估计来自未知源的背景辐射制造技术

实施方案包括一种方法，包括：接收从辐射检测器获得的所测量的辐射，所述辐射检测器接收穿过对象的辐射；模拟从所述辐射检测器获得的所测量的辐射，所述辐射检测器接收穿过所述对象的辐射；基于所测量的辐射和所模拟的测量辐射来生成偏移；基于所述偏移来估计散射辐射；以及基于所估计的散射辐射来估计主要辐射。射。射。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】估计来自未知源的背景辐射

技术介绍

[0001]除非本文另有指示，否则本部分中描述的方法不是本公开中的权利要求的现有技术，并且不通过包括在本部分中而被承认是现有技术。
[0002]一些x射线成像可以使用宽区域锥形束。x射线检测器可以检测主辐射和散射辐射两者。散射辐射可在图像或重建中引入伪影。
附图说明
[0003]图1是根据一些实施方案的成像系统的框图。
[0004]图2A
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图2B是根据一些实施方案的具有散射校正的图像处理技术的流程图。
[0005]图3是根据一些实施方案的具有散射校正的图像处理技术中的增益估计的流程图。
[0006]图4是根据一些实施方案的具有散射校正的图像处理技术中的多遍增益估计的流程图。
[0007]图5是根据一些实施方案的在具有散射校正的图像处理技术中使用感兴趣区域的多遍增益估计的流程图。
[0008]图6是根据一些实施方案的具有散射校正的图像处理技术中的偏移估计的流程图。
[0009]图7是根据一些其他实施方案的具有散射校正的图像处理技术中跨子区域的偏移本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种方法，其包括：接收从辐射检测器获得的所测量的辐射，所述辐射检测器接收穿过对象的辐射；模拟从所述辐射检测器获得的所述所测量的辐射，所述辐射检测器接收穿过所述对象的辐射；基于所述所测量的辐射和所模拟的测量辐射来生成偏移；基于所述偏移来估计散射辐射；以及基于所估计的散射辐射来估计主要辐射。2.如权利要求1所述的方法，其还包括：基于所述所测量的辐射和所述所模拟的测量辐射来生成增益；其中估计所述散射辐射还包括基于所述增益和所述偏移来估计所述散射辐射。3.如权利要求2所述的方法，其还包括：基于所述增益、所述偏移和所述所模拟的测量辐射的所模拟的散射辐射分量生成所述所估计的散射辐射；以及基于所述所估计的散射辐射和所述所测量的辐射生成所估计的主要辐射。4.如权利要求2
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3中任一项所述的方法，其还包括：将多项式拟合到所述所测量的辐射的像素值的第一向量与所述所模拟的测量辐射的像素值的第二向量；以及基于所述多项式生成所述增益。5.如权利要求4所述的方法，其中：所述增益是所述多项式的线性项。6.如权利要求5所述的方法，其中：所述多项式至少是二阶多项式。7.如权利要求2
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3中任一项所述的方法，其还包括：将第一多项式拟合到所述所测量的辐射的像素值的第一向量与所述所模拟的测量辐射的像素值的第二向量；减小所述第一向量的大小和所述第二向量的大小以移除所述第一多项式的误差大于阈值的像素值；将第二多项式拟合到减小的第一向量与减小的第二向量；以及基于所述第二多项式生成所述增益。8.如权利要求2
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3中任一项所述的方法，其还包括：调整所述所测量的辐射和/或所述所模拟的测量辐射的大小，使得所述所测量的辐射和所述所模拟的测量辐射具有相同的分辨率；确定所述所测量的辐射的感兴趣区域；生成值小于第一阈值的所述感兴趣区域中所述所测量的辐射的像素值的第一向量；生成对应于所述第一向量的所述所模拟的测量辐射的像素值的第二向量；将第一多项式拟合到所述第一向量与所述第二向量；从所述第一向量和所述第二向量中移除所述第一多项式的相对误差大于第二阈值的像素值；将第二多项式拟合到所述第一向量与所述第二向量的其余像素值；
其中所述增益包括所述第二多项式的线性项；从所述所测量的辐射的多个子区域中的每一个子区域生成包括最小值的第三向量；平滑所述第三向量以生成第四向量；将所述第四向量按照大于1的值缩放以生成第五向量；以及生成偏移矩阵作为所述偏移，其中针对所述所测量的辐射的每个子区域的每个像素：如果所述像素的值低于与所述子区域相关联的所述第五向量的值，则所述偏移矩阵的对应像素的值是所述所测量的辐射的所述像素值与按照所述增益缩放的所述所模拟的测量辐射的对应像素的像素值之差；以及针对其他像素，基于所述子区域的所述偏移矩阵的其他像素生成所述偏移矩阵的对应像素的值。9.如权利要求2
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3中任一项所述的方法，其还包括：选择所述所测量的辐射和所述所模拟的测量辐射的像素，其中每个像素值元组具有高于阈值的欧几里德量值；基于所选择的像素生成中间增益；以及基于所述偏移和所述第二中间增益来生成所述增益。10.如权利要求2
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3中任一项所述的方法，其还包括：基于所述所测量的辐射的最大值和所述所模拟的测量辐射的最大值来生成第一中间增益；将所述所模拟的测量辐射归一化为具有所述第一中间增益的所述所测量的辐射；针对每个像素计算归一化的所模拟的测量辐射和所测量的辐射的欧几里德量值；选择所述所测量的辐射和所述所模拟的测量辐射的第一像素，所述第一像素对应于欧几里德量值高于第一阈值的所述归一化的所模拟的测量辐射和所测量的辐射的像素；基于所述所测量的辐射和所述所模拟的测量辐射的所选择的第一像素来生成第二中间增益；选择所述所测量的辐射和所述所模拟的测量辐射的第二像素，所述第二像素对应于量值低于第二阈值的所述归一化的所模拟的测量辐射和所测量的辐射的像素；基于所述所测量的...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙明山，J，
申请(专利权)人：万睿视影像有限公司，
类型：发明
国别省市：