一种近场高斯波束探针制造技术

本发明专利技术公开了一种近场高斯波束探针，涉及近场探测天线技术领域，包括微波透镜、介质杆和金属激发器，所述介质杆由一根圆柱形介质棒沿其轴线环向切削而成，介质杆构成侧面不连续的两段，介质杆的一段为圆锥形，介质杆的另一段的端口设置有微波透镜，微波透镜和介质杆波导贴合安装，微波透镜为双凸透镜，所述介质杆圆锥端的端面上贴合安装有V形金属激发器，V形金属激发器的开口端面向微波透镜，V形金属激发器构成探针的馈电部分。该近场高斯波束探针，相对于传统的基于自由空间法的电磁参量测量装置来说，测量精度高，同时更加便携，提高了实用性。实用性。实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种近场高斯波束探针


[0001]本专利技术涉及近场探测天线
，具体为一种近场高斯波束探针。

技术介绍

[0002]高斯波束天线经常用于近场探测特别是电磁参量测量技术方面，由于基于自由空间法的电磁参量测量装置具有测量精度高，样本形状要求低和可在各种温度下测量等优点，受到电磁参量领域的喜爱。最年来由于微波材料的不断发展，需要更加集成的电磁参量测量设备，传统的基于自由空间法的电磁参量测量设备已经不能很好的满足工业的生产需求。特别是近年来各种新兴材料层出不穷，迫切需要一种更加便捷集成的电磁参量测量设备，来解决传统基于自由空间法的电磁参量测量装置过于笨重，所占空间大等缺点。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种近场高斯波束探针，以解决上述
技术介绍
中提出的传统基于自由空间法的电磁参量测量装置过于笨重，所占空间大的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种近场高斯波束探针，包括微波透镜、介质杆和金属激发器，所述介质杆由一根圆柱形介质棒沿其轴线环向切削而成，介质杆构成侧面不连续的两段，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种近场高斯波束探针，其特征在于：包括微波透镜、介质杆和金属激发器，所述介质杆由一根圆柱形介质棒沿其轴线环向切削而成，介质杆构成侧面不连续的两段，介质杆的一段为圆锥形，介质杆的另一段的端口设置有微波透镜，微波透镜和介质杆波导贴合安装，微波透镜为双凸透镜，所述介质杆圆锥端的端面上贴合安装有V形金属激发器，V形金属激发器的开口端面向微波透镜，V形金属激发器构成探针的馈电部分。2.根据权利要求1所述的一种近场高斯波束探针，其特征在于：所述微波透镜的顶部凸面的半径为R1＝100mm，底部凸面的半径为R2＝60mm，厚度d＝15mm，焦距f＝63.5mm，折射率n＝1.59，微波透镜的入瞳口径与介质杆的最大直径相同，均为50mm，介质杆的长度为174.5mm，介质杆圆锥端的锥角为10
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【专利技术属性】
技术研发人员：王勇，苏龙其，唐东明，
申请(专利权)人：江苏师范大学，
类型：发明
国别省市：