本发明专利技术实施例公开了一种检测装置及其检测方法,该检测装置包括:检测阵列,包括m*n个检测单元;行扫描电路和m条扫描信号线,一条扫描信号线电连接一行检测单元的控制端,行扫描电路用于给m条扫描信号线分时提供扫描信号;列检测电路、n条第一信号线和n条第二信号线,一条第一信号线电连接一列检测单元的第一端,一条第二信号线电连接一列检测单元的第二端,列检测电路用于给n条第一信号线提供第一检测信号,且通过多个第二信号线同时获得一行多个检测单元的第二检测信号。本发明专利技术实施例中,检测装置可实现多位点批量检测,提高检测效率。提高检测效率。提高检测效率。
【技术实现步骤摘要】
一种检测装置及其检测方法
[0001]本专利技术实施例涉及样本检测
,尤其涉及一种检测装置及其检测方法。
技术介绍
[0002]在生命科学研究、生物医学工程、医疗保健、食品加工、环境监测等领域,生化指标检测装置有着广阔的应用前景。
[0003]现有的生化指标检测装置多使用离子敏场效应晶体管,离子敏场效应晶体管的栅极表面具有一离子敏感膜,该离子敏感膜可直接与被测溶液中离子接触产生反应,进而检测被测溶液的多项生化指标。
[0004]然而,现有的检测装置的检测效率过低。
技术实现思路
[0005]本专利技术实施例提供一种检测装置及其检测方法,以解决现有样本检测效率低的问题。
[0006]本专利技术实施例提供了一种检测装置,包括:
[0007]检测阵列,包括m*n个检测单元;
[0008]行扫描电路和m条扫描信号线,一条所述扫描信号线电连接一行所述检测单元的控制端,所述行扫描电路用于给所述m条扫描信号线分时提供扫描信号;
[0009]列检测电路、n条第一信号线和n条第二信号线,一条所述第一信号线电连接一列所述检测单元的第一端,一条所述第二信号线电连接一列所述检测单元的第二端,所述列检测电路用于给所述n条第一信号线提供第一检测信号,且通过多个所述第二信号线同时获得一行多个所述检测单元的第二检测信号。
[0010]本专利技术实施例还提供了一种检测装置的检测方法,如上所述的检测装置的检测方法包括:S帧数据采集页,S大于或等于1;
[0011]在一帧所述数据采集页,所述行扫描电路逐行给所述m条扫描信号线提供扫描信号,且所述列检测电路给所述n条第一信号线提供第一检测信号;所述列检测电路通过多个所述第二信号线同时获得一行多个所述检测单元的第二检测信号;
[0012]所述检测方法还包括检测阶段,检测阶段包括至少一帧所述数据采集页,在检测阶段,根据所述检测单元的第一检测信号、第二检测信号和预设阈值电压,计算所述检测单元的阈值漂移量。
[0013]本专利技术实施例中,行扫描电路通过m条扫描信号线控制m行检测单元分时扫描,在一行检测单元的检测阶段,行扫描电路通过扫描信号线给该行检测单元提供有效扫描信号以使其同时导通,列检测电路通过n条中多条第一信号线给一行中多个检测单元的第一端提供第一检测信号,再通过多个第二信号线同时获得一行中多个检测单元第二端的第二检测信号。本专利技术实施例中,检测装置通过测试检测单元的扫描信号、第一检测信号和第二检测信号,可确定检测单元的电参数变化,根据检测单元的电参数变化可对该检测单元所在
位点的样本进行检测,实现了对液体等样本的多位点批量检测,提高了检测效率。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图虽然是本专利技术的一些具体的实施例,对于本领域的技术人员来说,可以根据本专利技术的各种实施例所揭示和提示的器件结构,驱动方法和制造方法的基本概念,拓展和延伸到其它的结构和附图,毋庸置疑这些都应该是在本专利技术的权利要求范围之内。
[0015]图1是本专利技术实施例提供的一种检测装置的示意图;
[0016]图2为检测单元的示意图;
[0017]图3是本专利技术实施例提供的另一种检测装置的示意图;
[0018]图4为本专利技术实施例提供的检测信号示意图;
[0019]图5是本专利技术实施例提供的又一种检测装置的示意图;
[0020]图6为本专利技术实施例提供的另一种检测信号示意图;
[0021]图7是本专利技术实施例提供的又一种检测装置的示意图;
[0022]图8是本专利技术实施例提供的又一种检测装置的示意图;
[0023]图9是本专利技术实施例提供的又一种检测装置的示意图;
[0024]图10是本专利技术实施例提供的一种检测装置的检测方法的示意图;
[0025]图11是本专利技术实施例提供的另一种检测装置的检测方法的示意图;
[0026]图12为检测单元在自校准阶段的曲线示意图;
[0027]图13为检测单元在检测阶段的曲线示意图;
[0028]图14是本专利技术实施例提供的又一种检测装置的检测方法的示意图。
具体实施方式
