本实用新型专利技术提出了一种可调式高低温温差测试装置，其包括基座，还包括第一测试模组、第二测试模组和第三测试模组；第一测试模组，设置于基座上，对用户测试器件进行低温测试；第二测试模组，沿第一测试模组的水平延伸方向设置于基座上，配合第一测试模组对用户测试器件的同一侧面进行高低温测试；第三测试模组，沿第一测试模组的垂直延伸方向设置于基座上。该可调式高低温温差测试装置，通过第一测试模组配合第二测试模组使用，从而使得该测试装置便于对水平构造的用户测试器件进行高低温测试，再通过第一测试模组配合第三测试模组使用，从而使得该测试装置便于对垂直构造的用户测试器件进行高低温测试，进而提高了该测试装置的实用性。实用性。实用性。
【技术实现步骤摘要】
一种可调式高低温温差测试装置
[0001]本技术涉及测试设备领域，尤其涉及一种可调式高低温温差测试装置。
技术介绍
[0002]用户测试器件在生产过程中通常需要使用高低温试验设备对其测试部进行高温测试和低温测试，检验其各项性能指标，从而判断用户测试器件是否合格，随着现代科技的发展，用户测试器件的结构越发多样化，如水平构造的用户测试器件的测试部一般位于其同一侧面，垂直构造的用户测试器件的测试部位一般位于其相背侧面。
[0003]传统高低温测试装置一般为箱体式结构，其测试效率低，而且不便于对用户测试器件的不同测试部位同时进行高低温测试，故而提出一种可调式高低温温差测试装置来解决上述问题。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本技术提出了一种测试效率高的可调式高低温温差测试装置。
[0005]本技术的技术方案是这样实现的：本技术提供了一种可调式高低温温差测试装置，其包括基座，还包括第一测试模组、第二测试模组和第三测试模组；
[0006]第一测试模组，设置于基座上，用于对用户测试器件进行低温测试；
[0007]第二测试模组，沿第一测试模组的水平延伸方向设置于基座上，用于配合第一测试模组对用户测试器件的同一侧面进行高低温测试；
[0008]第三测试模组，沿第一测试模组的垂直延伸方向设置于基座上，用于配合第一测试模组对用户测试器件的相背面进行高低温测试。
[0009]在以上技术方案的基础上，优选的，第一测试模组包括换热组件和第一测试板，换热组件设置于基座上，第一测试板设置于换热组件上。
[0010]更进一步优选的，换热组件包括换热器和第一半导体，换热器设置于基座上，第一半导体设置于换热器远离基座的一侧，第一测试板设置于第一半导体远离换热器的一侧。
[0011]更进一步优选的，换热器包括水槽和热沉板，水槽设置于基座上，热沉板设置于水槽上并对水进行导流及密封，第一半导体设置于水槽远离基座的一侧。
[0012]更进一步优选的，第二测试模组包括第一加热组件和第二测试板，第一加热组件设置于基座上，第二测试板设置于第一加热组件上。
[0013]更进一步优选的，第一加热组件包括调节组件、第二半导体和第一电热板，调节组件设置于基座上，第二半导体设置于调节组件上，第一电热板设置于第二半导体靠近基座的一侧，第二测试板设置于第二半导体远离第一电热板的一侧。
[0014]更进一步优选的，调节组件包括第一螺杆、第一滑座、锁紧器和旋转传感器，第一螺杆沿其轴向转动设置于基座上，第一滑座沿第一螺杆轴向滑动设置于基座上并与第一螺杆螺纹啮合，第二半导体设置于第一滑座上，锁紧器设置于基座上，用于对第一螺杆进行锁紧，旋转传感器设置于锁紧器上，用于检测第一螺杆的旋转圈数；
[0015]锁紧器包括卡座、垫圈、轴承和调节杆，卡座设置于基座上且位于第一螺杆的外围，卡座为弹性金属制件，垫圈设置于卡座内，轴承设置于卡座内且与垫圈同轴，调节杆通过螺纹与卡座连接，第一螺杆设置于轴承内且贯穿垫圈。
[0016]更进一步优选的，第三测试模组包括调平组件和第三测试板，调平组件设置于基座上，第三测试板设置于调平组件上且位于第一测试板的上方。
[0017]更进一步优选的，调平组件包括第二加热组件、调平螺母、第二螺杆和第二滑座，第二螺杆沿其轴向转动设置于基座上且相对于第一测试板相互垂直，第二滑座沿第二螺杆轴向滑动设置于基座上并与第二螺杆螺纹啮合，调平螺母设置于第二滑座上，第二加热组件设置于调平螺母上，第三测试板设置于第二加热组件上并配合第一测试板对用户测试器件的相背面进行相抵持。
[0018]更进一步优选的，第二加热组件包括保温箱、隔热板、第三半导体和第二电热板，保温箱设置于调平螺母上，隔热板设置于保温箱上，第三测试板设置于隔热板远离保温箱的一侧，第三半导体设置于第三测试板上且位于保温箱的内部，第二电热板设置于第三半导体远离第三测试板的一侧。
[0019]本技术的相对于现有技术具有以下有益效果：
[0020](1)通过第一测试模组配合第二测试模组使用，从而使得该测试装置便于对水平构造的用户测试器件进行高低温测试，再通过第一测试模组配合第三测试模组使用，从而使得该测试装置便于对垂直构造的用户测试器件进行高低温测试，进而提高了该测试装置的实用性；
