一种便于安装的半导体测试探针制造技术

本实用新型专利技术属于半导体测试探针技术领域，尤其是一种便于安装的半导体测试探针，针对了对半导体测试探针进行安装时操作不便以及长时间使用易发生探针掉落的问题，现提出如下方案，其包括安装板以及设于安装板底部的探针本体，安装板还包括卡座；本实用新型专利技术中将探针本体的顶端从导向套的中心插入，将探针本体的顶端插入卡座内部形成卡合安装，通过限位弹簧的弹力作用，多个卡块与环形槽进行卡合限位处理，有效增强探针本体在卡座内部的安装稳定性，可有效防止探针本体在长时间使用时发生掉落，同时顶板进行复位处理，通过顶板和卡座分别对探针本体的外表面进行定位处理，从而有效提高探针本体在安装时的稳定性，操作简单，安装稳定性好。装稳定性好。装稳定性好。

【技术实现步骤摘要】
一种便于安装的半导体测试探针


[0001]本技术涉及半导体测试探针
，尤其涉及一种便于安装的半导体测试探针。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料；半导体在消费电子、通信系统、医疗仪器等领域有广泛应用；如二极管就是采用半导体制作的器件；无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的；常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种。
[0003]目前在对半导体测试探针进行安装测试时，其通常是通过卡座与测试探针进行卡合安装，由于半导体测试探针的内部设置有精密复位弹簧，在通过半导体测试探针进行长时间的测试处理时，其探针的安装稳定性尤为重要，其在长期使用的过程中容易出现探针掉落现象，需要重新安装，并且在对探针进行安装时，其通常是在底面进行卡合，存在一定的不便利性。
[0004]因此，需要一种便于安装的半导体测试探针，用以解决对半导体测试探针进行安装时操作不便以及长时间使用易发生探针掉落的问题。

