一种电回环模块和测试系统技术方案

技术编号:33257523 阅读:25 留言:0更新日期:2022-04-30 23:02
本申请提供一种电回环模块和测试系统,涉及通信设备测试技术领域,包括模块本体以及设置于模块本体上的TX端口和RX端口,TX端口和RX端口经模块本体内部回环连接,TX端口和RX端口分别与待测设备连接。如此,在测试待测设备时,由待测设备发射的高频信号经过TX端口后传输到模块本体内部,并且在模块本体内部直接回环,然后通过RX端口传送到待测设备中,由待测设备进行接收,如此,能够对待测设备的端口的高频性能进行测试。从而简化模块内部的电路结构,降低测试成本,有利于实现光通信器件检测过程中的大规模推广使用。过程中的大规模推广使用。过程中的大规模推广使用。

【技术实现步骤摘要】
一种电回环模块和测试系统


[0001]本申请涉及通信设备测试
,具体而言,涉及一种电回环模块和测试系统。

技术介绍

[0002]目前,交换机和网络设备在进行光口自检时,一般都是在系统中需要自检的光口上插上常规的光模块,用光纤跳线连接光模块的收发端口来实现通信设备光口的自检。
[0003]现有的光模块内部电路结构复杂,同时,在多次插拔过程中,也容易对光模块的插接端口造成损坏,存在测试成本较高的问题。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于,针对上述现有技术中的不足,提供一种电回环模块,以解决现有光模块测试时测试成本较高的问题。
[0005]为实现上述目的,本申请实施例采用的技术方案如下:
[0006]本申请实施例的一方面,提供一种电回环模块,用以测试待测设备的性能,包括模块本体以及设置于模块本体上的TX端口和RX端口,TX端口和RX端口经模块本体内部回环连接,TX端口和RX端口分别与待测设备连接,待测设备的高频信号经TX端口进入模块本体,再经RX端口回到待测设备,以测试待测设备的高频性能。
[本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电回环模块,用以测试待测设备的性能,其特征在于,包括模块本体以及设置于所述模块本体上的TX端口和RX端口,所述TX端口和所述RX端口经所述模块本体内部回环连接,所述TX端口和所述RX端口分别与所述待测设备连接,所述待测设备的高频信号经所述TX端口进入所述模块本体,再经所述RX端口回到所述待测设备,以测试所述待测设备的高频性能。2.如权利要求1所述的电回环模块,其特征在于,在所述模块本体上还设置有IIC端口,在所述模块本体内部还设置有存储器,所述IIC端口与所述存储器信号连接,所述待测设备通过所述IIC端口与所述存储器连接,并对所述存储器进行读写,以测试所述待测设备的通信性能。3.如权利要求2所述的电回环模块,其特征在于,在所述模块本体内部还设置有数字电位器和线性稳压器,所述数字电位器与所述IIC端口信号连接,且所述数字电位器与所述存储器并联,所述数字电位器还与所述线性稳压器连接,所述待测设备通过所述IIC端口设置所述数字电位器...

【专利技术属性】
技术研发人员:张文林李竞舟钱银博戈超钟剑锋王艳红
申请(专利权)人:东莞铭普光磁股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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