一种测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种测试装置及方法。该测试装置包括：测试主板，与待测试电路板电连接，用于测试待测试电路板的多种状态；其中，状态包括通断状态、脉冲状态、通信状态、继电器状态、阻抗、电压和频率中的至少一种；控制单元，与测试主板电连接，用于控制测试主板对待测试电路板的测试状态，并接收测试主板发送的测试信号，根据测试信号确定待测试电路板的实际状态；适配单元，待测试电路板通过适配单元与测试主板电连接，适配单元用于对待测试电路板和测试主板之间的连接线进行转接。本发明专利技术实施例提供的测试装置及方法，能够实现对待测试电路板的综合测试并提高测试效率及可靠性。电路板的综合测试并提高测试效率及可靠性。电路板的综合测试并提高测试效率及可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置及方法


[0001]本专利技术实施例涉及自动化测试技术，尤其涉及一种测试装置及方法。

技术介绍

[0002]对于电路中的很多控制平台，通常需要通过接口板实现与外部设备的通信。接口板可进行脉冲转换、信号通信等，在实际应用中有着重要作用。若接口板出现如短路、阻断、过流或过压、元件功能失效等问题，则会影响接口板连接的其他设备或器件的通信。因此，需对接口板的功能、特性进行测试。
[0003]目前，现有的测试装置，在对待测试产品如接口板进行测试时，通常需要人工辅助，如由人工确定接口板的通断状态，影响测试可靠性，并且测试装置对接口板的测试功能不完善，没有形成功能综合型测试，无法实现接口板的各项功能的综合检测。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供一种测试装置及方法，以实现对待测试电路板的综合测试并提高测试效率及可靠性。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种测试装置，包括：
[0006]测试主板，与待测试电路板电连接，用于测试待测试电路板的多种状态；其中，状态包括通断状态、脉冲状态、通信状态、继电器状态、阻抗、电压和频率中的至少一种；
[0007]控制单元，与测试主板电连接，用于控制测试主板对待测试电路板的测试状态，并接收测试主板发送的测试信号，根据测试信号确定待测试电路板的实际状态；
[0008]适配单元，待测试电路板通过适配单元与测试主板电连接，适配单元用于对待测试电路板和测试主板之间的连接线进行转接。
[0009]可选的，上述测试装置还包括工控机，测试主板和控制单元集成在工控机，测试主板包括与控制单元电连接的通信测试单元、脉冲测试单元、开关切换单元和参数测试单元中的至少一种。
[0010]可选的，工控机还包括电源板，电源板与控制单元以及测试主板电连接，电源板用于为控制单元以及测试主板供电。
[0011]可选的，上述测试装置还包括上位机，上位机与控制单元通信连接，上位机用于控制控制单元的工作状态，控制单元还用于将测试信号传输至上位机。
[0012]可选的，上述测试装置还包括程控电源，程控电源与待测试电路板电连接，程控电源输出的电压为可调电压。
[0013]可选的，上述测试装置还包括测试线缆，测试线缆用于连接待测试电路板和适配单元，以及连接适配单元与测试主板。
[0014]可选的，适配单元包括多个接口，不同接口用于连接不同的测试线缆，不同的待测试电路板设置有各自对应的测试线缆。
[0015]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种测试方法，测试方法由如第一方面所述的
测试装置中的控制单元执行，测试方法包括：
[0016]控制测试主板对待测试电路板的测试状态；
[0017]接收测试主板发送的测试信号，根据测试信号确定待测试电路板的实际状态。
[0018]可选的，测试装置还包括上位机，上位机与控制单元通信连接，接收测试主板发送的测试信号后，包括：
[0019]将测试信号传输至上位机。
[0020]可选的，控制测试主板对待测试电路板的测试状态，包括：
[0021]接收上位机发送的控制信号，并根据控制信号控制测试主板的测试状态。
[0022]本专利技术实施例提供的测试装置及方法，测试装置包括测试主板、控制单元和适配单元，测试主板与待测试电路板电连接，用于测试待测试电路板的多种状态；其中，状态包括通断状态、脉冲状态、通信状态、继电器状态、阻抗、电压和频率中的至少一种；控制单元与测试主板电连接，用于控制测试主板对待测试电路板的测试状态，并接收测试主板发送的测试信号，根据测试信号确定待测试电路板的实际状态；待测试电路板通过适配单元与测试主板电连接，适配单元用于对待测试电路板和测试主板之间的连接线进行转接。本专利技术实施例提供的测试装置及方法，通过适配单元对待测试电路板和测试主板之间的连接线进行转接，便于待测试电路板与测试主板的连接，实现对待测试电路板的综合测试，节省人力，提高测试效率及可靠性。
