一种50MHz~18GHz屏蔽效能测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种50MHz～18GHz屏蔽效能测试系统，包括信号源、天线发射端、天线接收端、低噪声放大器模块、射频变频模块以及计算机，天线接收端放置于待测屏蔽机柜内，天线接收端通过低噪声放大器模块、射频变频模块与计算机相连，计算机通过信号源连接天线发射端，信号源、天线发射端、天线接收端、低噪声放大器模块、射频变频模块、计算机以及待测屏蔽机柜均位于全电波或半电波暗室内。本实用新型专利技术通过在待测屏蔽机柜内放置天线接收端，待测屏蔽机柜、信号源、天线发射端、射频变频模块以及计算机均放置于全电波或半电波暗室内，通过计算机即记录并分析测试的结果，整个测试系统的结构模块简单、易于维护扩展。易于维护扩展。易于维护扩展。

【技术实现步骤摘要】
一种50MHz～18GHz屏蔽效能测试系统


[0001]本技术涉及屏蔽测试
，特别涉及一种50MHz～18GHz屏蔽效能测试系统。

技术介绍

[0002]目前，屏蔽测试中所使用的技术是利用单台频谱仪和信号源进行屏蔽测试，在频率较高的时，对仪器仪表的测试要求较高，从而造成很高的经济成本，并且测试仪表的体积较大，不利于携带。另外，现有技术中，往往对测试发射端进行屏蔽，测试接收端可能会接受到干扰的外界信号，影响测试准确性，存在潜在的误差。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本技术旨在提出一种50MHz～18GHz屏蔽效能测试系统，通过在待测屏蔽机柜内放置天线接收端、低噪声放大器模块，待测屏蔽机柜、信号源、天线发射端、射频变频模块以及计算机均放置于全电波或半电波暗室内，通过计算机即记录并分析测试的结果，整个测试系统的结构模块简单、易于维护扩展。
[0004]为达到上述目的，本技术的技术方案是这样实现的：
[0005]一种50MHz～18GHz屏蔽效能测试系统，包括信号源、天线发射端、天线接收端、低噪声放大器模块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种50MHz～18GHz屏蔽效能测试系统，其特征在于，包括信号源(1)、天线发射端(2)、天线接收端(3)、低噪声放大器模块(4)、射频变频模块(5)以及计算机(6)，所述天线接收端(3)放置于待测屏蔽机柜(7)内，所述天线接收端(3)依次通过低噪声放大器模块(4)、射频变频模块(5)与计算机(6)相连，所述计算机(6)通过信号源(1)连接天线发射端(2)，所述信号源(1)、天线发射端(2)、天线接收端(3)、低噪声放大器模块(4)、射频变频模块(5)、计算机(6)以及待测屏蔽机柜(7)均位于全电波或半电波暗室(8)内。2.根据权利要求1所述的50MHz～18GHz屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述信号源(1)为信号发生器，频率范围为50MHz～18GHz，输出功率为8dBm～18dBm。3.根据权利要求1所述的50MHz～18GHz屏蔽效能测试系统，其特征在于，当所述信号源(1)的测试频率范围为50MHz～200MHz时，所述天线发射端(2)、天线...

【专利技术属性】
技术研发人员：张炳森，王忠思，陈金来，
申请(专利权)人：中国人民解放军海军士官学校，
类型：新型
国别省市：