一种建立低剂量率水平辐射质的方法技术

本发明专利技术提供了一种建立低剂量率水平辐射质的方法，包括：使用标准放射源对谱仪进行能量刻度，得到谱仪的道址与标准放射源的能量的转换关系；在标准辐射质下进行电离室刻度，得到标准辐射质的第一刻度系数；将光机的管电压分别设置为多个预设电压值，并在每个预设电压值下，调整管电流，并在多个预设管电流下，在距光机出口预设距离处通过谱仪测量能谱，通过电离室测量剂量率，并从多个待用过滤片中确定附加过滤，使得剂量率不大于预设的剂量率阈值；每个预设电压值对应一个新辐射质；能谱包括能量和计数率；根据计数率和能量，计算每个预设电压值对应的新辐射质的平均能量；根据标准辐射质的第一刻度系数，得到新辐射质的第二刻度系数。系数。系数。

【技术实现步骤摘要】
一种建立低剂量率水平辐射质的方法


[0001]本专利技术涉及辐射测量
，尤其涉及一种建立低剂量率水平辐射质的方法。

技术介绍

[0002]X射线标准辐射质的建立为X射线标准化使用提供参考，辐射质是对X射线注量谱进行描述的一种形式，目前GB12162.1，等同采用ISO4037，中建议的标准X射线辐射质包括低空气比释动能X射线辐射质系列(L系列)，窄谱系列(N系列)，宽谱系列(W系列)，高空气比释动能系列(H系列)。不同系列辐射质的分辨率，空气比释动能范围均不相同，这些辐射质按照增大过滤的顺序为：高空气比释动能系列，宽谱系列，窄谱系列，低空气比释动能系列。这四种系列X射线的剂量率值相对于X/γ射线能谱测量类仪器来说是较高的，难以覆盖10μGy/h以下剂量率级别的应用场景。
[0003]目前全国范围内，在上述标准辐射质条件下，在4～5m处剂量率均不低于5μGy/h，这给X射线低剂量率测量与溯源带来困难。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种建立低剂量率水平辐射质的方法，以解决现有技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种建立低剂量率水平辐射质的方法，其特征在于，所述方法包括：使用标准放射源对谱仪进行能量刻度，得到谱仪的道址与标准放射源的能量的转换关系；在标准辐射质下进行电离室刻度，得到标准辐射质的第一刻度系数；将光机的管电压分别设置为多个预设电压值，并在每个预设电压值下，调整管电流，并在多个预设管电流下，在距光机出口预设距离处通过谱仪测量能谱，通过电离室测量剂量率，并从多个待用过滤片中确定附加过滤，使得剂量率不大于预设的剂量率阈值；每个预设电压值对应一个新辐射质；所述能谱包括能量和计数率；根据所述计数率和所述能量，计算每个预设电压值对应的新辐射质的平均能量；根据所述标准辐射质的第一刻度系数，得到新辐射质的第二刻度系数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，方法之前还包括：确定多个待用过滤片。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定多个待用过滤片具体包括：测量每个过滤片的两个面中的每个面的第一数量个位置的厚度值，得到第二数量个厚度值；所述第二数量为第一数量的两倍；计算第二数量个厚度值的平均值和标准偏差，当所述标准偏差小于等于预设比例阈值时，将所述平均值作为过滤片的厚度，并将所述过滤片作为一个待用过滤片；当所述标准偏差大于预设比例阈值时，剔除所述过滤片。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用标准放射源对谱仪进行能量刻度，得到谱仪的道址与标准放射源的能量的转换关系具体包括：将标准放射源的全能峰位与能谱的道址对应，得到道址与能量的转换关系。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在标准辐射质下进...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄建微，曹蕾，杨扬，李德红，张璇，张晓乐，刘博，成建波，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：