述引导部直径较大的一端靠近所述测试部。
[0014]可选地，所述定位销还包括安装部，所述安装部连接在所述底板上，所述安装部位于所述底板和所述测试部之间。
[0015]可选地，各所述定位销的中心距的公差和对应被测孔的孔距的公差相等。
[0016]可选地，所述底板采用铝材制成，所述定位销采用铜材制成。
[0017](3)有益效果
[0018]综上，本申请的测试装置测试时，将被测件的被测孔卡入各定位销，若能够顺利卡入，则说明被测件的被测孔的尺寸及孔距是合格的，若各被测孔不能顺利卡入，则说明被测件的各安装的尺寸即孔距不合格。
[0019]本申请的测试装置，能够快速、准确的测试出被测件的被测孔是否合格，弥补了卡
尺、塞规等传统测量工具的不足，提高了测试效率，节省了人力物力。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1是本申请一实施例中测试装置和被测件待测量时的结构示意图。
[0022]图2是本申请一实施例中测试装置的俯视图。
[0023]图3是本申请一实施例中测试装置和被测件测量时的结构示意图。
[0024]图中：
[0025]1‑
底板；2
‑
定位销；21
‑
测试部；22
‑
引导部；23
‑
安装部；3
‑
被测件；31
‑
被测孔。
具体实施方式
[0026]下面结合附图和实施例对本申请实施例作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本申请实施例，而非对本申请实施例的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请实施例相关的部分而非全部结构。
[0027]此外，在说明书和权利要求书中的术语第一、第二、第三等仅用于区别相同技术特征的描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量，也不一定描述次序或时间顺序。在合适的情况下术语是可以互换的。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
[0028]类似地，在说明书和权利要求书中同样使用术语“固定”、“连接”，不应理解为限于直接的连接。因此，表达“装置A与装置B连接”不应该限于装置或系统中装置A直接连接到装置B，其意思是装置A与装置B之间具有路径，这可以是包括其他装置或工具的路径。
[0029]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参照附图并结合实施例来详细说明本申请。
[0030]请参照图1和图3，一种测试装置，包括：
[0031]底板1；
[0032]至少两根定位销2，各所述定位销2立设在所述底板1的同一面，各所述定位销2的外径和被测件3上各被测孔31的内径相适应，各所述定位销2之间中心距和被测件3上各被测孔31之间的孔距相等。
[0033]本实施例的测试装置测试时，将被测件3的被测孔31卡入各定位销2，若能够顺利卡入，则说明被测件3的被测孔31的尺寸及孔距是合格的，若各被测孔31不能顺利卡入，则说明被测件3的各安装的尺寸即孔距不合格。
[0034]本实施例的测试装置，能够快速、准确的测试出被测件3的被测孔31是否合格，弥补了卡尺、塞规等传统测量工具的不足，提高了测试效率，节省了人力物力。
[0035]在一实施例中，所述定位销2包括测试部21，所述测试部21为锥形圆柱形，所述测试部21直径较大的一端靠近所述底板1设置。测试时，若各被测孔31的下边沿落入在测试部21内，则说明各被测孔31的尺寸及孔距是合格的，测量精度高。且能够保证各被测孔31顺利
卡入。
[0036]在一实施例中，所述测试部21直径较小一端的直径等于所述被测孔31的内径的下偏差尺寸，所述测试部21直径较大一端的直径等于所述被测孔31的内径的上偏差尺寸。如，被测孔31的直径为ΦD
±
0.1，则测试部21直径较大一端的直径为ΦD
±
0.1，测试部21直径较小一端的直径为ΦD
‑
0.1，当各被测孔31卡入各定位销2的测试部21时，若各被测孔31的下边沿位于测试部21，则说明被测孔31的内径为ΦD
±
0.1，即该被测孔31尺寸在误差范围内，该被测孔31是合格的。
[0037]在一实施例中，所述定位销2还包括引导部22，所述引导部22位于所述测试部21远离所述底板1的一端，所述引导部22的直径小于所述测试部21的直径。引导部22对于各被测孔31的卡入具有导向作用。
[0038]在一实施例中，所述引导部22为锥形圆柱形，所述引导部22直径较大的一端靠近所述测试部21。引导部22能够使被测孔31顺利卡入定位销2。
[0039]在一实施例中，所述定位销2还包括安装部23，所述安装部23连接在所述底板1上，所述安装部23位于所述底板1和所述测试部21之间。安装部23和底板1之间本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：底板；至少两根定位销，各所述定位销立设在所述底板的同一面，各所述定位销的外径和被测件上各被测孔的内径相适应，各所述定位销之间中心距和被测件上各被测孔之间的孔距相等。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述定位销包括测试部，所述测试部为锥形圆柱形，所述测试部直径较大的一端靠近所述底板设置。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试部直径较小一端的直径等于所述被测孔的内径的下偏差尺寸，所述测试部直径较大一端的直径等于所述被测孔的内径的上偏差尺寸。4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述定位销还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：王慧峰，张力敏，刘倩倩，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：