[0029]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚,以下将参照本专利技术实施例中的附图,通过实施方式清楚、完整地描述本专利技术的技术方案,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例所揭示和提示的基本概念,本领域的技术人员所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0030]参考图1所示,为本专利技术实施例提供的一种检测装置的示意图。如图1所示,本实施例提供的检测装置包括:检测阵列10,包括m*n个检测单元11;行扫描电路20和m条扫描信号线21,一条扫描信号线21电连接一行检测单元11的控制端c,行扫描电路20用于给m条扫描信号线21分时提供扫描信号;列检测电路30、n条第一信号线31和n条第二信号线32,一条第一信号线31电连接一列检测单元11的第一端a,一条第二信号线32电连接一列检测单元11的第二端b,列检测电路30用于给n条第一信号线31提供第一检测信号,且通过多个第二信号线32同时获得一行多个检测单元11的第二检测信号。
[0031]本实施例中,检测装置可沉浸在液体中,那么检测阵列10可用于对液体中不同位点进行批量检测。或者,检测装置上可滴入多个液滴,那么检测阵列10可用于对不同液滴进行批量检测。可以理解,检测装置可应用在各种样品检测中,以此实现多位点检测。
[0032]检测装置包括m*n个检测单元11,m和n均为正整数,且m*n大于或等于2。检测单元
11包括控制端c、第一端a和第二端b。扫描信号线21电连接检测单元11的控制端c,若扫描信号线21输出有效扫描信号,则扫描信号线21通过检测单元11的控制端c控制检测单元11的第一端a和第二端b导通,若扫描信号线21输出无效扫描信号,则扫描信号线21通过检测单元11的控制端c控制检测单元11的第一端a和第二端b断开。一条扫描信号线21与一行检测单元11的控制端c电连接,用于控制该行中各检测单元11同时导通或同时关断。行扫描电路20用于给m条扫描信号线21分时提供扫描信号,可选行扫描电路20逐行给m条扫描信号线21分时提供扫描信号,例如按照图示从上到下的顺序逐行进行扫描,可以理解,行扫描电路的扫描方式可以是逐行扫描也可以是隔行扫描,不进行具体限定。
[0033]第一信号线31电连接一列检测单元11中各检测单元11的第一端a,第二信号线32电连接一列检测单元11中各检测单元11的第二端b,列检测电路30用于给n条第一信号线31提供第一检测信号,且通过多个第二信号线32同时获得一行多个检测单元11的第二检测信号。显然,扫描信号线21控制检测单元11的第一端a和第二端b导通时,列检测电路30通过第一信号线31给检测单本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测装置,其特征在于,包括:检测阵列,包括m*n个检测单元;行扫描电路和m条扫描信号线,一条所述扫描信号线电连接一行所述检测单元的控制端,所述行扫描电路用于给所述m条扫描信号线分时提供扫描信号;列检测电路、n条第一信号线和n条第二信号线,一条所述第一信号线电连接一列所述检测单元的第一端,一条所述第二信号线电连接一列所述检测单元的第二端,所述列检测电路用于给所述n条第一信号线提供第一检测信号,且通过多个所述第二信号线同时获得一行多个所述检测单元的第二检测信号。2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述列检测电路包括1个第一检测信号端和n个第二检测信号端;所述第一检测信号端电连接所述n条第一信号线,用于同时给所述n条第一信号线提供所述第一检测信号;一个所述第二检测信号端电连接一条所述第二信号线,用于采集所述第二信号线的第二检测信号。3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述行扫描电路提供给所述扫描信号线的扫描信号为锯齿波信号。4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,所述检测单元包括N型场效应晶体管,且所述N型场效应晶体管具有大于0V的标准阈值电压V
TH
;所述锯齿波信号从V
GL
升至V
GH
,其中,所述V
GL
小于或等于0V,且所述V
GH
大于所述V
TH
。5.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,所述检测单元包括P型场效应晶体管,且所述P型场效应晶体管具有小于0V的标准阈值电压V
TH
;所述锯齿波信号从V
GH
降至V
GL
,其中,所述V
GH
小于或等于0V且大于所述V
TH
,所述V
GL
小于所述V
TH
。6.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测单元包括双栅离子敏感场效应晶体管;所述双栅离子敏感场效应晶体管包括控制端、输入端和输出端,所述双栅离子敏感场效应晶体管的控制端电连接所述扫描信号线,该输入端电连接所述第一信号线,且该输出端电连接所述第二信号线。7.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述列检测电路提供给所述第一信号线的第一检测信号为恒定直流信号。8.根据权利要求7所述的检测装置,其特征在于,所述检测单元包括N型场效应晶体管,所述恒定直流信号大于所述N型场效应晶体管...
【专利技术属性】
技术研发人员:章凯迪,林柏全,蒋慧慧,李伟,白云飞,粟平,席克瑞,秦锋,
申请(专利权)人:上海天马微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。