【技术实现步骤摘要】
一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质
[0001]本专利技术涉及电子设计自动化领域，尤其涉及一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质。
技术介绍
[0002]在集成电路
，芯片在交付代工厂制造之前，通常要经过一系列的验证，以保证制造出的芯片能够满足设计要求。随着集成电路系统设计规模的增大，芯片验证为保证芯片的质量变得越来越重要。为此，不仅大量的测试用例被用于对待测设计进行更加充分的验证，还通过对未通过的测试用例(failed case)反复进行回归测试分析以便发现更多的设计缺陷，或者通过重复回归测试确认最新的设计代码修改不会影响设计原有的功能等。
[0003]为了提高验证中回归测试的仿真速度和节约硬盘资源，项目开展过程中进行的回归测试一般是不生成波形的。然而由于待测设计和环境的缺陷，特别是在项目初期，会有大量的测试用例验证不通过，这就意味着验证人员需要花费大量的时间和精力在回归测试failed case的分析调试上。而对测试用例的分析调试主要是通过分析仿真日志和查看波形文件进行的，这就需要加载大量的fa...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：获取已运行结束的测试用例对应的仿真日志；从所述仿真日志中获取验证未通过的测试用例的错误信息，并根据所述错误信息对验证未通过的所述测试用例进行分类，得到对应的错误类型和每种错误类型下的测试用例，以从每种错误类型下的测试用例中选择一部分，生成仿真波形。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述仿真日志中获取验证未通过的测试用例的错误信息，并根据所述错误信息对验证未通过的所述测试用例进行分类包括：根据每个所述测试用例的仿真日志中是否含有第一关键字，确定所述测试用例是否验证通过；响应于所述测试用例验证未通过，确定所述测试用例为未通过用例；从所述未通过用例对应的仿真日志中获取所述错误信息，并根据所述错误信息对所述未通过用例进行分类。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述未通过用例对应的仿真日志中获取所述错误信息，并根据所述错误信息对所述未通过用例进行分类包括：根据第二关键字，从所述仿真日志中提取每个所述未通过用例对应的错误信息；比对各所述未通过用例对应的错误信息，以将所述错误信息的相似度符合预设条件的各所述未通过用例，划分为同一种错误类型。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述错误信息包括错误原因、报错模块、相关数字；所述比对各所述未通过用例对应的错误信息，以将所述错误信息的相似度符合预设条件的各所述未通过用例，划分为同一种错误类型包括：比对各所述未通过用例对应的错误信息，以将所述错误原因和所述报错模块均相同的各所述未通过用例，划分为同一种错误类型。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述得到对应的错误类型和每种错误类型下的测试用例之后，所述方法还包括：确定每种错误类型下的测试用例的用例数量；根据所述用例数量，对各所述错误类型的严重程度分级。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述仿真日志中获取验证未通过的测试用例的错误信息，并根据所述错误信息对验证未通过的所述测试用例进行分类之后，所述方法还包括：为每种所述错误类型生成对应的验证报告；将所述验证报告向预先指定的负责人发送，所述负责人与所述错误类型相对应。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述验证报告包括以下至少一项：验证通过率、所述错误类型下的测试用例的用例数量、所述错误类型下各测试用例所属的电路模块、所述错误类型对应的负责人、所述错误类型的严重程度、所述错误类型下待分析测试用例的重运行命令。8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述从所述仿真日志中获取验证未通过的测试用例的错误信息，并根据所述错误信息对验证未通过的所述测试用例进行分类，得到对应的错误类型和每种错误类型下的测试用例之后，所述方法还包括：
根据预先配置的选择参数，分别从每种错误类型下的测试用例中选择至少一个测试用例作为待分析测试用例；从所述待分析测试用例的仿真日志中，获取上一次使用所述待分析测试用例仿真时所使用的仿真种子；根据所述仿真种子重新运行所述待分析测试用例，并加载所述待分析测试用例的仿真波形。9.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：日志获取单元，用于获取已运行结束的测试用例对应的仿真日志；分类单元，用于从所述仿真日志中获取验证未通过的测试用例的错误信息，并根据所述错误信息对验证未通过的所述测试用例进行分类，得到对应的错误类型和每种错误类型下的测试用例，以从每种错误类型下的...
【专利技术属性】
技术研发人员：王飞，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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