一种低流动度膏浆粘度的测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种低流动度膏浆粘度的测量装置及方法，该测量装置包括漏斗支架、可调节平台、盛浆容器、漏斗、真空室、真空泵、真空表和支撑台。该测量装置利用真空负压使得低流动度膏浆可从漏斗下口流出，并通过记录流出一定体积膏浆所需的时间，对比标准时间，从而对待测膏浆相对粘度进行准确测量，可很好地用于对膏浆表观粘度处于50~175mPa.s的测量与评价。真空测量环境消除了测量过程中膏浆产生气泡而导致的测量误差，减小了仪器误差。本发明专利技术提供的测量装置结构简单，操作方便，为现有膏浆粘度定量测量提供了一种切实可行方法，同时能够实现对其他多种类型浆液粘度值的测量。实现对其他多种类型浆液粘度值的测量。实现对其他多种类型浆液粘度值的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种低流动度膏浆粘度的测量装置及方法


[0001]本专利技术涉及岩土工程基础处理灌浆
，尤其是一种低流动度膏浆粘度的测量装置及方法。

技术介绍

[0002]在砂卵石、碎块石、岩溶洞穴堆积、断层破碎带等第四系强透水地层的防渗、堵漏中，常规灌浆材料在处理这类地层时往往无法有效封堵，导致灌浆材料不断流失，封堵效果不好。因此需要采用一种比重大、粘度高、抗动水冲蚀性能好的防渗加固膏浆。
[0003]为既满足可灌性减少堵管的概率，又能达到灌注稠浆的目的，膏浆流动度与粘度处于水泥砂浆与钻井护壁泥浆之间，呈膏状。而现有的可用于低流动度膏浆粘度的测量仪器及方法均无法很好适配于膏浆表观粘度处于50~175mPa.s的测量与评价。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种低流动度膏浆粘度的测量装置及方法，用于克服现有技术中无法很好适配于膏浆表观粘度处于50~175mPa.s的测量与评价等缺陷。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提出一种低流动度膏浆粘度的测量装置，包括：漏斗支架，设置在支撑台上；可调节平台，安装在所述漏斗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低流动度膏浆粘度的测量装置，其特征在于，包括：漏斗支架，设置在支撑台上；可调节平台，安装在所述漏斗支架上，可沿垂直方向调节高度；盛浆容器，置于所述可调节平台上，所述盛浆容器开口处设置有密封塞；漏斗，固定在所述漏斗支架上，漏斗嘴穿过所述密封塞伸入所述盛浆容器内；真空室，通过第一导管与所述盛浆容器连通，所述第一导管上设置有第一球阀；所述第一导管近盛浆容器端穿过所述密封塞伸入所述盛浆容器内，且伸入位置在所述盛浆容器的最大刻度之上；真空泵，通过第二导管与所述真空室连通，所述第二导管上设置有第二球阀；真空表，设置在所述第一导管与所述第二导管的连接处，所述第一导管与所述第二导管连通；支撑台，所述支撑台上设置有可驱动所述漏斗支架振动的振动装置。2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，还包括液位传感器，设置在所述盛浆容器的外壁上。3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述液位传感器为电容式液位传感器或者超声波液位传感器。4.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述盛浆容器为量程500ml的锥形瓶，瓶口直径为54mm，颈径为42mm，瓶底直径为100mm，瓶高为187mm。5.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述漏斗为带限位卡扣的漏斗，所述限位卡扣卡在所述密封塞上。6....

【专利技术属性】
技术研发人员：孙平贺，夏余宏烨，曹函，韦帮第，王乐，张绍和，彭春雷，杨涵涵，宾斌，
申请(专利权)人：中南大学，
类型：发明
国别省市：