一种电光强度调制器频率响应测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电光强度调制器频率响应测试装置及方法，利用激光器发射一束光载波，送入待测电光强度调制器中，待测电光强度调制器的射频驱动电极上接第一信号源，偏置电极上接第二信号源，第一信号源输出频率为f1的正弦信号，第二信号源输出频率为f

【技术实现步骤摘要】
一种电光强度调制器频率响应测试装置及方法


[0001]本专利技术属于光电子器件领域，尤其涉及光电子器件频率响应测试领域，具体是一种电光强度调制器频率响应测试装置及方法。

技术介绍

[0002]电光强度调制器作为光通信系统和微波光子链路中负责电
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光转换的关键器件，其频率响应参数(如调制效率、半波电压等)很大程度上影响了整个系统或链路的性能。精确测量电光强度调制器的调制系数与半波电压对电光强度调制器的器件性能评估和光通信以及微波光子系统高频应用是至关重要的。
[0003]现有的测量电光强度调制器频率响应测试方法主要有光谱分析法、电光扫频法和自外差法。典型的光谱分析法(Y.Q.Shi,L.S.Yan and A.E.Willner.High
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speed electrooptic modulator characterization using optical spectrum analysis[J].Journal of Lightwave Technology,2003,21(10):2358
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电光强度调制器频率响应测试装置，包括激光器、待测电光强度调制器、光电探测器、频谱分析模块、第一信号源、第二信号源以及控制与数据处理模块，所述激光器、待测电光强度调制器、光电探测器依次进行光连接，第一信号源与待测电光强度调制器的射频驱动电极进行电连接，第二信号源与待测电光强度调制器的偏置电极进行电连接，光电探测器与频谱分析模块进行电连接，控制与数据处理模块分别与第一信号源、第二信号源和频谱分析模块进行数据连接。2.根据权利要求1所述一种电光强度调制器频率响应测试装置，其特征在于：所述待测电光强度调制器包括但不限于推挽式电光强度调制器、单驱电光强度调制器、双驱电光强度调制器、双平行电光强度调制器、IQ调制器等马赫
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曾德尔干涉仪结构的调制器。3.根据权利要求1所述一种电光强度调制器频率响应测试装置，其特征在于：所述待测电光强度调制器射频驱动电极和偏置电极分别加载频率不同的单音正弦信号。4.一种电光强度调制器频率响应测试方法，包括以下步骤：步骤1)：保持第一信号源处于关闭状态，设置第二信号源输出频率为f
b
、功率保持不变的正弦信号，第二信号源输出信号加载在待测电光强度调制器的偏置电极上，待测电光强度调制器输出的调制光信号经过光电探测器转换为电信号，利用频谱分析模块测量光电探测器输出电信号中频率为f
b
的电信号幅度，记为A(f
b
；0)；步骤2)：打开第一信号源，设置第一信号源输出频率为f1的正弦信号，将第一信号源输出信号加载在待测电光强度调制器的射频驱动电极上，保持第二信号源设置，输出的调制光信号经过光电探测器转换为电信号，利用频谱分析模块测量光电探测器输出电信号中频率为f
b
的电信号幅度，记为A(f
b
；m)；步骤3)：使用频谱分析模块直接测量第一信号源输出正弦信号驱动待测电光强度调制器的功率，记为P，相应的正弦信号驱动幅度为V；步骤4)：多次改变第一信号源输出功率，重复步骤2)、3)，获得一组第一信号源输出正弦信号功率P
i
和频率为f
b
的电信号幅度A(f
b
；m
i
)的数据，其中i＝1，2，3，
...

【专利技术属性】
技术研发人员：张尚剑，徐映，王梦珂，何禹彤，顾超宇，刘永，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：