一种深度测量装置以及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种深度测量装置以及方法，深度测量装置包括第一测量件以及用于固定第一测量件的支撑座；所述支撑座上设有与第一测量件相配合的导轨；所述导轨的方向可调，以使所述导轨与待测量工件的孔道平行，所述导轨的位置可调，以使导轨的延长线与待测量工件孔道的最低点相交；所述第一测量件上设有第一刻度线，所述支撑座上设有第二测量件，所述第二测量件上设有第二刻度线，所述第二刻度线与第一刻度线平行且第二刻度线靠近第一刻度线；还包括用于固定支撑座的支撑架，所述支撑架与待测量工件的开口面接触，所述支撑架与待测量工件开口面的所有接触点形成的平面与支撑架平行。开口面的所有接触点形成的平面与支撑架平行。开口面的所有接触点形成的平面与支撑架平行。

【技术实现步骤摘要】
一种深度测量装置以及方法


[0001]本专利技术属于测量装置
，具体地说涉及一种深度测量装置以及方法。

技术介绍

[0002]在军工领域中使用的工件，需要具有良好的透波性能，其中，工件头部对透波性能的影响是最大的，因此需要测量工件的内部深度，进而判断工件的设计是否合理，是否满足透波要求。
[0003]对于测量工件的内深，现有技术最常用的设备是三坐标测量仪和三维相机。但由于三坐标测量臂有一定的宽度，无法测量细长形工件的内部深度，三维相机受本身尺寸的影响，无法测量直径小于相机直径的细长形工件。所以目前还没有合适的设备能够精确测量细长形工件的内深。

技术实现思路

[0004]第一方面，针对上述问题，本专利技术设计了一种深度测量装置，包括第一测量件以及用于固定第一测量件的支撑座；所述支撑座上设有与第一测量件相配合的导轨；所述导轨的方向可调，以使所述导轨与待测量工件的孔道平行，所述导轨的位置可调，以使导轨的延长线与待测量工件孔道的最低点相交；
[0005]所述第一测量件上设有第一刻度线，所述支撑座上设有第二测量件，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种深度测量装置，其特征在于，包括第一测量件以及用于固定第一测量件的支撑座；所述支撑座上设有与第一测量件相配合的导轨；所述导轨的方向可调，以使所述导轨与待测量工件的孔道平行，所述导轨的位置可调，以使导轨的延长线与待测量工件孔道的最低点相交；所述第一测量件上设有第一刻度线，所述支撑座上设有第二测量件，所述第二测量件上设有第二刻度线，所述第二刻度线与第一刻度线平行且第二刻度线靠近第一刻度线；还包括用于固定支撑座的支撑架，所述支撑架与待测量工件的开口面接触，所述支撑架与待测量工件开口面的所有接触点形成的平面与支撑架平行。2.根据权利要求1所述的一种深度测量装置，其特征在于，所述支撑架上设有第一杆体和第二杆体，所述第一杆体和第二杆体平行设置，且第一杆体和第二杆体所在的平面与支撑架平行，所述第一杆体和第二杆体上分别套设有第一套件和第二套件，所述第一套件与第一杆体滑动连接，所述第二套件与第二杆体滑动连接，所述第一套件、第二套件与支撑座连接。3.根据权利要求2所述的一种深度测量装置，其特征在于，还包括第三杆体和第四杆体，所述第三杆体的两端分别连接第一套件和第二套件并垂直于第一套件，所述第四杆体的两端分别连接第一套件和第二套件并垂直于第一套件，所述第三杆体和第四杆体所在的平面与第一杆体和第二杆体所在的平面平行或重合，所述第三杆体和第四杆体上分别套设有第三套件和第四套件，所述第三套件与第三杆体滑动连接，所述第四套件与第四杆体滑动连接。4.根据权利要求3所述的一种深...

【专利技术属性】
技术研发人员：石江，韦其红，栾强，王洪升，翟萍，高文秋，刘小俊，刘玉建，苏通，
申请(专利权)人：山东工业陶瓷研究设计院有限公司，
类型：发明
国别省市：