芯片电路的布局方法、电路设计方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种芯片电路的布局方法、电路设计方法、装置、设备及介质，该方法包括：获取待设计电路的初始布局结果，待设计电路包括至少两个宏模块，且宏模块的四周设置有布局晕环；确定至少两个宏模块对应的布局晕环图形坐标信息；对至少两个宏模块对应的布局晕环图形坐标信息进行坐标运算，并将至少两个宏模块组合为一个或多个多边形，得到一个或多个多边形的坐标信息；计算一个或多个多边形中的每相邻两个点的坐标差值；以及基于一个或多个多边形中的每相邻两个点的坐标差值，确定至少两个宏模块是否存在布局违例。这样，可以减少因宏模块摆放引起设计规则检查而导致的布局迭代次数，节约整个芯片设计的时间。节约整个芯片设计的时间。节约整个芯片设计的时间。

【技术实现步骤摘要】
芯片电路的布局方法、电路设计方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及芯片设计
，尤其涉及一种芯片电路的布局方法、电路设计方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着工艺尺寸的缩减，芯片的集成度增强，设计规模和难度也相应增大。通常情况下，芯片内一个模块的规模动辄为几百万个标准单元，数百个宏模块，一轮自动布局布线(Auto Place and Route，APR)的时间高达数十小时。而随着工艺制程逐步从12nm向7nm甚至5nm演进，芯片的设计规则检查(Design Rule Check，DRC)种类越来越多，类型也越来越复杂，项目中常因宏模块摆放的细微问题未被发现而迭代耽误大量的时间。如何减少因布局不当产生DRC而导致重新一轮布局迭代，用以缩短项目进程，变得尤为重要。
[0003]在7nm的布局中DRC愈发严格。针对因宏模块摆放未完全对齐而产生的物理单元类型不正确或者多晶硅宽度过小等DRC问题，这些问题经常存在而且在APR工具中无法被轻易解决。虽然目前存在一些解决方案，但是这些解决方案要么比较繁琐且耗费时间，要么需要增本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片电路的布局方法，其特征在于，所述方法包括：获取待设计电路的初始布局结果，其中，所述待设计电路包括至少两个宏模块，且宏模块的四周设置有布局晕环；确定所述至少两个宏模块对应的布局晕环图形坐标信息；对所述至少两个宏模块对应的布局晕环图形坐标信息进行坐标运算，并将所述至少两个宏模块组合为一个或多个多边形，得到所述一个或多个多边形的坐标信息；计算所述一个或多个多边形中的每相邻两个点的坐标差值；以及基于所述一个或多个多边形中的每相邻两个点的坐标差值，确定所述至少两个宏模块是否存在布局违例。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在确定所述至少两个宏模块存在布局违例时，根据预设修复策略对所述布局违例进行修复。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述根据预设修复策略对所述布局违例进行修复之后，所述方法还包括：获取所述待设计电路的布局修复结果；基于所述布局修复结果更新所述初始布局结果，返回至执行确定所述至少两个宏模块对应的布局晕环图形坐标信息的步骤，直至所述至少两个宏模块均不存在布局违例。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述至少两个宏模块均不存在布局违例时，确定所述待设计电路的目标布局结果。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述一个或多个多边形中的每相邻两个点的坐标差值，确定所述至少两个宏模块是否存在布局违例，包括：将所述每相邻两个点的坐标差值与第一预设特征值进行比较，其中，所述坐标差值包括水平坐标差值和垂直坐标差值；若相邻两个点的水平坐标差值大于0且小于所述第一预设特征值、或者所述相邻两个点的垂直坐标差值大于0且小于所述第一预设特征值，则确定所述至少两个宏模块存在布局违例；以及若相邻两个点的水平坐标差值大于或等于所述第一预设特征值且所述相邻两个点的垂直坐标差值大于或等于所述第一预设特征值，则确定所述至少两个宏模块均不存在布局违例。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述至少两个宏模块对应的布局晕环图形坐标信息进行坐标运算，并将所述至少两个宏模块组合为一个或多个多边形，得到所述一个或多个多边形的坐标信息，包括：对所述至少两个宏模块对应的布局晕环图形坐标信息进行坐标扩展，得到多个新的图形坐标信息；以及对所述至少两个宏模块对应的布局晕环图形坐标信息和所述多个新的图形坐标信息进行相与操作，并将所述至少两个宏模块组合为一个或多个多边形，得到所述一个或多个多边形的坐标信息。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述坐标信息包括水平坐标信息和垂直坐标信息，所述计算所述一个或多个多边形中的每相邻两个点的坐标差值，包括：
遍历所述一个或多个多边形中的每一个点的水平坐标信息，对每相邻两个点的水平坐标信息进行差值计算，得到所述一个或多个多边形中的每相邻两个点的水平坐标差值；遍历所述一个或多个多边形中的每一个点的垂直坐标信息，对每相邻两个点的垂直坐标信息进行差值计算，得到所述一个或多个多边形中的每相邻两个点的垂直坐标差值；以及根据所述一个或多个多边形中的每相邻两个点的所述水平坐标差值和所述垂直坐标差值，得到所述一个或多个多边形中的每相邻两个点的坐标差值。8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在得到所述一个或多个多边形中的每相邻两个点的坐标差值之后，所述方法还包括：设置预设列表，其中，若相邻两个点的水平坐标差值大于0且小于所述第一预设特征值、或者相邻两个点的垂直坐标差值大于0且小于所述第一预设特征值，则将所述相邻两个点的坐标信息以及对应的水平坐标差值或者垂直坐标差值放置于所述预设列表。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，还包括：判断所述预设列表是否为空；若所述预设列表为非空，则确定所述至少两个宏模块存在布局违例；以及若所述预设列表为空，则确定所述至少两个宏模块均不存在布局违例。10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述在确定所述至少两个宏模块存在布局违例时，根据预设修复策略对所述布局违例进行修复，包括：若所述预设列表中存在两个相同大小的坐标差值且所述坐标差值小于第二预设特征值，则从所述预设列表中获取所述两个相同大小的坐标差值对应的四个点的坐标信息；根据所获取的四个点的坐标信息，确定所述四个点包含的两个宏模块，并调整所述两个宏模块进行位置对齐，以实现对所述布局违例的修复。11.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述在确定所述至少两个宏模块存在布局违例时，根据预设修复策略对所述布局违例进行修复，包括：若所述预设列表中存在四个点的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘君，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：