一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器制造技术

技术编号:33138667 阅读:12 留言:0更新日期:2022-04-22 13:47
本实用新型专利技术属于管道检测技术领域,具体涉及一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器,包括外壳壳体、永磁体、背衬、磁致伸缩元件、支撑框架、激励线圈、连接器、U形基座以及弹性基座,永磁体位于外壳壳体内部,背衬与磁致伸缩元件上下组合成整体结构,背衬和磁致伸缩元件与永磁体固定连接,支撑框架套设于背衬与磁致伸缩元件的外围,支撑框架包括支撑杆,支撑杆中部内凹,激励线圈套设于支撑框架,连接器设于外壳壳体上端,激励线圈与连接器相连,U形基座设于磁致伸缩元件下端,弹性基座设于U形基座下端,弹性基座开设有M形通槽。弹性基座开设有M形通槽。弹性基座开设有M形通槽。

【技术实现步骤摘要】
一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器


[0001]本技术属于管道检测
,具体涉及一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器。

技术介绍

[0002]自磁致伸缩现象发现以来,各国专家学者对磁致伸缩材料进行了一系列的研究。20世纪中期,学者们开始将磁致伸缩传感器用于导波的检测方面。使用磁致伸缩材料作为传感器的敏感元件,利用传感器高效地监测出钢索中是否有损伤位置的存在。进一步探索研究后,能够应用于一些较薄的管道的缺陷监测。到得研究后期,磁致伸缩导波传感器已经可以在复杂的工况下检测出管道缺陷的具体位置;
[0003]因磁致伸缩材料本身独特的优势,磁致伸缩导波传感器是无损检测领域中的研究热点,作为无损检测领域研究热点的磁致伸缩材料,目前许多的研究重心位于磁致伸缩材料本身的特性,忽略了传感器中除磁致伸缩材料以外的元器件对传感器的影响;现有的一些磁致伸缩传感器一般将激励线圈缠绕在磁致伸缩材料上,但是磁致伸缩元件在工作时会持续振动且发生形变,激励线圈容易松动脱落甚至损坏,从而使检测数据误差增大,影响检测结果。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是:旨在提供一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器,该装置将激励线圈缠绕在支撑框架上不与磁致伸缩元件直接接触,这样不会由于磁致伸缩元件的振动或者形变使激励线圈松动脱落或者损坏,降低了检测数据的误差,并且增加了激励线圈的使用寿命。
[0005]为实现上述技术目的,本技术采用的技术方案如下:
[0006]一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器,包括外壳壳体、永磁体、背衬、磁致伸缩元件、支撑框架、激励线圈、连接器、U形基座以及弹性基座;
[0007]所述永磁体数量为两个且分别位于外壳壳体内部左右两侧,所述背衬与所述磁致伸缩元件上下组合成整体结构,所述背衬和所述磁致伸缩元件的两端分别与两个所述永磁体固定连接;
[0008]所述支撑框架套设于所述背衬与所述磁致伸缩元件的外围,所述支撑框架包括四个支撑杆,各个所述支撑杆中部内凹,所述激励线圈紧密缠绕套设于所述支撑框架的凹陷处,所述激励线圈的左右两端分别与所述支撑框架的凹陷处左右两侧相抵接,所述连接器设于所述外壳壳体上端,所述激励线圈与所述连接器相连,所述U形基座设于所述磁致伸缩元件下端,所述U形基座凹陷处将所述激励线圈下端包围,所述弹性基座设于所述U形基座下端;
[0009]所述弹性基座开设有从前至后的M形通槽。
[0010]所述外壳壳体内部前后两端均开设有放置槽,两个所述永磁体分别粘接在两个所
述放置槽内部。增加了永磁体在外壳壳体内部的稳定性。
[0011]所述激励线圈通过喷涂绝缘漆紧密缠绕在所述支撑框架的凹陷处。使激励线圈在支撑框架上更加稳定,并且提高了绝缘性,防止激励线圈漏电。
[0012]四个所述U形支撑杆均为U形圆杆。防止激励线圈与棱角挤压,影响其导电性能。
[0013]所述M形通槽左右两端均为尖角形状。使M形通槽在闭合时更加地贴合,增加信号传输的稳定性。
[0014]所述支撑杆形状为U形和C形的任意一种。
[0015]由于激励线圈的左右两端分别与支撑框架的凹陷处左右两侧相抵接,从而能将激励线圈稳定固定在四个U形支撑杆的中心凹陷处,并且激励线圈不与磁致伸缩元件直接接触,进一步增加了激励线圈的稳定性,这样降低了检测数据的误差,且增加了激励线圈的使用寿命。
附图说明
[0016]本技术可以通过附图给出的非限定性实施例进一步说明;
[0017]图1为本技术实施例一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器的主视图;
[0018]图2为本技术实施例一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器的右视图;
[0019]图3为本技术实施例一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器的俯视图。
[0020]外壳壳体1、永磁体11、背衬12、磁致伸缩元件13、激励线圈14、连接器15、U形基座16、弹性基座17、M形通槽171、支撑杆21、放置槽22。
具体实施方式
[0021]为了使本领域的技术人员可以更好地理解本技术,下面结合附图和实施例对本技术技术方案进一步说明。
[0022]如图1