附图说明
[0023]图1是本专利技术实施例一提供的一种测试装置的结构框图；
[0024]图2是本专利技术实施例一提供的一种测试装置的结构示意图；
[0025]图3是本专利技术实施例二提供的一种测试方法的流程图；
[0026]图4是本专利技术实施例二提供的一种测试界面的示意图；
[0027]图5是本专利技术实施例二提供的另一种测试方法的流程图。
具体实施方式
[0028]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0029]实施例一
[0030]图1是本专利技术实施例一提供的一种测试装置的结构框图，图2是本专利技术实施例一提供的一种测试装置的结构示意图，参考图1和图2，本实施例可适用于对电路板如接口板进行测试等情况，该测试装置包括：测试主板10、控制单元20和适配单元30。
[0031]其中，测试主板10与待测试电路板40电连接，用于测试待测试电路板40的多种状态；其中，状态包括通断状态、脉冲状态、通信状态、继电器状态、阻抗、电压和频率中的至少一种；控制单元20与测试主板10电连接，用于控制测试主板10对待测试电路板40的测试状态，并接收测试主板10发送的测试信号，根据测试信号确定待测试电路板40的实际状态；待测试电路板40通过适配单元30与测试主板10电连接，适配单元30用于对待测试电路板40和测试主板10之间的连接线进行转接。
[0032]具体的，测试装置对待测试电路板40进行测试时，待测试电路板40通过适配单元30连接至测试功能板即测试主板10，控制单元20控制测试主板10对待测试电路板40进行测试。测试主板10可输出脉冲信号至待测试电路板40，该脉冲信号作为待测试电路板40的输入脉冲信号，待测试电路板40可将输入脉冲信号进行转换，并将转换后的输出脉冲信号传输至测试主板10。测试主板10将测试过程中的测试信号如待测试电路板40输出的脉冲信号传输至控制单元20，控制单元20可根据脉冲信号确定待测试电路板40的脉冲转换功能是否正常即脉冲状态是否正常，待测试电路板40的其他状态如通断状态、通信状态、待测试电路板40上的继电器的通断状态、阻抗、电压和频率等的确定方式与上述确定脉冲状态的方式相似，在此不再赘述。通过上述测试过程，本实施例提供的测试装置可实现对待测试电路板40的各种功能的全自动化测试。由于测试线路复杂，通过设置适配单元30，可实现待测试电路板40和测试主板10之间的连接线的转接，降低线路线缆的复杂度，简化线缆便于待测试电路板40与测试主板10的连接。
[0033]本实施例提供的测试装置，包括测试主板、控制单元和适配单元，测试主板与待测试电路板电连接，用于测试待测试电路板的多种状态；其中，状态包括通断状态、脉冲状态、通信状态、继电器状态、阻抗、电压和频率中的至本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：测试主板，与待测试电路板电连接，用于测试所述待测试电路板的多种状态；其中，所述状态包括通断状态、脉冲状态、通信状态、继电器状态、阻抗、电压和频率中的至少一种；控制单元，与所述测试主板电连接，用于控制所述测试主板对所述待测试电路板的测试状态，并接收所述测试主板发送的测试信号，根据所述测试信号确定所述待测试电路板的实际状态；适配单元，所述待测试电路板通过所述适配单元与所述测试主板电连接，所述适配单元用于对所述待测试电路板和所述测试主板之间的连接线进行转接。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括工控机，所述测试主板和所述控制单元集成在所述工控机，所述测试主板包括与所述控制单元电连接的通信测试单元、脉冲测试单元、开关切换单元和参数测试单元中的至少一种。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述工控机还包括电源板，所述电源板与所述控制单元以及所述测试主板电连接，所述电源板用于为所述控制单元以及所述测试主板供电。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括上位机，所述上位机与所述控制单元通信连接，所述上位机用于控制所述控制单元的工作状态，所述控制单元还用于将所述测试信号传输至所述上位机...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫志红，马向阳，谢再盛，邹未栋，
申请(专利权)人：北京全路通信信号研究设计院集团有限公司，
类型：发明
国别省市：