提升芯片启动可靠性的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种提升芯片启动可靠性的方法及装置，所述方法包括将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；在芯片上电后，BootRoom运行；从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。本发明专利技术的有益效果在于：避免了由于数据读取错误导致的芯片启动失败问题，提高了芯片启动的可靠性。启动的可靠性。启动的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
提升芯片启动可靠性的方法及装置


[0001]本专利技术涉及芯片启动
，尤其是指一种提升芯片启动可靠性的方法及装置。

技术介绍

[0002]芯片启动一般分为三个步骤：bootrom启动，加载bootloader；运行bootloader加载固件和运行固件。一般Bootloader和固件都是存储在非易失性存储介质Nand Flash里，而由于Nand Flash的特性，当BootRom从Nand Flash里加载某个page数据的时候，可能会出现bit反转，从而导致启动失败。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种提升芯片启动可靠性的方法及装置。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种提升芯片启动可靠性的方法，包括，
[0005]将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；
[0006]在芯片上电后，BootRoom运行；/>[0007]从非本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：包括，将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；在芯片上电后，BootRoom运行；从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。2.如权利要求1所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中具体包括：分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；给每份有效数据生成一个对应的校验码；分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。3.如权利要求2所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码。4.如权利要求1所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复具体包括：从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据；判断读取的Bootloader编译数据是否异常；若正常，则运行Bootloader编译数据；若异常，则通过校验码恢复Bootloader编译数据后运行Bootloader编译数据。5.如权利要求4所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据具体包括：从非易失性存储介质中读取FW编译数据；判断读取的FW编译数据是否异常；若正常，则运行FW编译数据；若异常，则通过校验码恢复FW编译数据后运行FW编译数据。6.一种提升芯片启动可靠性的装置，其特征在于：包括，编译数据处理模块，将Boo...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭亚飞，臧鑫，贾宗铭，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：