一种在位检测电路及激光加工设备制造技术

本申请公开了一种在位检测电路及激光加工设备，所述在位检测电路，包括：光电检测电路，用于检测预设感应区域的光线变化，输出检测信号；信号整形电路，与所述光电检测电路连接，用于将所述检测信号整形为方波信号；信号分析电路，与所述信号整形电路连接，用于根据所述方波信号输出在位指示信号。本申请通过对光电检测单元的输出信号进行整形，提高在位检测精度。测精度。测精度。

【技术实现步骤摘要】
一种在位检测电路及激光加工设备


[0001]本技术涉及检测电路
，尤其涉及一种在位检测电路。

技术介绍

[0002]在工业设备的回零在位检测中，通常利用光电检测器检测其有没有被遮挡判断设备是否复位回零。光电检测器是靠检测光强大小来判断是否遮挡的，光电检测器无遮挡物时，输出低电平，有遮挡物时，输出高电平。然而在实际的应用中，遮挡是一个过程，即光电检测器从被光电检测器部分遮挡到完全被遮挡的过程中，对应接收端的光强由弱到强变化，因此看输出电平从低到高的变化过程是一条缓慢的曲线，同时，受器件精度、环境干扰的影响。
[0003]MCU检测高电平是根据某一阈值(VH)来判断的，理想情况下认为大于VH即为高(回零在位)，低于VH，即为低电平(未到位)。但受器件差异、精度误差、环境干扰的影响，在VH附近一段极小的区域内，电平有微弱的跳变，导致MCU时而检测到位，进而检测部件不在位，由此会让MCU判断错误，轻则报错，重则引发一系列的误动作，比如机械卡死，造成人机事故等。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本技术提供一种在位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种在位检测电路，其特征在于，包括：光电检测电路，用于检测预设感应区域的光线变化，输出检测信号；信号整形电路，与所述光电检测电路连接，用于将所述检测信号整形为方波信号；信号分析电路，与所述信号整形电路连接，用于根据所述方波信号输出在位指示信号。2.如权利要求1所述的在位检测电路，其特征在于，所述光电检测电路包括：光耦传感器，其第一引脚与第一电源连接，第二引脚接地，第三引脚与所述第一电源连接，第四引脚与所述信号整形电路连接，用于在复位件移动且进入所述光耦传感器的预设感应区域时，检测所述预设感应区域内光线变化，输出所述检测信号。3.如权利要求2所述的在位检测电路，其特征在于，所述光耦传感器为凹槽型光耦传感器，用于在复位件移动而插入所述凹槽型光耦传感器的凹槽时，检测所述凹槽内光线变化，输出所述检测信号。4.如权利要求2所述的在位检测电路，其特征在于，所述光电检测电路还包括：第一上拉电阻，所述第一上拉电阻的第一端与所述第一电源连接，所述第一上拉电阻的第二端与所述光耦传感器的第一引脚连接。5.如权利要求2所述的在位检测电路，其特征在于，所述光电检测电路还包括：第一电容，所述第一电容的第一端与所述光耦传感器的第一引脚连接，所述第一电容的第二端与所述光耦传感器的第二引脚连接，用于滤波。6.如权利要求2所述的在位检测电路，其特征在于，所述光电检测电路还包括：静电管，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹卫华，张幼添，沈昌荣，刘振，辛丽娇，
申请(专利权)人：深圳市创客工场科技有限公司，
类型：新型
国别省市：