一种单晶X射线衍射实验样品样品盒及样品保存方法技术

本发明专利技术属于X射线衍射实验样品保存技术领域，具体涉及一种单晶X射线衍射实验样品样品盒及样品保存方法。本发明专利技术包括底座、支撑管和盖子，底座纵截面为T字型，底座上方圆柱体的中心开有十字型孔；支撑管安装在十字型孔内，支撑管外直径微大于底座上的十字孔内最小直径；盖子盖在底座上。本发明专利技术解决了单晶衍射实验中样品保存和转移难度大、样品容易损毁和丢失的问题。问题。问题。

【技术实现步骤摘要】
一种单晶X射线衍射实验样品样品盒及样品保存方法


[0001]本专利技术属于X射线衍射实验样品保存
，具体涉及一种单晶X射线衍射实验样品样品盒及样品保存方法。

技术介绍

[0002]单晶X射线衍射(Single X
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ray diffraction)技术是目前最准确、最权威的获得晶体结构数据的研究方法，也是矿物学、材料学、生物学研究中必备的分析技术。单晶衍射实验要求样品是一个10微米到150微米大小的单晶颗粒(通常以20到50微米为佳)。将其固定在单晶衍射仪样品座的顶丝之上开展测试。目前通常做法是测试后将样品取下，放置在瓶子或盒子中。但这些样品仅有微米级别，肉眼无法看到，无论是取下样品还是再次取出样品的过程中，都极易发生样品的掉落、破碎和丢失。对于珍贵样品测试后如何妥善、安全的保管，便于携带、运输，在需要时可以再次方便的取出重复测试是研究人员的一大困扰。
[0003]按照目前常规操作流程，测试时需将单晶样品放置在载玻片上，在显微镜下操作，使其粘在微米级的针尖或玻璃丝顶端；测试后仍在显微镜下操作，在载玻片上滴上丙酮，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种单晶X射线衍射实验样品样品盒，其特征在于：包括底座(3)、支撑管(2)和盖子(1)，底座(3)纵截面为T字型，底座(3)上方圆柱体的中心开有十字型孔；支撑管(2)安装在十字型孔内，支撑管(2)外直径微大于底座上的十字孔内最小直径；盖子(1)盖在底座(3)上。2.根据权利要求1所述的一种单晶X射线衍射实验样品样品盒，其特征在于：所述底座(3)为硅胶材料。3.根据权利要求1所述的一种单晶X射线衍射实验样品样品盒，其特征在于：所述十字孔深度小于底座高度。4.根据权利要求1所述的一种单晶X射线衍射实验样品样品盒，其特征在于：所述上方圆柱体的侧壁上设有台阶。5.根据权利要求1所述的一种单晶X射线衍射实验样品样品盒，其特征在于：所述支撑管(2)为纯铜材料，为中空的圆柱形，长度小于底座高度并且大于底座十字孔深度。6.根据权利要求4所述的一种单晶X射线衍射实验样品样品盒，其特征在于：所述盖...

【专利技术属性】
技术研发人员：李婷，
申请(专利权)人：核工业北京地质研究院，
类型：发明
国别省市：