技术实现思路

[0005]本技术提出的一种便于安装的半导体测试探针，解决了对半导体测试探针进行安装时操作不便以及长时间使用易发生探针掉落的问题。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种便于安装的半导体测试探针，包括安装板以及设于安装板底部的探针本体，所述安装板还包括
[0007]卡座，所述卡座与所述安装板的底面固定，所述探针本体的顶端插设于所述卡座的内部；
[0008]顶板，所述顶板设置于所述卡座的下方，所述探针本体滑动贯穿所述顶板的中心处，所述探针本体的外表面设置有与顶板底面固定的导向套，所述安装板的底部设置有与顶板相配合的限位组件。
[0009]优选的，所述限位组件包括
[0010]四卡槽，四个所述卡槽呈均匀分布于所述卡座的外表面，所述探针本体的顶部外表面开设有环形槽，每个所述卡槽的内部均滑动贯穿有与环形槽相适配的卡块，所述卡块与所述顶板的顶面铰接有连接杆；
[0011]四固定块，四个所述固定块呈等距固定于所述安装板的底面，每个所述安装板的内壁均滑动贯穿有滑动杆，所述滑动杆的外表面设置有分别与固定块和卡块固定的限位弹簧。
[0012]优选的，所述卡槽的截面呈扇形设置，所述环形槽为半椭圆形分布，所述卡块与所述环形槽的接触面为相适配的弧面。
[0013]优选的，所述安装板的底面固定有四个呈对称分布的定位套，所述顶板的顶面固定有延伸至定位套内部的定位杆，四个所述定位套和四个所述卡块之间呈交错分布。
[0014]优选的，所述导向套呈倒立的漏斗状，所述导向套的顶部内径与所述探针本体的外径大小一致。
[0015]优选的，所述卡座的底面开设有插槽，所述顶板的顶面固定有与插槽相配合的卡套。
[0016]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0017]1、本技术中将探针本体的顶端从导向套的中心插入，将探针本体的顶端插入卡座内部形成卡合安装，此时松开对顶板的作用力，通过限位弹簧的弹力作用，多个卡块与环形槽进行卡合限位处理，有效增强探针本体在卡座内部的安装稳定性，可有效防止探针本体在长时间使用时发生掉落，同时顶板进行复位处理，使得顶板与卡座之间存在一定距离，通过顶板和卡座分别对探针本体的外表面进行定位处理，从而有效提高探针本体在安装时的稳定性，操作简单，安装稳定性好。
[0018]2、本技术中导向套漏斗状的设置，便于探针本体更好的从导向套的底部进入，从而形成探针本体与卡座的同轴分布，从而达到快速安装卡合的目的，其顶部大小的设置，便于其在安装完成后，通过卡座和导向套对探针本体的不同高度的外表面进行定位处理，一定程度上提高其安装的稳定性。
附图说明
[0019]图1为本技术提出的一种便于安装的半导体测试探针的整体结构示意图；
[0020]图2为本技术提出的一种便于安装的半导体测试探针的卡槽处局部结构示意图；
[0021]图3为本技术提出的一种便于安装的半导体测试探针的环形槽处局部结构示意图。
[0022]图中：1、安装板；2、探针本体；3、卡座；4、顶板；5、导向套；6、限位组件；61、卡槽；62、环形槽；63、卡块；64、连接杆；65、固定块；66、滑动杆；67、限位弹簧；7、定位套；8、定位杆；9、插槽；10、卡套。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0024]参照图1
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3，一种便于安装的半导体测试探针，包括安装板1以及设于安装板1底部的探针本体2，安装板1还包括卡座3，卡座3与安装板1的底面固定，探针本体2的顶端插设于卡座3的内部；顶板4，顶板4设置于卡座3的下方，探针本体2滑动贯穿顶板4的中心处，探针本体2的外表面设置有与顶板4底面固定的导向套5，安装板1的底部设置有与顶板4相配合的限位组件6，具体的，通过在安装板1底部设置导向套5，对探针本体2进行安装时进行导向，提高探针本体2在底部与卡座3进行安装的便利性，限位组件6的设置，进一步提高探针本体2在进行安装时的稳定性，有效防止其发生脱落现象。
[0025]其中限位组件6包括四卡槽61，四个卡槽61呈均匀分布于卡座3的外表面，探针本体2的顶部外表面开设有环形槽62，每个卡槽61的内部均滑动贯穿有与环形槽62相适配的卡块63，卡块63与顶板4的顶面铰接有连接杆64；四固定块65，四个固定块65呈等距固定于安装板1的底面，每个安装板1的内壁均滑动贯穿有滑动杆66，滑动杆66的外表面设置有分别与固定块65和卡块63固定的限位弹簧67，具体的，通过限位弹簧67的弹力作用，使得卡块63延伸至卡座3内部，通过对顶板4进行向上按压，通过连接杆64的作用，使得卡块63在卡槽61内朝外运动，从而使得卡块63的端部延伸至卡槽61内部，从而便于探针本体2与卡座3进行卡合安装处理。
[0026]卡槽61的截面呈扇形设置，环形槽62为半椭圆形分布，卡块63与环形槽62的接触面为相适配的弧面，具体的，卡槽61和卡块63大小相适配，有效提高探针本体2在安装完成时的卡座3的相对密封性，环形槽62形状的分布，使得探针本体2在安装完成后，通过卡块63的外表面与环形槽62的表面接触卡合，从而有效防止其在长期测试处理时发生掉落现象。
[0027]安装板1的底面固定有四个呈对称分布的定位套7，顶板4的顶面固定有延伸至定位套7内部的定位杆8，四个定位套7和四个卡块63之间呈交错分布，具体的，定位杆8和定位套7的设置，增强顶板4在安装板1下方设置的稳定性，从而在一定程度上提高对卡块63在卡槽61内运动的稳定性。
[0028]导向套5呈倒立的漏斗状，导向套5的顶部内径与探针本体2的外径大小一致，具体的，导向套5漏斗状本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种便于安装的半导体测试探针，包括安装板(1)以及设于安装板(1)底部的探针本体(2)，其特征在于，所述安装板(1)还包括卡座(3)，所述卡座(3)与所述安装板(1)的底面固定，所述探针本体(2)的顶端插设于所述卡座(3)的内部；顶板(4)，所述顶板(4)设置于所述卡座(3)的下方，所述探针本体(2)滑动贯穿所述顶板(4)的中心处，所述探针本体(2)的外表面设置有与顶板(4)底面固定的导向套(5)，所述安装板(1)的底部设置有与顶板(4)相配合的限位组件(6)。2.根据权利要求1所述的一种便于安装的半导体测试探针，其特征在于，所述限位组件(6)包括四卡槽(61)，四个所述卡槽(61)呈均匀分布于所述卡座(3)的外表面，所述探针本体(2)的顶部外表面开设有环形槽(62)，每个所述卡槽(61)的内部均滑动贯穿有与环形槽(62)相适配的卡块(63)，所述卡块(63)与所述顶板(4)的顶面铰接有连接杆(64)；四固定块(65)，四个所述固定块(65)呈等距固定于所述安装板(1)的底面，每个所述安装板...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜永亿，
申请(专利权)人：深圳市立高通科技有限公司，
类型：新型
国别省市：