[0021](2)通过第一半导体TEC配合换热器对第一测试板进行制冷，从而初步加速第一测试板与换热器之间的热传递效率，再通过水槽配合热沉板对第一半导体TEC进行降温，进一步加速第一半导体TEC与水槽和热沉板内部水的热传递效率，从而提高了该测试装置的低温测试效率；
[0022](3)通过第二半导体TEC配合第一电热板对第二测试板进行加热并对水平构造的用户测试器件进行高温测试，再通过第一螺杆配合第一滑座对第二测试板与第一测试板的水平间距进行调节，使得该测试装置适合不同水平构造的用户测试器件进行高低温测试，同时通过锁紧器配合旋转传感器对第一螺杆进行锁紧及检测调节间距，进而提高了该测试装置的测试效率与测试精度；
[0023](4)通过第二螺杆和第二滑座对第三测试板与第一测试板之间的间距进行初步调节，再通过调平螺母对第三测试板与第一测试板之间的间距及角度进行微调，使得该测试装置适合不同垂直构造的用户测试器件进行高低温测试，同时通过保温箱配合隔热板对第二半导体TEC和第二电热板进行包裹及保温，并降低第三测试板与保温箱之间的热传导，实现高效测试及节能环保的效果。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1为本技术一种可调式高低温温差测试装置的结构正视图；
[0026]图2为本技术一种可调式高低温温差测试装置的结构右上角视图；
[0027]图3为本技术的第一测试模组的结构正视剖面图；
[0028]图4为本技术的第一测试模组的结构左视剖面图；
[0029]图5为本技术一种可调式高低温温差测试装置的结构左上角视图；
[0030]图6为本技术一种可调式高低温温差测试装置的结构左视剖面图；
[0031]图7为本技术一种可调式高低温温差测试装置的结构正视局部剖面图；
[0032]图8为本技术一种可调式高低温温差测试装置的结构后视图；
[0033]图9为本技术一种可调式高低温温差测试装置的结构后视局部剖面图和正视剖面图；
[0034]图10为本技术一种可调式高低温温差测试装置的结构后视剖面图；
[0035]图11为本技术的锁紧器的结构立体图和爆炸图。
具体实施方式
[0036]下面将结合本技术实施本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可调式高低温温差测试装置，其包括基座(1)，其特征在于：还包括第一测试模组(2)、第二测试模组(3)和第三测试模组(4)；第一测试模组(2)，设置于基座(1)上，用于对用户测试器件进行低温测试；第二测试模组(3)，沿第一测试模组(2)的水平延伸方向设置于基座(1)上，用于配合第一测试模组(2)对用户测试器件的同一侧面进行高低温测试；第三测试模组(4)，沿第一测试模组(2)的垂直延伸方向设置于基座(1)上，用于配合第一测试模组(2)对用户测试器件的相背面进行高低温测试。2.如权利要求1所述的一种可调式高低温温差测试装置，其特征在于：第一测试模组(2)包括换热组件(21)和第一测试板(22)，换热组件(21)设置于基座(1)上，第一测试板(22)设置于换热组件(21)上。3.如权利要求2所述的一种可调式高低温温差测试装置，其特征在于：换热组件(21)包括换热器(211)和第一半导体TEC(212)，换热器(211)设置于基座(1)上，第一半导体TEC(212)设置于换热器(211)远离基座(1)的一侧，第一测试板(22)设置于第一半导体TEC(212)远离换热器(211)的一侧。4.如权利要求3所述的一种可调式高低温温差测试装置，其特征在于：换热器(211)包括水槽(a)和热沉板(b)，水槽(a)设置于基座(1)上，热沉板(b)设置于水槽(a)上并对水进行导流及密封，第一半导体TEC(212)设置于水槽(a)远离基座(1)的一侧。5.如权利要求1所述的一种可调式高低温温差测试装置，其特征在于：第二测试模组(3)包括第一加热组件(31)和第二测试板(32)，第一加热组件(31)设置于基座(1)上，第二测试板(32)设置于第一加热组件(31)上。6.如权利要求5所述的一种可调式高低温温差测试装置，其特征在于：第一加热组件(31)包括调节组件(311)、第二半导体TEC(312)和第一电热板(313)，调节组件(311)设置于基座(1)上，第二半导体TEC(312)设置于调节组件(311)上，第一电热板(313)设置于第二半导体TEC(312)靠近基座(1)的一侧，第二测试板(32)设置于第二半导体TEC(312)远离第一电热板(313)的一侧。7.如权利要求6所述的一种可调式高低温温差测试装置，其特征在于：调节组件(31...
【专利技术属性】
技术研发人员：顾勇刚，王晓丽，
申请(专利权)人：武汉中旗光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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