3所示,本技术的一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器,包括外壳壳体1、永磁体11、背衬12、磁致伸缩元件13、支撑框架、激励线圈14、连接器15、U形基座16以及弹性基座17;
[0023]永磁体11数量为两个且分别位于外壳壳体1内部左右两侧,背衬12与磁致伸缩元件13上下组合成整体结构,背衬12和磁致伸缩元件13的两端分别与两个永磁体11固定连接;
[0024]支撑框架套设于背衬12与磁致伸缩元件13的外围,支撑框架包括四个支撑杆21,各个支撑杆21中部内凹且形状为U形,激励线圈14紧密缠绕套设于支撑框架的凹陷处,激励线圈14的左右两端分别与支撑框架的凹陷处左右两侧相抵接,连接器15设于外壳壳体1上端,激励线圈14与连接器15相连,U形基座16设于磁致伸缩元件13下端,U形基座16凹陷处将激励线圈14下端包围,弹性基座17设于U形基座16下端;
[0025]弹性基座17开设有从前至后的M形通槽171。
[0026]激励线圈14紧密缠绕在四个支撑杆21所组成的支撑框架外围,且激励线圈14缠绕处在四个支撑杆21的中心凹陷处,激励线圈14的左右两端分别与支撑框架的凹陷处左右两侧相抵接,这样能将激励线圈14稳定固定在四个支撑杆21的中心凹陷处,并且激励线圈14不与磁致伸缩元件13直接接触,进一步增加了激励线圈的稳定性,这样降低了检测数据的
误差,且增加了激励线圈14的使用寿命;由于激励线圈14不再与磁致伸缩元件13直接接触,从而降低了激励线圈14与连接器15连接处的晃动,使激励线圈14与连接器15之间的连接更加稳定,提高了检测的稳定性;U形基座16两端与磁致伸缩元件13下端连接,弹性基座17设于U形基座16下端,磁致伸缩元件13的振动通过U形基座16与弹性基座17传递给管道,U形基座16凹陷处将激励线圈14下端包围,防止激励线圈14受到外部挤压变形或者损坏,U形基座16起到了传导振动信号并且保护激励线圈14的作用;弹性基座17内部开设有从前至后的M形通槽171,因为M形通槽171存在,弹性基座17下侧的中心处的厚度会比弹性基座17下侧的左右两侧薄,当弹性基座17下端与管道接触时,弹性基底17下端中心处会先向内部凹陷,这样保证了在安装该装置时,该装置与管道的接触部位在弹性基底17下端的中心处,使弹性基底17与管道的接触面积最大,并且当弹性基底17下端向上挤压后,M形通槽171会闭合,让振动信号稳定传输,这样便于人们使用且信号传输稳定。
[0027]本技术提供一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器,该装置将激励线圈缠绕在支撑框架上不与磁致伸缩元件直接接触,这样不会由于磁致伸缩元件的振动或者形变使激励线圈松动脱落或者损坏,降低了检测数据的误差,本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于无损检测的磁致伸缩导波传感器,其特征在于:包括外壳壳体、永磁体、背衬、磁致伸缩元件、支撑框架、激励线圈、连接器、U形基座以及弹性基座;所述永磁体数量为两个且分别位于外壳壳体内部左右两侧,所述背衬与所述磁致伸缩元件上下组合成整体结构,所述背衬和所述磁致伸缩元件的两端分别与两个所述永磁体固定连接;所述支撑框架套设于所述背衬与所述磁致伸缩元件的外围,所述支撑框架包括四个支撑杆,各个所述支撑杆中部内凹,所述激励线圈紧密缠绕套设于所述支撑框架的凹陷处,所述激励线圈的左右两端分别与所述支撑框架的凹陷处左右两侧相抵接,所述连接器设于所述外壳壳体上端,所述激励线圈与所述连接器相连,所述U形基座设于所述磁致伸缩元件下端,所述U形基座凹陷处将所述激励线圈下端包围,所述弹性基座设于...

【专利技术属性】
技术研发人员:霍景润卢全国蔡畅黄永东刘锦锋李志豪
申请(专利权)人:南昌工程学院
类型:新型
国别省市:

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