用于科学级CCD探测器光电性能测试的制冷装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于科学级CCD探测器光电性能测试的制冷装置及方法，包括：传热组件、制冷组件及自动加热组件，传热组件由导热铜条，导热铜板和探测器热敏电阻构成；制冷组件由低温循环机、固定板、对角螺钉、隔热层、进水出水管和铝块换热器构成；自动加热组件由薄膜电加热器、电加热片控制器和铜板热敏电阻构成；导热铜条通过柔性铜带连接导热铜板；铝块换热器与导热铜板间涂导热硅脂以导热安装；铝块换热器通过进出水管与低温循环机连接。本发明专利技术能实现科学级CCD器件光电性能测试过程中的探测器精密控温，并保证探测器工作在较低且稳定的温度环境下，从而降低探测器的热噪声和暗电流。电流。电流。

【技术实现步骤摘要】
用于科学级CCD探测器光电性能测试的制冷装置及方法


[0001]本专利技术涉及一种用于科学级CCD探测器光电性能测试的制冷装置及制冷方法。

技术介绍

[0002]目前，对于科学级CCD探测器进行光电性能测试的精密控温在国内还没有相关的制冷装置，只有在一些生产厂家对CCD器件进行性能标定时对探测器进行制冷，但是生产厂家一般在
‑
30℃环境下对CCD器件进行性能标定。实际应用中一般对CCD器件在室温下进行光电性能测试，且整个测试过程中也无法控制探测器工作温度。
[0003]目前应用于CCD相机的制冷技术包括经典杜瓦瓶制冷和半导体制冷，半导体制冷主要利用依据帕尔贴效应工作的热电制冷器，其优点是无活动部件，结构简单，无噪声，重量轻等，但要求在CCD器件内部封装半导体制冷器，否则无法使用该制冷方式。经典杜瓦瓶制冷采用液氮进行制冷，并采用透光窗口进行密封真空室，可将CCD器件制冷到
‑
120℃～
‑
20℃，但是杜瓦瓶真空室随时间增加而变坏，真空环境保持时间不断变短，必须及时重新抽真空，且杜瓦瓶内本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于科学级CCD探测器光电性能测试的制冷装置，是应用于CCD探测器光电参数测试系统中，所述CCD探测器光电参数测试系统包括：积分球(18)、滤光片(19)、图像采集装置(16)、被测CCD探测器(13)、六自由度调整机构(21)和工控机(22)；所述滤光片(19)放置在所述积分球(18)的球口处用于对积分球光源进行滤光处理；所述被测CCD探测器(13)设置在所述图像采集装置(16)上，用于将积分球的光信号转换为电信号；所述图像采集装置(16)通过六自由度调整机构(21)调整其六个方位，以获取所述被测CCD探测器(13)的图像数据并传送至所述工控机(22)内进行图像实时存储与显示；其特征是，在所述图像采集装置(16)上设置有制冷装置(20)，并包括：传热组件、制冷组件及自动加热组件；所述传热组件设置在图像采集装置(16)的面板上，并由导热铜条(15)、导热铜板(7)、探测器热敏电阻(14)，锁紧螺栓(11)和探测器光阑(12)构成；所述制冷组件由低温循环机(1)、固定板(2)、对角螺钉(3)、隔热层(4)、进水出水管(5)和铝块换热器(6)构成；所述自动加热组件由薄膜电加热器(8)、电加热片控制器(9)和铜板热敏电阻(10)构成；所述被测CCD探测器(13)的背面通过绝缘导热垫设置有导热铜条(15)，所述导热铜条(15)通过柔性铜带连接所述导热铜板(7)；使得所述被测CCD探测器(13)工作时产生的热量通过导热铜条(15)传递到导热铜板(7)上；所述铝块换热器(6)与所述导热铜板(7)之间涂导热硅脂以导热安装，使得导热铜板(7)上热量传递至所述铝块换热器(6)；所述导热铜条(15)与所述探测器光阑(12)之间通过所述锁紧螺栓(11)压紧固定，在所述导热铜条(15)的中间开槽内粘贴有所述探测器热敏电阻(14)，用于采集被测CCD探测器(13)的工作温度；所述图像采集装置(16)的上表面通过固定板(2)和对角螺钉(3)安装有所述隔热层(4)；所述铝块换热器(6)通过所述隔热层(4)隔热安装在图像采集装置(16)的上表面，使得所述图像采集装置(16)和被测CCD探测器(13)之间形成温度隔离；所述导热铜板(7)的横臂上粘贴有所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚萍萍，许孙龙，陈怀军，于新宇，王羿，孙亮，骆冬根，洪津，
申请(专利权)人：中国科学院合肥物质科学研究院，
类型：发明
国别省市：