放射性表面沾污筛查分析方法技术

本发明专利技术属于放射性物质分析技术领域，涉及一种放射性表面沾污的筛查分析方法。所述的分析方法包括如下步骤：(1)使用水溶性聚乙烯醇纤维材料进行放射性表面沾污擦拭采样；(2)将擦拭样品用氢氧化钠溶液完全溶解后加入新配制的氢氧化物沉淀悬浊液，混匀后离心，沉淀经进一步放化分离纯化及制源后，进行全样品分析测量；(3)将擦拭样品用二甲基亚砜溶液溶解，超声波振荡后滤膜过滤，保留滤膜，制源后用于热粒子分析测量。利用本发明专利技术的放射性表面沾污的筛查分析方法，能够快速、高效的分离回收放射性表面沾污擦拭样品上的附着微粒并进行测量。性表面沾污擦拭样品上的附着微粒并进行测量。性表面沾污擦拭样品上的附着微粒并进行测量。

【技术实现步骤摘要】
放射性表面沾污筛查分析方法


[0001]本专利技术属于放射性物质分析
，涉及一种放射性表面沾污的筛查分析方法。

技术介绍

[0002]联合国《不扩散核武器条约》中规定，签约国需要声明其核材料库存及相关核活动，并允许国际原子能机构(IAEA)对这些声明进行独立核查。
[0003]环境放射性表面沾污擦拭采样分析技术(ESSA)是最常见的IAEA核保障核查技术手段之一，其通过放化分析核设施场所内部或外部环境擦拭样品中铀(U)、钚(Pu)同位素比值数据获取核设施运行的指纹信息。根据分析目标和样品放射性水平，ESSA采取两种不同的分析策略：热粒子分析法和全样品分析法。
[0004]热粒子分析法旨在获取擦拭样品中单个核材料热粒子(微米级)中的核素信息，通过裂变径迹技术或扫描电镜电子探针技术有效识别擦拭样品上的核材料颗粒(微米级)后对该粒子进行热电离质谱仪(TIMS)或二次离子质谱仪(SIMS)测量。
[0005]全样品分析法则将擦拭样品上所有采集到的微粒视为整体，将擦拭样品上所有微粒回收并放化分离纯化后进行多接收器等离子体质谱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种放射性表面沾污的筛查分析方法，其特征在于，所述的分析方法包括如下步骤：(1)使用水溶性聚乙烯醇纤维材料进行放射性表面沾污擦拭采样；(2)将擦拭样品用氢氧化钠溶液完全溶解后加入新配制的氢氧化物沉淀悬浊液，混匀后离心，沉淀经进一步放化分离纯化及制源后，进行全样品分析测量；(3)将擦拭样品用二甲基亚砜溶液溶解，超声波振荡后滤膜过滤，保留滤膜，制源后用于热粒子分析测量。2.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于：步骤(1)中，所述的水溶性聚乙烯醇纤维材料为水溶性聚乙烯醇纤维制作的纤维棉、毛毡或纤维纺布。3.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于：步骤(1)中，水溶性聚乙烯醇纤维材料在水中的溶解温度范围为20
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80℃。4.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于：步骤(2)中，所述的氢氧化钠溶液的浓度为0.01<...

【专利技术属性】
技术研发人员：王亚东，马彦，王路生，马莉娜，杨永刚，张辉，宋丽娟，罗茂益，戴雄新，李鹏翔，任晓娜，
申请(专利权)人：中国辐射防护研究院，
类型：发明
国别省市：