来自模式选择调谐器的光学反馈制造技术

一种与离散光束频率可调谐激光器相关使用的模式监控系统提供可用于调节该激光器或与使用激光器相关联的其它处理的光学反馈。例如，频移干涉仪的频率可调谐源的输出可监控来支持更加精确的干涉数据的获取或处理。用于进行由测量光束不同部分传输通过的光程长度差的所需测量的第一干涉仪可联系于用于进行测量光束自身测量的第二干涉仪。附加干涉数据可根据本发明专利技术解释以提供光束频率和强度的测量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及光学反馈系统，包括用于获取用于调节相关光源输出的信息或者用于处理相关于测量光束特征的干涉数据的光束监视器。例如，测量光束的频率和强度信息可从对与其它干涉数据相比很明显的相位变化的测量而获得。使用频移干涉仪的可调谐源，对于使用频率和强度信息存在特定实用性。
技术介绍
尤其是频移干涉仪的干涉仪基于有关用于解释干涉信息的测量光束频率的假设。例如，干涉图案通常通过将强度信息转换成测量光束干涉部分之间的以2π相位为模的偏移而一个像素一个像素地解释。然后将相位的角度测量转换成作为测量光束波长的分数部分的距离的测量。频移干涉仪通过在不同的测量光束频率处产生的连续干涉图案，将干涉图案的光强信息转换成距离的测量。像素强度数据根据测量光束频率的变化以对应于测量光束干涉部分之间的距离偏移的不同速率波动。计算通常假设连续干涉图案通过相等间隔的测量光束频率产生，且测量准确度取决于该假设的正确性。测量准确度也取决于不同测量光束总光强不变的假设。
技术实现思路
本专利技术在一个或多个其较佳实施方式中监控干涉仪的测量光束以支持对精确干涉数据的获取或处理。除了用于对由测量光束不同部分经过的光程长度差进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于激光器的模式监控系统，包括：所述激光器的激射腔，它具有定义得到放大的一系列额定光束频率模式的第一光程长度；调谐器，用于在所述额定光束频率模式之间增量改变所述激光器的输出；测量腔，它光学连接于所述激射腔并具有额定地分开第二光程长度的参考表面，所述第二光程长度定义与所述额定光束频率模式之间的预期频率间隔相关的自由光谱范围；以及探测器，它接收干涉图案形式的来自所述测量腔的输出，用于检测从所述激光器输出的所述光束频率之间的相位偏移变化。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：TJ邓恩，NO法米加，AW库拉维克，JC马龙，
申请(专利权)人：康宁股份有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]